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    [技术]通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-10
    摘要 sV~|9/r  
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    通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。 zBrqh9%8e  
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