| alwayshuu |
2006-08-11 12:04 |
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品,厂商:美国SCI 公司 ~/iKh11 #rQ2gx4 可测参数: 2*l/3VW 1)单层或多层薄膜(可达50层),厚度 (<1Å to 250 um) h_3E)jc 2)反射率R和透射率T paE[rS\ 3)折射率n和吸收系数k J$w<$5UY 4)能带间隙 U@)eTHv}6 5)表面粗糙度和损伤度 ,~@X{7U 6)成份和结晶程度 WUXx;9 > :g=qz~2Xk 适用于高精度的薄膜量测,广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 .|>3k'<l cO+qs[
BQ 联系方式:中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 Nv}=L
: E ' ;FnIZ emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225
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