专题0001
VAheus +|oLS_ 构建具有渐变
折射率（GRIN）
透镜的
成像系统，并对该成像系统进行
光线追迹与场追迹分析。
_;x` 6LM 7!o#pt7 关于此用例
D}{]5R • 需要以下工具箱
O d6'bO;G - 基本工具箱
wko9tdC=U • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35）
!}`[s2ji • 在此处获得免费试用版
$rjm MSxi 此用例展示了…
9l[C&0w#\ • 如何构建GRIN透镜
\'w.<)(GI • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
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mA3&<&q 
4*n1Xu 7^x GRIN透镜的构建
/ gaC KKg\n^ 
H93ug1, ,rY}IwM w GRIN透镜：GRIN介质
9$ (N q 2c,w
4rK 
0ikA@SAq 
MD 0d bLg gh]Fh 系统设置：
探测器和连接
~T._ v;IT · 探测器说明：
sV%= z}n= − Electromagnetic Field Detector 用于探测
图像 A|mE3q= djdSD 
pP\^bjI 1?TgI0 HS 仿真结果：光线追迹分析
)DW".c w(M i? 
`]&'yt 仿真结果：场追迹分析
H ] dN'c- *rm[\ 
Py9:(fdS 系统设置：寻找像面
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<qoPBm]) #Gu wbg 仿真结果：光线分析和场追迹分析
v49 i.c9 Me+)2S 9 
#b&=CsW` ^sJp!hi4=) 文件&技术
信息 Ej@N}r>X 'F1<m^ 
