首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 光学薄膜设计,工艺与设备 -> 晶控仪 XDM-3K [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

<<   1   2  >>  Pages: ( 2 total )

morningtech 2013-11-18 14:24

晶控仪 XDM-3K

大家好, SKx&t-  
上海膜林科技有限公司的新一代晶控仪 XDM-3K,全中文触摸屏,操作简单,含有多项专利技术,国产镀膜机轻松实现自动化。表现优异,详情请见公司网站:morningtech.cn aE0yO#=   
欢迎 各位不吝赐教,帮助我们进步,也帮助大家共同进步。
morningtech 2013-11-21 16:28
可用晶振片     6MHz     $_N<! h*\  
频率范围     5MHz~6MHz, YG<7Zv  
频率分辨率     0.005Hz     <^}{sdOyu  
频率稳定度     1ppm     :Gyv%> .  
膜厚分辨率     0.002A     &lg+uK  
测量更新率     10Hz $<jI<vD+:  
材料数     112 _KSYt32N  
膜系数     20, 可自动串接 L&td4`2y  
可设定层数     112层/每膜系 pgg4<j_mn  
可控制蒸发源数     3个, 0~10V, 16bit |2,'QTm=  
数字输入     8路兼容LVTTL,功能自定义 !^ko"^p  
数字输出     10路常开继电器,功能自定义 s_} 1J,Y  
探头数     1,支持六探头     $i@~$m7d-  
电源     90V~240V,AC, 20W gie}k)&M  
主机尺寸 XDM-3K     438*88*300 (mm,标准工业机柜宽, 2U高度, 深300mm) Q`#Y_N-h+  
控制方法     PID     ^:Vwblv(  
语言     多国语言(中、英、…)         S:qML]RO  
通信接口     RS232    
morningtech 2013-11-29 10:56
传一个成膜过程实拍图 rSU%!E+|<  
[attachment=52513]
morningtech 2013-12-05 08:37
问:什么是控制延迟? #`P4s>IL1  
0( fN  
成膜初始期间,晶控仪在打开蒸发源挡板后,将其功率保持在最后一个预熔阶段功率不变,直到一定延迟时间后才去自动控制蒸发源功率。这个延迟时间就是所谓的控制延迟时间。 %;0Llxf"  
在蒸发源挡板刚打开时,晶振片由于受到热冲击而产生异常频率变化(不是厚度带来的),此时晶控仪根据频率计算出来的厚度及速率不是真实值。所以晶控仪不宜马上自动调节功率,而是延迟一定时间后再去自动控制。 n,eO6X 4  
XDM晶控仪在材料参数中设置控制延迟时间。
morningtech 2013-12-14 09:28
问:什么是挡板延迟? \ ]  
7[ )4k7  
有些晶控系统中,晶控的探头不受蒸发源挡板的遮挡。在挡板打开之前,晶控仪就能测量到沉积速率。这些系统中,需要在挡板打开时就已经建立起稳定的沉积速率。挡板延迟时间就是预熔阶段结束到挡板打开前,建立起沉积速率的最大等待时间! ?YR/'Vq97  
挡板延迟功能的优点是,挡板开时就已经建立稳定速率。缺点也很明显,探头的位置与产品的位置差异大。 Z IfhC'  
目前,XDM不支持挡板延迟功能。若要实现同样效果(挡板开始已经建立速率),可使用两台XDM晶控仪协作。 "qEHK;  
另外,有的晶控仪二者都支持,也有晶控仪只支持挡板延迟。
morningtech 2014-01-05 21:56
负速率及负厚度问题的来源,对所有成膜工艺都存在,只是值大小不同反应不同。 .%>UA|[~:  
XDM-3K 有额外付费的  专利功能,就是解决这个现象对真实厚度影响的。 lUXxpv1m  
