谈谈光电子 |
2014-12-22 10:33 |
X射线与极紫外XUV光谱仪
X射线与极紫外XUV光谱仪 Z1Ms~tch 像差校正平场入射X射线光谱仪,光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计,可以满足不同的实验条件和环境。 |A2.W8`o
T/H*Bo*=5 技术参数 t[<=QK • `DEz `
D 技术优势介绍: 0Tq6\: 光源可以直接成像/超强信号采集能力 m,-:(82 相比于传统的装置,我们的XUV光谱仪不需要入射光阑,所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测,通光效率提高了15-25倍。 M*%iMz
qF>}"m -平场成像技术 :c
c#e&BO 我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅,所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 b8>rUGA{ s$mcIMqs 紧凑/模块化 \vKMNk;kz 光谱仪非常紧凑,能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性,无需光学平台,无外置式可移动部件。尽管非常紧凑,该光谱仪却能保持高性能,具有诸多配置灵活性(源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等) C]{43 g&v2=&aj 结实耐用无需准直 x#'#
~EO-G 光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱(震动、声音等)。无外接可移动部件,闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外,无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调,将会导致超过20%信号下降 P.LMu &g|-3)A - 定制化 'r3I/qg*m 该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 o ;.j_ 这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 CmM K\R. Rs7=v2>I 典型客户: @ 3FTf"#Y
- < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) *V5R[
- < >Los Alamos 4h?[NOA"
- Max Planck Institute
i{xgygp6f 详细信息请联系:sales@@advacedlight.cn, 或致电021-60450828
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