| universalpei |
2014-05-20 14:40 |
摩擦磨损试验机
摩擦磨损试验机 jLt3jN 产品简介: Xpn\TD<_I P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 ^d{5GK' 产品特性: /z4c>)fV 1. 测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 ~=iH*AQR 2. 测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 ;>jEeIlT 3. 可测样品的最大坡度:87oC r
*6S1bW 4. 测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 Ze8.+Ee 5. 不受环境光的影响 bTrusSAl 6. 不受样品反射率与形状的影响 :&TM0O 7. 操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 T:Nk9t$W7@ 主要技术参数: w6cl3J& 1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) RU4X#gP4Vh 2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm) ?.%dQ0 3, Z方向测量范围:300μm -u'"l(n)~ 4, Z方向测量分辨率:8nm oV0 45G 5, Z方向测量精度:60nm `62v5d*>a 6,横向光学分辨率:2.6μm ;J TY#)Bh 产品应用: |r Aot2 MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 o}114X4q; p? o[+L< | |