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上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展
回帖:通过破坏性和非破坏性的测试发现了残留在光纤中的微气泡与输出端暗点的关联性。通过建立有限元模型,得到变形纤芯产生极高损耗(>500dB/m)的结论,揭示了微气泡挤压纤芯产生局部高损耗是形成缺陷的主要原因。通过更换热性质更匹配的纤芯和包层玻璃,促进光纤拉制时气体的有序排出,极大地减少微气泡缺陷的形成,有效改善成像质量。得到了高数值孔径的少暗点多芯成像光纤。该工作为高数值孔径成像光纤的制备提供了有价值的参考。有望应用在超细光纤内窥镜中。
jeremiahchou
回帖于2025-05-26 00:20
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:上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展
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redplum
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