X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 i-1op> Y	5-20 llq<egZpm	10-60 L(-4w+	25-80 }BEB1Q}L
光源距离（m） F?0Ykjh3	UQsN'r\tS	0.4-0.6 wYea\^co	0.5-1.5 z{q`GwW
平场尺寸（mm） zLQx%Yg!	25.4 *. t^MP	50 ~%oR[B7=\|	50 WJi]t93
色散(nm/mm) 7V>M]	0.5-0.7 HS$r8`S?)	0.7-1.1 C!gZN9-	0.9-1.3 kJU2C=m@e2
光谱分辨率（nm） P}iE+Z3	0.06 R2NZ{"h	0.09 ;uW FHc5@B	0.11 TeQV?ZQ#}
\U0Q<ot/7	Jm@oDME_E	, gHDx	Om&Dw\|xG8
升级波长范围 \V:^h[ad	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) H,J8M{
探测器选择 @EAbF>>	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 DG/Pb)%Y
光栅台 $G>.\t	电控 4i bc
工作环境 K3C<{#r	<10-6mbar ]9-\~Mwh
操作性 !>tL6+yj	极易安装使用，用户自己即可安装使用 ICCc./l\|

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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

< >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) =;k|*Ny
< >Los Alamos .hiSw
Max Planck Institute

详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn，或致电021-60450828

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