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    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 京东6.18购物红包，每天领三次！ 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
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    [技术]通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 05-10
    摘要 u/` t+-A  
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    通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。 pH396GFIW  
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    真实物镜的评估 #D%l;Ae  
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    用德拜-沃尔夫积分法评价理想透镜 GOX2'N\h^  
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    VirtualLab Fusion的工作流程 Bv^5L>JZ/  
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     从Zemax OpticStudio®导入透镜系统 F?4&qbdD  
    - 从Zemax导入光学系统 [用例] ^dKtUH/78G  
     分析实际透镜系统的成像性能 dK7BjZTJo  
    - 分析高NA物镜聚焦 [用例] o#V{mm,{Pm  
     使用Debye-Wolf积分作为参考 @5cY5e*i{  
    - Debey-Wolf积分计算器 [用例] A7aW]  
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    VirtualLab Fusion技术 !4T7@V`G  
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