| universalpei |
2014-05-20 14:35 |
粗糙度测量仪P3
产品简介： 5WgdgDb@L
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，符合国际标准ISO25178，用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品，不收材料形状及颜色的限制。 =K .' x
产品特性: R<lj$_72Q
1. 测量具有非破坏性：采用白光共聚焦技术，可获得纳米级分辨率 E.Xf b"]
2. 测量范围大：15mm×15mm，无需进行图像拼接 zz 7 m\
3. 可测样品的最大坡度：87oC .cN\x@3-j
4. 测量范围广：可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 ZN-J!e"`
5. 不受环境光的影响 $Ll]h</Z
6. 不受样品反射率与形状的影响 HT)b3Ws~M8
7. 操作简单：样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 dbSIC[q
主要技术参数： 1BwCJ7?8
1，扫描范围：1×1，2×2，3×3，4×4，5×5，10×10，15×15（mm） ,Y=r]
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2， 扫描步长：1×1，2×2，5×5（μm） K/79T b-
3， Z方向测量范围：300μm p8hF`D~
4， Z方向测量分辨率：8nm v' .:?9
5， Z方向测量精度：60nm eG9t n{
6，横向光学分辨率：2.6μm JVf8KHDj
产品应用： Y*;Z(W.V#
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发 Mz#
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联系人:刘蕊 联系方式：010-53203403 5 t#+ UR
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网址：www.mnt-china.cn 微纳（香港）科技有限公司
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