传统意义上，Essential Macleod的设计是由一系列完全干涉的
薄膜组成，并只在基板的一侧形成膜层。而Stack是由一组膜层和基板组成，基板的两个面是平行的，以便在相同材料中传播角度相同。Stack中，膜层被介质（或基底）分开，介质（或基底）由其材料和厚度定义。入射介质和出射介质是半无限的，但其它介质的厚度都是有限的。另一方面，膜层是继续支持完全一致性，即完全干涉。这通常是真实膜层和基底的情况，即考虑基板后表面反射或者镀膜的情况。
Hp[i8PJ Tt4Q|"CJA 为什么介质或基板不支持干涉？这是一个
系统问题。基板的厚度通常以毫米而不是
纳米来测量，因此路径差异非常长。入射角、
波长和厚度的微小变化，虽然对路径差异的比例效应很小，但对它们所代表的相位变化有很大影响，因为许多波长都涉及到这些路径差异。当各种
光线组合在一起时，干涉条纹会被冲掉，只留下总的辐照度。在单个设计文档时，我们总是假设使用完全准直的单色光，其中入射角和波长变化的相应影响通常很小，可以忽略不计，从而在设计中存在完全相干效应。
jtgj h\Nt 图1.基板足够厚时，无需考虑干涉效应。如果考虑基板的干涉，要将基板看成一层薄膜，而整个系统看作一个膜系
:"cKxd S2>$ S^[U 另一个问题是，如果角度或波长的变化仍然较大，即使设计中的层也显示出减少的干涉效应，那么会发生什么，什么叫做部分相干？此工具存在于Stack文档中。计算
参数包括光中缺少准直性（以圆锥半角表示）和缺少单色性（以
光谱带宽表示）的影响。这些在Design文档中不可用（除非在Stack中设置，稍后将介绍）。
Vz e vOS (,b\"Q Stack中的第一列是标题为Medium Type，这里有两种选择：Parallel以及Wedge。透射或反射的光将由某种接收器收集，这种接收器在计算中假定为均匀灵敏度。此接收器可能无法收集在不同表面之间来回反射后最终出现的所有
光束。两种极端情况是收集所有光束，以便没有丢失，这种情况称为Parallel。 另一个极端是它只收集从离它最近的表面反射一次的光束，这种情况被称为Wedged。假设所有其他反射光束走出系统，在传输中，那么Wedge不收集反射光束。如果我们有
成像系统，Wedge计算代表形成的像，而Parallel计算代表所有可能的光。因此，它们之间的差异是杂散光。
0S$TLbx g @NwW & 图2.原始设计文档（上部）通过勾选Display Setup对话框中的Medium条目添加了Medium Type和Medium Thickness列。然后将3毫米厚平行基板与背面膜层一起添加，最后将出射介质设置为空气。
QWE \Ud.q #"fn; 一般来说，薄膜材料消光系数的准确度都比较低，不能用于膜层较厚的情况。对于较厚的材料，更可靠的一个方法是给定厚度内透射率，由于此参数比吸收系数横容易获得，因此我们使用此参数来定义Stack中介质的属性。
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:r),}$ 要使用此附加功能，请打开Design，然后在File菜单中选择Display Setup。单击Medium。设计文件的外观如图2所示，有两个新的列，Medium Type和Medium Thickness，另外一种方法是在File菜单中选择New-Stack。
