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主题：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展

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1楼：通过破坏性和非破坏性的测试发现了残留在光纤中的微气泡与输出端暗点的关联性。通过建立有限元模 ..

[jeremiahchou 2025-05-26 00:20]

2楼：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展

[redplum 2025-05-26 00:21]

3楼：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展

[likaihit 2025-05-26 00:22]

4楼：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展!~

[likaihit 2025-05-26 00:23]

5楼：高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展。

[tassy 2025-05-26 02:12]

6楼：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展

[phisfor 2025-05-26 06:27]

7楼：光纤微气泡缺陷

[小王加油 2025-05-26 07:41]

8楼：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展

[yedos 2025-05-26 07:49]

9楼：上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展

[北极星的天空 2025-05-26 08:49]

10楼：这个太厉害了

[binbinq 2025-05-26 08:57]

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