射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 wP*3Hx;S	5-20 >~Xe` }'	10-60 o[}Dj6e\t	25-80 Jfk#E^1
光源距离（m） [^?i<z{0C	<ch}]-_	0.4-0.6 ;Ce?f=4	0.5-1.5 oH+PlL
平场尺寸（mm） LT Pr8^	25.4 k*n~&y:O	50 %#rtNDi	50 Nf<f}`
色散(nm/mm) b_ak@LYiu	0.5-0.7 U65l o[	0.7-1.1 3cgq'ob	0.9-1.3 K!Fem6R
光谱分辨率（nm） < K!r\^	0.06 1U#W=Fg'	0.09 `kxC# &HO	0.11 k2$pcR,WM
05k'TqT{c	&Z[+V)6,,	;Z"MO@9:	Tx~w(A4:
升级波长范围 ?gUraSFU	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ,*U-o}{8C?
探测器选择 x?V^l*	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 g_IcF><F
光栅台 Qw5(5W[L	电控 vD9\i*\2
工作环境 Jk-WD"J6	<10-6mbar ?g{[U0)
操作性 >;1w-n	极易安装使用，用户自己即可安装使用 HEbL'fw^s

•
技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) &odQ&%X
Los Alamos kVM*[<k
Max Planck Institute Mn/

详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828

查看本帖完整版本: [-- 射线与极紫外XUV光谱仪 --] [-- top --]