光学表面瑕疵(光洁度)检验权威
[attachment=55917][attachment=55916] *=KX0%3 大家好,今天向大家推荐一款光学表面瑕疵的权威检测设备。 k7R}]hq]"" SavvyInspectorTM SIF-4 是美国savvy 光学公司针对工厂车间开发的一款光学表面划痕/麻点检验系统。结合专门的分析软件及照明装置来对平面光学表面的划痕/麻点情况进行客观检测,打破了长久以来靠人眼观察光学表面瑕疵的传统,消除了人为判断的主观性。使得该系统在划痕/麻点检验过程中,具有客观、重复性高、数据可记录等优点。 Jq1^}1P 产品应用: mZgYR~ 光学表面瑕疵(划痕/麻点)检测 S+LS!b
产品特点 l 支持美国军标MIL-PRF-13830B、 MIL-C-675C、美国国家标准ANSI/OEOSCOP1.002:2009Visibility Method。 2 样品要求:镀膜或非镀膜元件,平面或大曲率凹面。 m0a <~ 3 检测报告值:划痕数-10,20,40,60,80麻点值-从5到70,同时还可测量划痕长度。 9?6]Zag 4 在检测区域内,软件自动读取数据,判断划痕/麻点情况。 $7'K]'UJXO 产品优势 !L({i') l 可客观、高重复评估光学表面瑕疵,消除人为检测的主观性。 50?5xSEM0_ 2 针对工厂车间设计,样品易放,实时检测 UD+r{s/% 3.数据可记录为文件和图像 / Ml d. UEb'b,O_9 _-mJI+^/ SavvyInspectorTM检测的基本原理 IuW5LS R3<2Z0lqy 采用环形光源照明被测件(不用旋转样品),光束经过被测件反射之后,回到相机中成像。 8YLS/dN0 w 产品参数 EXz{Pqz :8CYTEc 8A,="YIt ;/-X;!a> ~Bi{k'A9 qbunP!
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