VirtualLab运用:利用光线追迹分析高数值孔径透镜系统
示例.0082(1.0) ';^VdR]fk Vge9AH:op 关键词:光线追迹,高数值孔径,点列图,光斑尺寸 ) 'j7Ra q#xoM1 1. 描述 %S.
_3`A ■ 该案例中阐述了如何利用VirtualLab对一个具有高数值孔径的透镜系统进行分析。 =d!3_IZ ■ 我们将对焦面前和焦面上对三维光线结构和二维点列图进行讨论。 \uc]+nV!o ■ 此外,VirtualLab可用于测量焦平面上的光斑尺寸。 Ww{bh-nyq 2!QJa= 2. 系统 7ykpDl^ @ -S"YEH9
[attachment=67679] 文件名:UseCase.0082_FocussingSystem.lpd ]t=m 3. 透镜系统组件编辑 ?<ks^2D
[attachment=67680] ~5N0=) ■ 在光路视图中双击透镜系统元件,可以显示元件编辑窗口。 @dvlSqm) ■ 透镜系统是由序列光学表面(OIS)定义的。 {dH87 nt ■ 每一个可选项都有独立的参数,并可以设定。 7.,C'^ci ■ 包括序列光学表面和光学介质。 bz[U< |