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光行天下 -> 光学薄膜设计,工艺与设备 -> 晶控仪 XDM-3K [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

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morningtech 2013-11-18 14:24

晶控仪 XDM-3K

大家好, rUjr'O0  
上海膜林科技有限公司的新一代晶控仪 XDM-3K,全中文触摸屏,操作简单,含有多项专利技术,国产镀膜机轻松实现自动化。表现优异,详情请见公司网站:morningtech.cn 3~ZVAg[c  
欢迎 各位不吝赐教,帮助我们进步,也帮助大家共同进步。
morningtech 2013-11-21 16:28
可用晶振片     6MHz     bobkT|s^s  
频率范围     5MHz~6MHz, UAZ&*{MM^  
频率分辨率     0.005Hz     Y +54z/{  
频率稳定度     1ppm     Y;Gm,  
膜厚分辨率     0.002A     V?BVk8D};  
测量更新率     10Hz V bOLTc  
材料数     112 c&-$?f r  
膜系数     20, 可自动串接 +=Wdn)T  
可设定层数     112层/每膜系  u$8MVP  
可控制蒸发源数     3个, 0~10V, 16bit g"S+V#R  
数字输入     8路兼容LVTTL,功能自定义 ZiYzsn  
数字输出     10路常开继电器,功能自定义 {C6;$#7P  
探头数     1,支持六探头     d|RmU/)  
电源     90V~240V,AC, 20W +Uq:sfj,  
主机尺寸 XDM-3K     438*88*300 (mm,标准工业机柜宽, 2U高度, 深300mm)  q)+ n2FM  
控制方法     PID     8{ %9%{  
语言     多国语言(中、英、…)         #9VY[<  
通信接口     RS232    
morningtech 2013-11-29 10:56
传一个成膜过程实拍图 ,D,f9  
[attachment=52513]
morningtech 2013-12-05 08:37
问:什么是控制延迟? s,H(m8#>  
.fY<"2g  
成膜初始期间,晶控仪在打开蒸发源挡板后,将其功率保持在最后一个预熔阶段功率不变,直到一定延迟时间后才去自动控制蒸发源功率。这个延迟时间就是所谓的控制延迟时间。 &W// Ox )f  
在蒸发源挡板刚打开时,晶振片由于受到热冲击而产生异常频率变化(不是厚度带来的),此时晶控仪根据频率计算出来的厚度及速率不是真实值。所以晶控仪不宜马上自动调节功率,而是延迟一定时间后再去自动控制。 h\\2r>  
XDM晶控仪在材料参数中设置控制延迟时间。
morningtech 2013-12-14 09:28
问:什么是挡板延迟? T JS1,3<  
k+GnF00N^8  
有些晶控系统中,晶控的探头不受蒸发源挡板的遮挡。在挡板打开之前,晶控仪就能测量到沉积速率。这些系统中,需要在挡板打开时就已经建立起稳定的沉积速率。挡板延迟时间就是预熔阶段结束到挡板打开前,建立起沉积速率的最大等待时间! ik0Q^^1?Y  
挡板延迟功能的优点是,挡板开时就已经建立稳定速率。缺点也很明显,探头的位置与产品的位置差异大。 dt&Lwf/  
目前,XDM不支持挡板延迟功能。若要实现同样效果(挡板开始已经建立速率),可使用两台XDM晶控仪协作。 ]Wt6V^M'@  
另外,有的晶控仪二者都支持,也有晶控仪只支持挡板延迟。
morningtech 2014-01-05 21:56
负速率及负厚度问题的来源,对所有成膜工艺都存在,只是值大小不同反应不同。 l!V| T?  
