概览 ua%j}%G( VO7&<Y}{x 本文将讲述如何rayfile转换为面
光源,Rayfile光源文件包含有限数量的
光线,表面光源有无限量的光线,这使得表面源对于使用逆
模拟,得到清晰可视化仿真特别有用。
FND+Ok& f2i9UZ$=e! 表面光源均匀地从几何形状表面的每个点发射光,这种简单的方法可以在没有指定光源的早期开发阶段使用。
Vx=tP.BO] T2ZN=)xZ1 高阶段的表面光源通过使用从rayfile文件光源获取光信息,更准确的以模拟面光源代替rayfile光源,打破rayfile光源内有限光线数对仿真的限制。
<e$%m(] E*#5OT 下面将在本文中介绍这种转换方法:
249DAjn+ d+IN-lR( 步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)光源属性。
_#6*C%a x ,o6,(jJU 步骤2:使用先前获取的属性文件再创建表面源。
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N 当然为了创建一个表面光源,需要4个元素,获取这些元素数据,可以确保表面光源在近场和远场的正确建模:
VJ-To} iY3TB|tMt Flux光通量:在数据表中查找,或通过初步模拟获取。
zkHyx[L "V<7X%LIX Exitance:一般是常数,或通过初步模拟以辐照度探测器获取XMP文件。
S+-V16{i
lN[#+n Intensity:数学定义,或通过初步模拟用强度探测器获取XMP文件。
%ERR^ z_nY>_L83* Spectrum:在数据表中查找,或通过初步模拟获取。
_5v]69C# vH>s2\V" 步骤 KzLkT7,y+ vk|xYDD 步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)属性
m~8=?R+m 7Q #A 创建辐Irradiance照度探测器,在
LED最后可见表面前面距离处(例如0.1 mm)创建一个辐照度探测器。
<d$t*vnq pw=o}-P{ /3qKsv# 对于可见
波长,“type”应设置为photometric。
]?0]K!7Ea }ZfdjF8N! 对于UV/IR波长,“type”应设置为radiometric。
U/>l>J5 ;^ YpQP ;~Q`TWC 创建Intensity强度探测器,在与辐照度探测器相同的位置创建一个强度探测器。强度探测器“方向”应以90°为起始角的Conoscopic,要获取波长信息以表现光源的打光颜色,“type”应设置为spetral。调整波长设置,以包括所需的波长范围和采样,更高分辨率的采样将得到更准确的转换。
MZdj!(hO PS` F @e^(V$ap 运行direct模拟,使用LED的rayfile光源和创建的两个探测器运行直接模拟。模拟的最小光线数应该是rayfile文件中包含的光线数。
2 :&QBwr+; -n6e;p] 当然根据设计的复杂程度,可能需要大量的光线来精确模拟输出,这样就采用对每个rayfile光线文件重复利用,例如在每个
芯片位置的rayfile光源重复三次,这样以便减少rayfile光源对仿真光线数的限制。
F|?}r3{aJ Vu Ey`c 步骤2:使用先前获取的属性创建表面光源。
MQlGEJ H8qWY"<Vd 使用辐照度和强度结果作为输入创建一个表面光源。这两个输出的XMP结果可以从“SPEOS output files”文件夹中抓取。
]nm(V 8l>YpS*S^ 1. Exitance
X-cP'" 将variable设置为“True”,并选择辐照度结果作为文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。
=wFl(Q6J So}pA2[0 \};
4rm}V 2. Intensity
9oj0X>| 1 设置强度类型为“Library”,并选择强度结果作为强度文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。
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e}2[g 3. Spectrum
X9ec*x 如果在第一步获取rayfile属性的仿真中,强度探测器类型未设置为“colormetric”或“spectral”,则需要在面光源定义中添加
光谱文件,这个频谱文件必须从LED的数据中获取,或者是官方网站下载。
(FSa> 如果在第一步获取rayfile属性的仿真中,强度探测器类型已经设置为“colormetric”或“spectral”,光谱数据已经包含在Intensity中,此时无需再次定义光谱数据。
sJm v{wM (O'O#AD 4. 完成rayfile光源到表面光源的定义转化。
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