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崔粤鹏 2017-05-08 09:51

Macleod 10.4版本更新说明

Core 8D T@h8tA  
 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 mCrU//G  
R`7n^,  
#wD7 \X-f  
) ]]|d  
 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 sbjtL,  
./)j5M  
ct.Bg)E  
`7>K1slQ}S  
 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 WFpl1O73  
 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” s KCGuw(mh  
eu=|t&FKk  
*lY+Yy(  
}1\?()rB  
 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 a}GAB@YI  
 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Qf~| S9,  
_"v~"k 90^  
FP@ A;/c  
vF+YgQ1H  
9 G((wiE  
 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 g` kZ T} h  
4Q/r[x/&C  
5#BF,-Jv  
.^GFy   
 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 C*]AL/  
 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 %y3:SUOdx  
hF9B?@n?B  
wz)m{:b<  
|/2LWc?  
}7&\eV{qU  
dgm+U%E  
 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ~"RQ!&U  
lWIv(%/@  
\4C)~T:*  
-D$3!ccX  
Runsheet dY 6B%V  
“Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 H.)fO ctbO  
a'm!M:w  
2;O  c^  
`2sdZ/fO  
Function .M}06,-  
M'b:B*>6  
双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 O&F< oM  
E]1\iV  
iczs8gj*  
a_xQ~:H  
如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 |F3vRt@  
'wegipK~R  
讯技光电科技(上海)有限公司 pFS F[9?e>  
电话:86-21-64860708 Q1K"%  
传真:86-21-64860709 Mi_[9ku>%  
课程:course@infotek.com.cn J,MT^B  
业务:sales@infotek.com.cn }#YIl@E  
技术:support@infotek.com.cn 5X0_+DdeL  
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