| alwayshuu |
2006-08-11 12:04 |
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 p \7(IhW@
}!RFX )T
可测参数： zLLe3?8:
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) qn R{'d
2）反射率R和透射率T _&6&sp<n
3）折射率n和吸收系数k
fj])
4）能带间隙 D'+kzb@
5）表面粗糙度和损伤度 lO0 PZnW9
6）成份和结晶程度 -|xyj2M
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 `;!v<@:i2
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225
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