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光学测量>显微镜 D*_Z"q_B )(/Bw&$ Kb$6a'u7 [@_IUvf^. 亮点 |XrGf2P9u !_P-?u
>?L)+*^ 7QXp\<7 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 Zws[C 数秒内快速的高性能分析复杂系统 IE*5p6IM~ 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 l_lK,=cLj+ 研究偏振效应 ,5XDH6L1 fD* ?JzVY 说明:光源 Y2!P!u+Q 角向偏振光 \D5_g8m:
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+Q'\? 3vc2t6S%* 径向偏振光 G<m6Sf o4qB0h qX"m"ko qKjUp" 说明:透镜系统 3?x}48 zI&). X[E!q$ag P3_&( 说明:样品结构 3E$h
W .a_xQ]eQ #I-qL/Lm 6DxT(VU} 说明:探测器 IAFj_VWC0 +01bjM6F_1
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+rOfQ'lQ 结果:光线追迹 z#Cgd-^7.# 'iikcf*)C 角向偏振光 A5 <T7~U "tUc 5X}OUn8 J]gtgt^ 结果:光线追迹衍射级 pP^"p"<s |n~Vpy 角向偏振光 gMB/ ~g5b0 lfe^_`ij(+ #(dERET* I`KBj6n 结果:场追迹 wrEYbb 角向偏振光 pWN5 >HV 40Z/;,wp{ U\`yLsKvH` :qxd
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