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主题:上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展
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1楼:通过破坏性和非破坏性的测试发现了残留在光纤中的微气泡与输出端暗点的关联性。通过建立有限元模 ..
2楼:上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展
3楼:上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展
4楼:上海光机所在高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展!~
5楼:高数值孔径多芯成像光纤微气泡缺陷研究中取得进展。

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