经常有超薄层(甚至10nm以下)的用户或愿意研究的可考虑,呵呵。
morningtech 2014-01-13 09:47
问:为什么在挡板打开一定时间内会出现负速率及负厚度? hz8Y2Ew  
XYD}OddO  
这是成膜工艺带来的正常现象。挡板打开后,一方面,晶振片由于材料沉积而频率下降,另一方面晶振片受到热冲击而频率上升。而晶控仪只根据频率变化来计算厚度及速率,所以如果此时频率总体上升,晶控仪就会输出负速率及负厚度。 9kj71Jp&}  
不同的工艺,坩埚材料状态,甚至新、旧灯丝,即使相同工艺也会每次现象都不重合,这都属于正常现象,不需要进行特别处理。 XBv:$F.>$  
(7w`BR9B  
留意下起始这个过程,如有稍大改变,说明某个条件变了,需要引起注意的。 @$ E&H`da  
XDM-3K的额外付费功能,针对此现象对厚度进行修正。
morningtech 2014-01-26 09:35
问:什么是使用晶振片原始速率控制? WlnmW(uahW  
晶控仪显示的速率,通常是包含了比例系数在内的。调整比例系数时,尽管显示速率不变,但晶振片控制的实际速率已经被同时改变。 ;'!G?)PZ  
实际速率改变会带来一系列问题,比如膜厚分布。 r (Ab+1b  
所以,XDM在配置参数中提供了这样一个选项,当用户选择后,XDM晶控仪实际控制速率就是材料中的目标速率,不再与比例系数相关,以保证工艺的重复性。
morningtech 2014-01-31 19:42
问:怎么手工控制功率,晶控仪只用于看速率? {f] K3V  
(Nd5VuI  
  1.最简单的办法是,XDM的蒸发源功率控制不外接就可以了,让XDM干着急去; gE^ {@^  
  2.将材料设为定功率方式,外接旋转编码器的两端子分别接至<功率增加><功率减少>两个输入功能,此种方式下,旋转编码器将以0.1%的步进值增加或减少输出功率。如再将输入功能<定功率/自动>接出至按钮(如旋转编码器),则可以通过该按钮切换控制模式,看看手工与XDM到底谁控得更稳。
morningtech 2014-02-17 14:47
ITAE是什么意思? ]v7f9MC'\  
ITAE是英文 <Integral Time Absolute Error> 的首字母,时间乘以误差绝对值|t*delta(E)|积分。 -AcLh0pc  
当以此值作为最优控制目标时,要求后期的误差越小,控制系统才越优化。 iTi]D2jC  
它是一种具有很好工程实用性和选择性的控制系统性能评价指标。 @O b$w1c  
\nM$qr'`B  
速率控制的传递函数(阶跃响应)近似为一阶惯性延迟,里面有三个重要的参数 Gain, Time Const, Dead Time,即增益,时间常数和延迟时间。它们描述了系统的响应与激励之间的关系。 NDLk+n  
将PID控制引入控制系统后,如按照ITAE指标最优控制,则PID控制三参数与传递函数中的三个参数之间存在转换关系。(如按其它指标,如ISE,则转换关系是不一样的!) >h>X/a(=~  
YX38*Ml+V  
XDM 速率控制是采取 PID方式的,只是在显示方法上如下区分: xwG=&+66  
若ITAE未勾选,显示和填写的是 P,I,D参数。 4f/2gI1@B  
若ITAE勾选,  显示和填写的是 G,Tc,Dt参数,由XDM自动转换出 ITAE指标下的最优 PID 参数。 [eI{vH{  
4PUSFZK?  
//用户要彻底理解此中缘由,请参考自动控制方面的书籍
morningtech 2014-02-28 15:37
在发一个实拍图 6tXx--Nh  
morningtech 2014-03-08 09:37
上图是单个晶振片,用 XDM晶控仪 控制厚度和速率,总层数65层。 -miWXEe@l  
成膜结果:[attachment=54553]
morningtech 2014-03-27 22:50
小顶一下,从实拍图中看出工艺的朋友请说话。
morningtech 2014-04-10 18:55
有几种手段控制  初始速率过冲
morningtech 2014-04-20 19:29
附加的厚度补偿功能,可以镀制超薄层!
