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光学表面检测的理论依据
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光学表面检测的理论依据
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易水河
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发表于: 2007-08-25
各位大侠:
C} |O#"t^\
在光学冷加工车间来判断光学表面是否符合要求,一般采用挤压法来判断。
Y'\3ux0]4'
在有些书中用平面干涉仪来判断。见附件图示。请问,这种根据干涉条纹的形状判断待测面是凸还是凹有什么理论依据?
H74NU_
谢谢!
附件:
利用平面检测仪检测光学表面.rar
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zcg_hit
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marker
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lblovegf
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4楼
发表于: 2007-10-29
好好看看物理光学中的 干涉原理啊、、、
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tianya9699
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5楼
发表于: 2007-11-05
干涉就是这样形成的。
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leeyan
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6楼
发表于: 2007-11-28
就是看高低光圈嘛
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ddm
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7楼
发表于: 2007-11-28
这个纯粹是干涉原理 , 与待测物是凹是凸 , 并没有差异 .
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anttyzhou
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8楼
发表于: 2007-11-28
光线照射到B面上时,由于是凹面,光程长,为了等光程,只有向d0较小的方向偏移.因此展现出了上图的弯曲.
."#jN><t
同理,如果B面是凸面,光程短,为了等光程,只有向d0较大的方向偏移.因此展现出了(b)图的条纹
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xiaonaigao
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9楼
发表于: 2008-01-19
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