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楼主
发表于: 2020-07-17
摘要
n[{o~VN
L1aN"KGMF
高数值孔径
物镜
广泛用于
光学
光刻、
显微镜
等。因此,在聚焦
模拟
中考虑光的矢量性质是非常重要的。 VirtualLab非常容易支持这种
镜头
的
光线
和光场追迹分析。 通过光场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。 照
相机
探测器
和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,并且可以深入了解矢量效应。
B\4SB
z[7U>q[E
^&.F!
kH{axMNc
建模任务
3J@#V '
&hZcjdB
,g/ UPK8K=
! 5[?n3
入射平面波
cU*7E39
波长
2.08 nm
kR'!;}s
光斑直径: 3mm
in%+)`'nH7
沿x方向线偏振
YwKY3kL
f9#B(4Tgi
如何进行整个
系统
的光线追迹分析?
=WN6Fj`
如何计算包含矢量效应的焦点的强度分布?
& 8e~<
N=|w]t0*yc
概览
%(n4`@
•样品系统预设为包含高数值孔径物镜。
k :af
•接下来,我们将演示如何按照VirtualLab中推荐的工作流程对样本系统进行模拟。
-B@jQg@ >
F[Peil+|`
%*LdacjZ
光线追迹模拟
VP|9Cm=Fg
•首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为模拟引擎。
kigc+R
•点击Go!
6)Oe]{-
•获得3D光线追迹结果。
3}XUYF;
lK}F>6^\
3``$yWWg
"j~=YW+l
光线追迹模拟
.w&{2,a3
•然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为模拟引擎。
3A'd7FJ0G
•单击Go!
K\o!
•结果,获得点图(2D光线追迹结果)。
377$c;4F
pcL02W|J
_:=w6jCk
[7L1y) I(
光场追迹模拟
BYwG\2?~
•切换到“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为模拟引擎。
8qt|2%
•单击Go!
$] w&`F-
<y~`J`-
T w/CJg
()XL}~I{!A
光场追迹结果(照相机探测器)
UPLr[>Q#
&W }ooGg
•上图仅显示Ex和Ey场分量的强度。
r?V\X7` +
•下图通过整合Ex、Ey和Ez分量显示强度:由于高数值孔径情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。
:0#!=
H@OYtPHGR
:m-HHWMN
hX~IZ((Hi8
光场追迹结果(电磁场探测器)
B*,9{ g0m/
%vyjn&13
•通过使用电磁场探测器获得所有电磁场分量。
R1A!ob
Dh J<\_;
RM QlciG
5jkW@
~9 K4]5K-
=7#)8p[
C{+~x@
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TQYud'u/
=3""D{l
文件信息
/zPN9 db
5U%uS^%DP
!!dNp5h`
wGAN"K:e
v5 $"v?PT
QQ:2987619807
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