射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 Z>{*ISvpq	5-20 !d4HN.a7+u	10-60 \|(%AM*n	25-80 ku3D?D:V
光源距离（m） oYq,u@oM	^_w*XV	0.4-0.6 'jbMTI	0.5-1.5 4 ?2g&B\
平场尺寸（mm） Gm@iV,F%R	25.4 , ,{6m d	50 Z}f^qc+	50 T+W3_xISX
色散(nm/mm) DB Xm	0.5-0.7 GEi MmH?	0.7-1.1 1,u{&%yL"w	0.9-1.3 x[}06k'
光谱分辨率（nm） =\|#w.(3y	0.06 ho\|8U	0.09 (+$ol'i	0.11 s;>VeD)*)
^^Bm$9	p[;8	Rf8:+d[Jj\|	y"Ihr5S\
升级波长范围 hOSf'mi	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) E~69^cd
探测器选择 _3KZME	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 =u[rOU{X"W
光栅台 %30T{n:	电控 b7qnOjC
工作环境 d.b?!kn	<10-6mbar P[1m0!,B
操作性 J2Y 3er	极易安装使用，用户自己即可安装使用 iZu:uMoc

•
技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) okVp\RC
Los Alamos .O;!W<Ef$
Max Planck Institute tu7+LwF7

详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828

查看本帖完整版本: [-- 射线与极紫外XUV光谱仪 --] [-- top --]