X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 Sd))vS^g	5-20 =s}Xy_+:	10-60 ' )-M\'S$E	25-80 8ga_pNe
光源距离（m） V8-h%\|$p3W	NQ\|xM"MqD	0.4-0.6 r7]"?#	0.5-1.5 2X88:
平场尺寸（mm） ukuo:P<a	25.4 ~~F2Ij	50 -6=<#9R	50 D H^T x
色散(nm/mm) Y-~~,Yl~	0.5-0.7 0_yP\m	0.7-1.1 PfG`C5 d	0.9-1.3 gVU1Y6.
光谱分辨率（nm） 7S$&S;	0.06 Ybg-"w	0.09 oc{EuW{Ag	0.11 ?Qqd "=k4
E-ZRG!)[v	,Vd7V}t	=y%rG :!	X6RQqen3:
升级波长范围 zz_[S{v!#	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 9.M{M06;
探测器选择 ohc1 ~?3b	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 RbQ <m!A
光栅台 >_X/[<	电控 r;iV$Rq!
工作环境 /&Jv,[2kV	<10-6mbar {.k)2{
操作性 :DkAQ-<~	极易安装使用，用户自己即可安装使用 qJ8-9^E,L

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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

< >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) y7zkAXhJ
< >Los Alamos ~v:#zU
Max Planck Institute

详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn，或致电021-60450828

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