| 谈谈光电子 |
2016-07-31 17:17 |
镀膜检测专用分光光度计-高端研究型
新一代设计的 PHOTON RT 是专业测量光学部件镀膜特性的万能型分光光度计，根据光谱范围可以选择六种配置（190-1700nm, 190-2700nm, 190-4900nm, 380-1700nm, 380-2700nm与380-4900nm)。最宽光谱范围可从190nm-4900nm。该仪器的设计改变了行业的测量观念，致力于提供最简洁、最灵活与速度最快的操作。无需任何额外附件与成本，可以实现宽角度的的绝对反射率与绝对透射率测量，以及实现偏振模式测量，独创设计的分光光度计包含参考通道，能对直径范围从10mm到120mm的光学部件进行测量研究。 a-DE-V Uls
基于光谱光度逆向工程可以测量紫外可见近红外全光谱范围内薄膜材料的折射率n、吸收系数k与薄膜厚度d, 确保了强大的QA/QC分析与研究开发。 &jPsdv h
Photon RT分光光度计确保高精度高重复性测量，装置结实紧凑，可保证每天的频繁使用。主机有一个大的盖子，为测量舱提供一个简单和方便的通道，光学部件可快速安全放置。 %n c+VL4
测量能力: ~yf 5$~Z
透射率T, Ts, Tp ( 0-75°角度范围) }mJ)gK5b 6
反射率 R, Rs, Rp (8–75°角度范围) a. 5`Q2
根据给定入射角计算T(s+p)/2和R(s+p)/2 qOa-@MN
样品的光学密度, 0 – 4 (D) PwNLJj+%
紫外可见近红外全光谱范围内逆向工程的无衰减（自动）nkd测定 9k"nx , "
偏振分束片的测量 bm7$D Kp#
特定光谱范围内R和T的积分值 anV)$PT=
透射和反射的光散射特征线 o_$r*Z|HG
颜色坐标 p-/x Md
动态测量 )5V1H WjU
en~(XE1
参数 cRfX
描述 光学配置 T@ H ozZ
单色仪设计 Cherny-Turner h/w- &7t
光学元件 Mirror, Al + SiO2, Al+MgF2 4Y/!V[
参考通道 有 E m.?
波长取样间距， nm 0,5 to 100 cE]kI,Fw,M
波长扫描速度，nm / min 3 000 (at 5 nm wavelength sampling pitch) y! 1NS
到样品光斑尺寸，mm 6 х 2 2Uk8{d
光度函数 %T, %R S I(8.$1
样品台的调整间距角 0,1度 SO&;]YO
探测器的调整间距角 0,1度 bo"I:)n;
样品台调整间距角的定位精度 0,05度 ]ogy `O >
有效光谱范围, nm 190-1700, 190-2700, 190-4900, 380-1700, 380-2700, 380-4900 T<=\5mn
光谱分辨率, nm p]g/iLDZ
200-1000 nm Up to 1.8 Zj<T#4?8
1000-2700 nm Up to 3.6 =gqZ^v&5U
2500-4000 nm Up to 7.2 U)o8Tr
波长精度,, nm +/- 0,24 f3 h9CV
波长重复精度, nm +/- 0,12 6%xl}z]o
散射光水平 max %（@532nm) <0,002T Z,&ywMm /G
光束发散角 2度 MU^Z*r
光度计精度 0,001 х T liB>~DVC
光度计重复精度 0,0005 x T Y{'G2) e
基线稳定性, %/hour 0,1 (30 分钟预热时间) DpR%s" ,Q
光源 Deuterium lamp, Halogen lamp Zj0&/S
偏振器 s – 偏振 /kq~*s
p – 偏振 Y+7v~/K=
样品台 测量尺寸大于12x10mm尺寸平面样品的反射透射 zc( 7p;w#p
独立设定 样品台与光电探测器的独立定位 -
|'wDf?H
同步设定 依赖于所选定光度计函数（R或T）的样品台与光电探测器的同步定位 vNt2s)J$
样品尺寸 最小 12x10 mm – 10度角测量 ZtT`_G&
最小 12x25 mm – 10-60度角测量 K&h |r`W(
最大样品尺寸 –直径120mm O#|E7;
接口 USB 2.0 & Gt9a-ne
功率 110 BW;u? 1Xa
电压 110/220 V, 50/60 Hz J{ Vl2P?@
宽x 深 x 高, mm 420 x 610 x 270 _ 8>"&1n
净重, kg 45 iB`m! g6$
清单 PHOTON RT 分光光度计， 操作手册 ，USDx线, 电源线, <.2Z{;z
*30分钟预热 w?C \YKF7
KP(Bu0S
v]!7=>/2
021-60450828 韦先生
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