| piaodongdewo |
2014-07-16 10:10 |
OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪
/_l$h_{DH fS#I?!*} 功能 C_ 4(-OWq ]w;!x7bU( 1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 P ")1_! 2.可测量薄膜的厚度和折射率 o/~Rf1 3.多个响应时间和图像残留分析的选项 l1I\khS [;RO= 应用 O=E?m=FR" *'ffMnSZ LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 x>TIQU=\ 用于液晶显示和材料的测量系统 &=S<StH 这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 sRkPXzK 你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 Yw_^]:~ 新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 r&_bk
Y% LC单元 >#Ue`)d`aY LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 ews{0 O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 V+Y; LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 I92orr1 VA模式的LC单元 KqhE=2, 预倾斜角 3σ:<0.01° AREpZ2GiU 单元间隔 3σ:<0.01μm (R|Ftjs . ※精度与样品条件有关 Q8
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