首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
Macleod,TFCalc
->
Macleod 10.4版本更新说明
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
崔粤鹏
2017-05-08 09:51
Macleod 10.4版本更新说明
Core
8DT@h8tA
 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。
mCrU//G
R`7n^,
#wD7 \X-f
)]]|d
 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册
sbjtL,
./)j5M
ct.Bg)E
`7>K1slQ}S
 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。
WFpl1O73
 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>”
sKCGuw(mh
eu=|t&FKk
*lY+Yy(
}1\?()rB
 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。
a}GAB@YI
 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。
Qf~| S9,
_"v~"k 90^
FP@A;/c
vF+YgQ1H
9 G((wiE
 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。
g` kZT} h
4Q/r[x/&C
5#BF,-Jv
.^GFy
 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。
C*]AL/
 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。
%y3:SUOdx
hF9B?@n?B
wz)m{:b<
|/2LWc?
}7&\eV{qU
dgm+U%E
 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。
~"RQ!&U
lWIv(%/@
\4C)~T:*
-D$3!ccX
Runsheet
dY 6B%V
“Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。
H.)fOctbO
a'm!M:w
2;O c^
`2sdZ/fO
Function
.M}06,-
M'b:B*>6
双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。
O&F<oM
E]1\iV
iczs8gj*
a_xQ~:H
如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。
|F3vRt@
'wegipK~R
讯技光电科技(上海)有限公司
pFS F[9?e>
电话:86-21-64860708
Q1K"%
传真:86-21-64860709
Mi_[9ku>%
课程:
course@infotek.com.cn
J,MT^ B
业务:
sales@infotek.com.cn
}#YIl@E
技术:
support@infotek.com.cn
5X0_+DdeL
查看本帖完整版本: [--
Macleod 10.4版本更新说明
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2025
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计