切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • ZEMAX光学系统设计实战 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 342阅读
    • 0回复

    [求助]剪切干涉仪条纹 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线李直育
    实习生
     
    发帖
    7
    光币
    11
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 06-17
    THORLABS的SI100型号的剪切干涉仪引入的光程差近似为6.6mm，我用846.8nm波长、带宽2nm的单模光源作为准直光源，相干长度计算得358.53512微米，小于光程差，正常来说，不是应该相干长度大于光程差才能观察到相干条纹吗？为什么实际使用中可以观察到相干条纹？ SD\= m/W  
    pV p:@0h  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表