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OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪
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piaodongdewo
2014-07-16 10:10
OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪
7<*0fy5n n
J]XLWAM
功能
WeaT42*Q{
Hg<aU*o;
1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统
@&`^#pok
2.可测量薄膜的厚度和折射率
R9 Ab.t
3.多个响应时间和图像残留分析的选项
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应用
y<j7iN
R!QR@*N
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等
iu(obmh/o
用于液晶显示和材料的测量系统
Dy,MQIM|!
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。
/<n7iIK)
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备
(lS[a
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统
u"(NN9s
LC单元
hnB`+!
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式
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O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转
V 0Oqq0\
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等
" "m-5PGYo
VA模式的LC单元
][tR=Y#&y5
预倾斜角 3σ:<0.01°
_AX,}9
单元间隔 3σ:<0.01μm
d/j?.\
※精度与样品条件有关
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*EvW: <
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O IPS的旋转角
H`fJ<So?
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O LCOS的预倾斜和单元间隔
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0$c(<+D
O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔
A03io8D6
yP# Y:s
P ?f${t+
SyI~iW#Y1
还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。
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V-T曲线,响应时间,图像残留等等
$;G<!]& s
光学薄膜
TMY. z
相位差膜,补偿膜
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相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。
/eH37H
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。
G .<0^q,
偏振片,圆偏振片
1}Q9y`65
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。
B-w`mcqp$
玻璃,配向层:低相位差材料
gAorb\iJ
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。
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超薄薄膜
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超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。
Dt[+HCCY:
光学特性评价
BK4S$B
在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。
[(_,\:L${
利用仿真软件进行更高级的分析
D!Y@Og.
利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。
rZpsC}C'
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。
~Yg)8
在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。
R/"-r^j
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。
zEO~mJzo
利用脚本函数自动测量和优化
y*X.DS 1(w
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。
R,78}7B
它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。
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输出结果可以用于下一个测量。
Zl&ED{k<
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。
AQ(n?1LU
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。
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~<<32t'S:
0nCiN;sA
硬件选择
0Yq_B+IC
信号发生器:外加电压进行采样(最大两个通道)
F*#!hWtb
精密空调控制单元:机器温度控制
%vy,A*
加热阶段:加热目标样品
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高精度透射/反射率:提升透射率和反射率测量
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自动调节功能:在反射测量中,这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果,避免了人为误差。
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主要技术参数
OET/4(C
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问,请与我们联系。
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讯技光电科技(上海)有限公司
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www.infotek.com.cn
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