XDM-3K 有额外付费的  专利功能,就是解决这个现象对真实厚度影响的。 y"p-8RVk{  
经常有超薄层(甚至10nm以下)的用户或愿意研究的可考虑,呵呵。
morningtech 2014-01-13 09:47
问:为什么在挡板打开一定时间内会出现负速率及负厚度?  b(-t)5^}  
?V:]u 3  
这是成膜工艺带来的正常现象。挡板打开后,一方面,晶振片由于材料沉积而频率下降,另一方面晶振片受到热冲击而频率上升。而晶控仪只根据频率变化来计算厚度及速率,所以如果此时频率总体上升,晶控仪就会输出负速率及负厚度。 IYg3ve`x  
不同的工艺,坩埚材料状态,甚至新、旧灯丝,即使相同工艺也会每次现象都不重合,这都属于正常现象,不需要进行特别处理。 ,xe@G)a  
{&u7kWD|  
留意下起始这个过程,如有稍大改变,说明某个条件变了,需要引起注意的。 Qwo9>ClC  
XDM-3K的额外付费功能,针对此现象对厚度进行修正。
morningtech 2014-01-26 09:35
问:什么是使用晶振片原始速率控制? Hs -.83V  
晶控仪显示的速率,通常是包含了比例系数在内的。调整比例系数时,尽管显示速率不变,但晶振片控制的实际速率已经被同时改变。 AnE_<sPA  
实际速率改变会带来一系列问题,比如膜厚分布。 u+'@>%7  
所以,XDM在配置参数中提供了这样一个选项,当用户选择后,XDM晶控仪实际控制速率就是材料中的目标速率,不再与比例系数相关,以保证工艺的重复性。
morningtech 2014-01-31 19:42
问:怎么手工控制功率,晶控仪只用于看速率? ^'53]b:  
xc<eU`-' b  
  1.最简单的办法是,XDM的蒸发源功率控制不外接就可以了,让XDM干着急去; gXLZ)>+A+  
  2.将材料设为定功率方式,外接旋转编码器的两端子分别接至<功率增加><功率减少>两个输入功能,此种方式下,旋转编码器将以0.1%的步进值增加或减少输出功率。如再将输入功能<定功率/自动>接出至按钮(如旋转编码器),则可以通过该按钮切换控制模式,看看手工与XDM到底谁控得更稳。
morningtech 2014-02-17 14:47
ITAE是什么意思? })Mv9~&S  
ITAE是英文 <Integral Time Absolute Error> 的首字母,时间乘以误差绝对值|t*delta(E)|积分。 h*%0@  
当以此值作为最优控制目标时,要求后期的误差越小,控制系统才越优化。 imCl{vt(kj  
它是一种具有很好工程实用性和选择性的控制系统性能评价指标。 '[yqi1 &  
`NWgETf^#  
速率控制的传递函数(阶跃响应)近似为一阶惯性延迟,里面有三个重要的参数 Gain, Time Const, Dead Time,即增益,时间常数和延迟时间。它们描述了系统的响应与激励之间的关系。 +;wqX]SD&  
将PID控制引入控制系统后,如按照ITAE指标最优控制,则PID控制三参数与传递函数中的三个参数之间存在转换关系。(如按其它指标,如ISE,则转换关系是不一样的!) #JR,C -w  
(6#yw`\  
XDM 速率控制是采取 PID方式的,只是在显示方法上如下区分: :;*#Qh3"  
若ITAE未勾选,显示和填写的是 P,I,D参数。 W*rU,F|9  
若ITAE勾选,  显示和填写的是 G,Tc,Dt参数,由XDM自动转换出 ITAE指标下的最优 PID 参数。 K9O,7h:x  
. (*kgv@3x  
//用户要彻底理解此中缘由,请参考自动控制方面的书籍
morningtech 2014-02-28 15:37
在发一个实拍图 nL(%&z \4  
morningtech 2014-03-08 09:37
上图是单个晶振片,用 XDM晶控仪 控制厚度和速率,总层数65层。 _?]BVw  
成膜结果:[attachment=54553]
morningtech 2014-03-27 22:50
小顶一下,从实拍图中看出工艺的朋友请说话。
morningtech 2014-04-10 18:55
有几种手段控制  初始速率过冲
morningtech 2014-04-20 19:29
附加的厚度补偿功能,可以镀制超薄层!
morningtech 2014-05-12 10:23
有朋友说 2台 3x0显示 频率为 0。昨天带着我公司的XDM-3K及虚拟探头,过去检查一下,都是探头及电缆问题。  kulQR>u  
问题虽不大,但影响生产及实验,最近还有好几位这样的朋友咨询。 )Rhff$  
特小结一下: 'D0X?2  
1.  如果没有频率,一般是 探头及电缆连接 有 短路或断路 这样的问题,这次两个都是断路,只是位置不同; {Sr=SE  
     接 XDM-3K,显示损耗值 在 100%附近,显然是 断路。 VmOFX:j!,  
     补充说明:XDM-3K就是以断路做基准100%的。 显然,如果是短路,则损耗值将显示为小量。这在探头维护时作用非常明显,呵呵。 S-LZ(o{ZL  
2.  速率异常,问题复杂,得具体分析; yhtvr5z1  
2.  晶控仪自身不容易坏。
morningtech 2014-05-18 11:47
[attachment=56300] ]zvVY:v  
附上晶控仪的图片。 Id.Z[owC`Y  
操作非常简单,性能一流。
morningtech 2014-06-05 08:51
XDM-3K是新一代晶控仪,晶振片使用寿命长, 膜厚控制精度高,速率控制效果好。 u $% D9Z^  
研究级性能,平民价格。 16[-3cJ T  
适合于生产各类滤光片以及对膜厚精度要求高的过程。 :<t{ =0G  
Vh#Mp!  