morningtech 2014-05-12 10:23
有朋友说 2台 3x0显示 频率为 0。昨天带着我公司的XDM-3K及虚拟探头,过去检查一下,都是探头及电缆问题。 &!uw;|%  
问题虽不大,但影响生产及实验,最近还有好几位这样的朋友咨询。 "X~ayn'@w,  
特小结一下: p.,o@GcL~  
1.  如果没有频率,一般是 探头及电缆连接 有 短路或断路 这样的问题,这次两个都是断路,只是位置不同; %KL"f  
     接 XDM-3K,显示损耗值 在 100%附近,显然是 断路。 iQsv^K!\  
     补充说明:XDM-3K就是以断路做基准100%的。 显然,如果是短路,则损耗值将显示为小量。这在探头维护时作用非常明显,呵呵。 a-\\A[E  
2.  速率异常,问题复杂,得具体分析; ],vUW#6$N  
2.  晶控仪自身不容易坏。
morningtech 2014-05-18 11:47
[attachment=56300] X^mv sY  
附上晶控仪的图片。 =/wAk0c^y  
操作非常简单,性能一流。
morningtech 2014-06-05 08:51
XDM-3K是新一代晶控仪,晶振片使用寿命长, 膜厚控制精度高,速率控制效果好。 vUD,%@k9  
研究级性能,平民价格。 gIv :<EJ9  
适合于生产各类滤光片以及对膜厚精度要求高的过程。 UO(B>Abp  
w5uOi}T\  
上海膜林科技有限公司 yyZ}qnbx]  
.`4N#EjP  
morningtech 2014-06-26 11:15
超薄层及对厚度精度要求高,控制可能。 9An_zrJ%i  
2014.06, XDM-3K增加了用U盘导入膜系功能,提供pc软件给用户进行文件格式转换。 F#S^Q`  
inkfly 2014-07-09 10:12
朋友去年开始用这个XDM-3K,效果不错,精度不比进口的差,操控也很简单,赞一个。
morningtech 2014-07-19 14:13
谢谢支持。 BEM_y:#  
周一去嘉兴帮朋友看晶控3x0没有频率,用XDM-3K一检查,仍然是探头断路问题。 IxC/X5Mp^q  
跟15楼时的情形稍许不同的是,这次是探头没有保养,里面比较脏而已。 `c@KlL*!Q  
morningtech 2014-08-02 11:19
morningtech:谢谢支持。 *IWO ,!  
周一去嘉兴帮朋友看晶控3x0没有频率,用XDM-3K一检查,仍然是探头断路问题。 @F)51$Ld  
跟15楼时的情形稍许不同的是,这次是探头没有保养,里面比较脏而已。 kSGFLP1FN  
 (2014-07-19 14:13)  @f442@_4  
N'_,VB  
这种问题很常见,探头其实真没有大家想的那么复杂。 +@D [%l|  
维护也很方便的。
morningtech 2014-08-06 22:10
上海膜林科技有限公司 将携 XDM-3K 晶控仪 参展2014.09.02~05深圳光博会, 展位7H19,欢迎惠临。 nokk! v/  
2014.10.20~24同济大学第3届光学薄膜前沿国际会议
morningtech 2014-08-26 22:21
上海膜林科技有限公司 将携 XDM-3K 晶控仪 参展2014.09.02~05深圳光博会, 展位7H19,欢迎惠临。 "3CQ0  
2014.10.20~24同济大学第3届光学薄膜前沿国际会议
morningtech 2014-09-25 08:53
morningtech:这种问题很常见,探头其实真没有大家想的那么复杂。 W/COrgbW  
维护也很方便的。 (2014-08-02 11:19)  JK:i-  
SwHrHj  
有种型号的探头,过真空法兰内部的电连接因腐蚀容易断路,且基本无法维修。 rvjPm5[t  
morningtech 2014-10-06 15:46
morningtech.cn 上有晶控仪的介绍,也有晶控技术介绍
morningtech 2014-10-21 10:50
Htd-E^/  
2014.10.20~24 第三届光学薄膜前沿国际会议(foc 2014) 同济大学中法中心 SYkLia(Ty  
Oct. 20th, 2014 ---- Oct. 24th, 2014 Sino-French Center, Tongji University tA'O66.  
会议日程表 请去会议网站 或 我司网站下载 morningtech.cn 3>FeTf#:  
h^ wu8E   
2014.10.22 17:10~18:10, 张贴报告 PII-4,与您相约.  Shanghai MorningTech
morningtech 2014-11-03 10:14
晶控仪频率自检,方便实用. $<R\|_6J  
配合晶振片阻力损害检查, 对晶控系统可以实现实时方便的在线监测.故障快速定位.
morningtech 2014-11-06 11:33
otxtc 2014-11-16 13:10
1Q[I$=-F  
简单易用
morningtech 2014-11-23 09:38
otxtc:[表情] [表情] [表情] P/!W']OO  
简单易用 (2014-11-16 13:10)  zf4\V F  
7\0}te  
谢谢 p<Oz"6_/~  
如果您有任何关于晶控方面的疑问,请与我们取得联系。 OrC}WMhd  
或许我们能帮到您,或您帮到我们,都是我们的进步。 MpNgp )%>  
联络方式在公司网页上有, morningtech.cn
morningtech 2014-11-26 22:40
这个得顶 71+ bn  
inkfly 2014-12-06 15:36
贵司的晶控仪非常OK。性价比超高。 cj\?vX\V  
这次去朋友那边,他把另一台以前的晶控仪也给换成你们的了。 /(u# D[  
morningtech 2014-12-11 09:23
晶控仪中多层精确计算方法,修正传统算法理论偏差,早已实现。 -V&nlP  
一般仪器也可以使用传统算法来修正,有兴趣的可以联络我们。高校、研究所免费试用。 JT! Cb$!  
