alwayshuu |
2006-08-11 12:04 |
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品,厂商:美国SCI 公司 !jIpgs5 ;<9 dND 可测参数: hA0g'X2eC 1)单层或多层薄膜(可达50层),厚度 (<1Å to 250 um) MBO3y&\S4 2)反射率R和透射率T +F9)+wT~;q 3)折射率n和吸收系数k j=C o 4)能带间隙 =mq02C~y 5)表面粗糙度和损伤度 Cqy)+x_OQ, 6)成份和结晶程度 n.a55uy JQp::,g 适用于高精度的薄膜量测,广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 a+--2+~= j%V95M%$ 联系方式:中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 mqx#N% j1yW{
emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225
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