摘要
Vg{Zv4+t U,'EF[t G,=F<TnI' 对于电磁场的全面表征,不仅是能量密度的信息,而且是相位的信息都具有关键价值。虽然在
模拟中我们可以直接从数字数据中计算出这些信息,但在真实的实验室中,则需要更复杂的方法。测量这种信息的常见工具是Shack Hartmann传感器,它使用微
透镜阵列(MLA),通过焦平面上相应光点的位移来重建一个入射场的波前。为了研究这类设备,我们演示了Shack Hartmann传感器的模拟,以不同的波前作为输入。
BB63xEx Ge^Qar 任务描述
e{0L%%2K Z^*NnL.' Y87XLvig} a) 平面波
i|S:s - 波长640nm
K^aj@2K{ - 与原点的距离无限大
ck$M(^)l - 2毫米×2毫米直径(长方形)
'l|R5 b) 倾斜的平面波
'y.JcS!| - 波长640nm
%l]Rh/VPn? - 2.5°倾斜
>fH*XP>( - 2毫米×2毫米直径(长方形)
LQqfi
~ c) 弱球面波
doM?8C#` - 波长640nm
@(>XOj?+ - 与原点的距离为100毫米
&wjB{% - 2毫米×2毫米直径(长方形)
[x5mPjgw d) 强球面波
;%Q&hwj - 波长640nm
f?^S bp - 与原点的距离为40毫米
J(e7{aRJ9 - 2毫米×2毫米直径(长方形)
B)6#Lp3 微透镜阵列
3$_*N(e -
材料:N-BK7
Xu6K%]i^ - 凸面-凸面
`|EH[W&y - 曲率半径:5毫米
s"coQ!e1. - 200 μm × 200 μm 透镜尺寸(长方形)
3;l "=#5 - 5×5个微透镜
I+",b4 探测器 88 l,&2q - 输入场的波前
B.*"Xfr8 - 理想平面波聚焦面的电磁场的能量密度
'E -FO_N \I:.<2i 系统构件 - 组件
ezn`
_x_? )7Ixz1I9g #tDW!Xv? 微透镜阵列组件允许轻松定义任意形状的微透镜阵列。材料和尺寸通过 Solid选项卡定义,而微透镜的表面形状则使用堆栈概念进行配置,并可通过单独的Surface Add-Ons选项卡访问。
OKAkl 该组件可以通过整个
结构或单个微透镜进行模拟。
g<a<*)& '$[Di'*; 系统构件 – 探测器
jct./arK /2XW M{E{N K Camera Detector能够计算出系统中任何一点的电磁场的能量密度。Electromagnetic Field Detector计算出纯的、复值的场数据。如果用户希望看到这些信息,它还可以计算和提取所述场的波前。
O%g\B8; b\giJ1NJB 0
iRR{a< 总结 - 组件...
YeyGN V!&P(YO: >1ZJ{se *_"u)<J 仿真结果
4pPI'd&/7 X;!~<~@Y 光线和场模拟的第一印象
j?-R]^-5 m|F:b}0Hb MLA前的波前
`R+,1"5 =
6(KmA-!b(O 平面波