邮箱:13621983193@163.com IhHKRb[  
QQ:   1292659135 Yosfk\D  
任职:上海膜林科技有限公司 D>-srzw  
公司地址:上海市松江区施惠路111弄5号,邮编201600 ZmDM=qN  
公司主页: morningtech.cn $ ~%w21?&  
morningtech 2014-12-18 22:08
公司网页 morningtech.cn 有说明书下载,<产品中心>|<资料下载> < V*/1{  
morningtech 2015-01-01 10:21
2014成果显赫,2015再创佳绩。 xpJ=yxO  
上海膜林科技有限公司致力于真空镀膜行业膜厚过程控制,推出的晶控仪XDM-3K、MXC-3K操作简单,精度高,稳定性高。 9tWpxrig%  
详情请参考morningtech.cn。 9vP#/ -g  
yinhe2008 2015-01-10 14:36
不错,适合初学者
morningtech 2015-01-12 08:25
yinhe2008:不错,适合初学者 (2015-01-10 14:36)  )H`V\ H[0P  
P#MUS_x  
,xR u74  
使用上适合初学者,流程符合光学镀膜工艺,容易理解。 *Z\AO'h=Z  
中文触摸屏,所见即所得,直观,操作简单,认识几个字就可以,对操作人员的要求非常低。非常适合最广大镀膜者的需求。 Bt#'6::  
0>46ZzxUZ  
实质中,还含有很多在其他品牌中不曾有过的高级光学镀膜工艺,也非常适合高校及研究所等高端使用。 *&I _fAh]  
\D};0#G0&  
morningtech 2015-01-23 08:43
结果是做出来的。
inkfly 2015-01-31 09:55
操作非常简单,好用。 y>:U&P^  
morningtech 2015-03-09 08:31
2015.09.02~09.05 深圳光博会.深圳会展中心 BR-wL3x b  
$BT[fJ'k  
上海膜林科技有限公司  预定展位 7F43 M IyT9",Pl  
EiaP1o  
morningtech 2015-03-25 18:50
上海膜林科技有限公司 k ]T  
推出的 MXC-3k , 可支持 144个膜系( 16层/膜系) 或 72个膜系(48层/膜系) R^=v&c{@  
石英晶体膜厚控制仪 a\ ~118 !  
morningtech 2015-04-13 17:41
上海膜林科技有限公司 系列晶控仪 z,hBtq:-$  
性能优异,质量可靠。 4;>HBCM4-  
也欢迎将您在晶控中遇到的 问题 与我们 沟通。
morningtech 2015-04-24 08:26
上海膜林科技 morningtech.cn 特别推出 适合高校研究所 研究级别应用的 晶控仪。欢迎高校研究所申请试用。
morningtech 2015-05-05 21:42
也非常适合 增透膜,高反膜 19-V;F@;  
操作简单
morningtech 2015-05-07 17:36
也非常适合 增透膜,高反膜 X 5X D1[  
操作简单
morningtech 2015-05-22 18:05
接组委会通知,为响应《国务院关于中国人民抗日战争暨世界反法西斯战争胜利70周年纪念日调休放假的通知》, 7 , _b  
2015年 深圳光博会 展期调整 为 2015.08.31~09.02. ,%BDBZ  
上海膜林科技有限公司,一流的光学镀膜膜厚过程控制仪器提供商,与您相约展位  7F43 。
yuliang518 2015-05-23 06:25
给个赞
morningtech 2015-06-02 08:37
yuliang518:给个赞 (2015-05-23 06:25)  E/wxX#]\  
$~/cxLcT  
好东西也得要宣传啊.
morningtech 2015-06-29 23:21
morningtech:晶控仪频率自检,方便实用. ]jn1T^D'  
配合晶振片阻力损害检查, 对晶控系统可以实现实时方便的在线监测.故障快速定位. (2014-11-03 10:14)  &Xh>w(u  
%8%|6^,  
半年多的事实证明,去年开发的频率自检功能结合 XDM-3K 或 MXC-3K晶控仪阻力损耗(发明专利已授权)功能,对晶振故障的快速定位真的非常有帮助。
查看本帖完整版本: [-- 晶控仪 XDM-3K --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计