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谈谈光电子 2014-12-22 10:33

X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 Z1Ms ~tch  
像差校正平场入射X射线光谱仪,光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计,可以满足不同的实验条件和环境。 |A2.W8`o  
T/H*Bo *=5  
技术参数 t[<=QK  
波长范围 >@t]M`#&h  
5-20 vOqT Ld  
10-60 ( nBsf1l  
25-80 b`^$2RM&  
光源距离(m) ,yB-jk?  
2uB.0  
0.4-0.6 <Sz9: hg-  
0.5-1.5 TqWvHZX  
平场尺寸(mm) {vaq,2_w  
25.4 &?~> I[^~  
50 ]|-y[iu  
50 u", [ulP  
色散(nm/mm) }RD,JgmV  
0.5-0.7 YXmLd'F^3  
0.7-1.1 o:?IT/>  
0.9-1.3 ddw!FH2W (  
光谱分辨率(nm) &B))3WFy  
0.06 #oHHKl=M  
0.09 mk[n3oE1  
0.11 V482V#BP  
er97&5  
[ P 8e=;  
c0tv!PSw  
W] RxRdY6[  
升级波长范围 o<x2,uT  
将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) f5'+F-`N  
探测器选择 NWTsL OIm  
X-Ray 相机,MCP探测器,fiber taper系统 tf>?;  
光栅台 \;Ii(3+v;  
电控 ^.k}YSWut  
工作环境 ](^xA `  
<10-6mbar <}|+2f233+  
操作性 P,,@&* :  
极易安装使用,用户自己即可安装使用 _v_ak4m>  
`DEz ` D  
技术优势介绍: 0Tq6\:  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 m,-:(82  
相比于传统的装置,我们的XUV光谱仪不需要入射光阑,所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测,通光效率提高了15-25倍。  M*%iMz  
qF>}"m  
-平场成像技术 :c c#e&BO  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅,所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 b8>r UGA{  
s$mcIMqs  
紧凑/模块化 \vKMNk;kz  
光谱仪非常紧凑,能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性,无需光学平台,无外置式可移动部件。尽管非常紧凑,该光谱仪却能保持高性能,具有诸多配置灵活性(源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等) C]{43  
g&v2=&aj  
结实耐用无需准直 x#'# ~EO-G  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱(震动、声音等)。无外接可移动部件,闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外,无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调,将会导致超过20%信号下降 P.LMu  
&g|-3)A  
- 定制化 'r3I/qg*m  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 o ;.j_  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 CmM K\R.  
Rs7=v2>I  
典型客户: @ 3FTf"#Y  
  1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) *V5R[   
  2. < >Los Alamos 4h?[NOA"  
  3. Max Planck Institute
i{xgygp6f  
详细信息请联系:sales@@advacedlight.cn, 或致电021-60450828
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