| 崔粤鹏 | 2017-05-08 09:51 |
Macleod 10.4版本更新说明 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。  现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册  反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>”  如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。  用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。  当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。   Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。  Runsheet “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。  Function 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。  如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 讯技光电科技（上海）有限公司 电话：86-21-64860708 传真：86-21-64860709 课程：course@infotek.com.cn 业务：sales@infotek.com.cn 技术：support@infotek.com.cn |
|