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光学测量>显微镜 )V6<'>1WZ :"utFBO YS|Ve*t(L= B]C 9f 亮点 tXu_o6] rF>7
>wq z}sBx9; B?|url6h 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 lA1l 数秒内快速的高性能分析复杂系统 ex}6(;7)O 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 !JOM+P: 研究偏振效应 12bt\h9 EWX!:BKf 说明:光源 ^@a|s
Sb 角向偏振光 )c"m:3D@ 6Pzz= ai< ]DV=/RpJ9B d0"Xlleld rERHfr`OU QaAWO 径向偏振光 #383W)n
Bl6>y/ 8G6[\P3fQ B[8`l} t 说明:透镜系统 %I
3D/!% {YoK63b$ C2/B1ba 4a6WQVS 说明:样品结构 p~!UE/V Sph:OX8 zG0191f qx+ .v2G 说明:探测器 (tLAJ_v!.K U<"@@``+N mO1r~-~AJ *53@%9 {u 结果:3D光线追迹 )t#v55M -%g&O-i\ %l.5c Sn@ btZ9JZvMx 结果:光线追迹 "{igrl8 }k K6"]Tj 角向偏振光 o8A1cb4<T Qv`Lc]' &P,z$H{o@ ET[vJnReC 结果:光线追迹衍射级 m\];.Da R3`h$`G 角向偏振光 l)^sE) 9BA*e-[ j0F'I*Z3 `1T?\ 结果:场追迹 ~g_]Sskf7 角向偏振光 (>
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