光学表面瑕疵(光洁度)检验权威
[attachment=55917][attachment=55916] gWqO5C~h 大家好,今天向大家推荐一款光学表面瑕疵的权威检测设备。 Py}`k 1t*f SavvyInspectorTM SIF-4 是美国savvy 光学公司针对工厂车间开发的一款光学表面划痕/麻点检验系统。结合专门的分析软件及照明装置来对平面光学表面的划痕/麻点情况进行客观检测,打破了长久以来靠人眼观察光学表面瑕疵的传统,消除了人为判断的主观性。使得该系统在划痕/麻点检验过程中,具有客观、重复性高、数据可记录等优点。 N sUFM 产品应用: T3-8AUCK8? 光学表面瑕疵(划痕/麻点)检测 {{3n">s}:
产品特点 l 支持美国军标MIL-PRF-13830B、 MIL-C-675C、美国国家标准ANSI/OEOSCOP1.002:2009Visibility Method。 2 样品要求:镀膜或非镀膜元件,平面或大曲率凹面。 "0ITW46n 3 检测报告值:划痕数-10,20,40,60,80麻点值-从5到70,同时还可测量划痕长度。 t&GjW6]W 4 在检测区域内,软件自动读取数据,判断划痕/麻点情况。 !i"Z 产品优势 |?a 4Nl?
l 可客观、高重复评估光学表面瑕疵,消除人为检测的主观性。 +N~?_5lv\s 2 针对工厂车间设计,样品易放,实时检测 vZ<@m2 3.数据可记录为文件和图像 |l*#pN&L VaLx- RX xlJ8n+ SavvyInspectorTM检测的基本原理 Y<A593 <%@S-+D`] 采用环形光源照明被测件(不用旋转样品),光束经过被测件反射之后,回到相机中成像。 )ifEgBT 产品参数 Oyfc! aP%&-W$D| !!WSGZUR i]qVT)j gEejLyOag Q%x |
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