X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 dMa6hI{k	5-20 Y-]Ne"+vf	10-60 H\|<Zm:.%$	25-80 Bv^5L>JZ/
光源距离（m） x#'v}(v	F?4&qbdD	0.4-0.6 ^dKtUH/78G	0.5-1.5 dK7BjZTJo
平场尺寸（mm） ov\|pXi<e	25.4 Z:>ek>Op	50 Y".4."NX	50 4R9y~~+
色散(nm/mm) 77%I%<#	0.5-0.7 OJ<V<=MYZ	0.7-1.1 P"Y7N?\](	0.9-1.3 }i9VV+L#1
光谱分辨率（nm） 17!<8vIV$C	0.06 +w(B9rH	0.09 #9q ]jjH E	0.11 GNM+sdy+
=L,7~9	]=(PtzVa	d08:lYQ	qyR}\|<F8*
升级波长范围 1W{t?1[s	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ;~n^/D2.
探测器选择 1raq;^e9	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 "?s
光栅台 T!t9`I0Zz	电控 otdm rw\|
工作环境 SH6T\}X:	<10-6mbar rWip[>^
操作性 M)sAMfuUw	极易安装使用，用户自己即可安装使用 SF[}suL

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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

< >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) u4DrZ-v
< >Los Alamos %;b]k
Max Planck Institute

详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828

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