上海膜林科技有限公司 pg?i F1  
r}y[r}vk  
morningtech 2014-06-26 11:15
超薄层及对厚度精度要求高,控制可能。 ] [HGzHA  
2014.06, XDM-3K增加了用U盘导入膜系功能,提供pc软件给用户进行文件格式转换。 iO9nvM<  
inkfly 2014-07-09 10:12
朋友去年开始用这个XDM-3K,效果不错,精度不比进口的差,操控也很简单,赞一个。
morningtech 2014-07-19 14:13
谢谢支持。 vhYMWfbY  
周一去嘉兴帮朋友看晶控3x0没有频率,用XDM-3K一检查,仍然是探头断路问题。 aW=By)S!Y  
跟15楼时的情形稍许不同的是,这次是探头没有保养,里面比较脏而已。 :PFx&  
morningtech 2014-08-02 11:19
morningtech:谢谢支持。 }O,U2=Hw`]  
周一去嘉兴帮朋友看晶控3x0没有频率,用XDM-3K一检查,仍然是探头断路问题。 5:Yck<  
跟15楼时的情形稍许不同的是,这次是探头没有保养,里面比较脏而已。 ~9JW#HHzn  
 (2014-07-19 14:13)  j>0<#SYBu  
On{~St'V  
这种问题很常见,探头其实真没有大家想的那么复杂。 10C 2=  
维护也很方便的。
morningtech 2014-08-06 22:10
上海膜林科技有限公司 将携 XDM-3K 晶控仪 参展2014.09.02~05深圳光博会, 展位7H19,欢迎惠临。 hD nM+4D  
2014.10.20~24同济大学第3届光学薄膜前沿国际会议
morningtech 2014-08-26 22:21
上海膜林科技有限公司 将携 XDM-3K 晶控仪 参展2014.09.02~05深圳光博会, 展位7H19,欢迎惠临。 .UM<a Ik  
2014.10.20~24同济大学第3届光学薄膜前沿国际会议
morningtech 2014-09-25 08:53
morningtech:这种问题很常见,探头其实真没有大家想的那么复杂。 O$a#2p&  
维护也很方便的。 (2014-08-02 11:19)  %$Aqbd  
"$GK.MP5  
有种型号的探头,过真空法兰内部的电连接因腐蚀容易断路,且基本无法维修。 K!GUv{fp  
morningtech 2014-10-06 15:46
morningtech.cn 上有晶控仪的介绍,也有晶控技术介绍
morningtech 2014-10-21 10:50
GGH;Z WSe  
2014.10.20~24 第三届光学薄膜前沿国际会议(foc 2014) 同济大学中法中心 d-~vR(tU  
Oct. 20th, 2014 ---- Oct. 24th, 2014 Sino-French Center, Tongji University p~h4\ .*`  
会议日程表 请去会议网站 或 我司网站下载 morningtech.cn sp|q((z{  
xJ-*%'(KZ  
2014.10.22 17:10~18:10, 张贴报告 PII-4,与您相约.  Shanghai MorningTech
morningtech 2014-11-03 10:14
晶控仪频率自检,方便实用. C1 W>/?XC  
配合晶振片阻力损害检查, 对晶控系统可以实现实时方便的在线监测.故障快速定位.
morningtech 2014-11-06 11:33
otxtc 2014-11-16 13:10
VD/&%O8n  
简单易用
morningtech 2014-11-23 09:38
otxtc:[表情] [表情] [表情] BFh$.+D  
简单易用 (2014-11-16 13:10)  Nd!c2`  
'#H")i  
谢谢 ZMdW2_*F   
如果您有任何关于晶控方面的疑问,请与我们取得联系。 K_#UZA< Y  
或许我们能帮到您,或您帮到我们,都是我们的进步。 l3p3tT3+  
联络方式在公司网页上有, morningtech.cn
morningtech 2014-11-26 22:40
这个得顶 fsvYU0L  
inkfly 2014-12-06 15:36
贵司的晶控仪非常OK。性价比超高。 UX_I6_&  
这次去朋友那边,他把另一台以前的晶控仪也给换成你们的了。 C9jbv/c  
morningtech 2014-12-11 09:23
晶控仪中多层精确计算方法,修正传统算法理论偏差,早已实现。 kCA5|u  
一般仪器也可以使用传统算法来修正,有兴趣的可以联络我们。高校、研究所免费试用。 <AUWby,"  
邮箱:13621983193@163.com ,4Y*:JU4  
QQ:   1292659135 kG^dqqn6  
任职:上海膜林科技有限公司 <TxC!{<  
公司地址:上海市松江区施惠路111弄5号,邮编201600 2U9&l1P=  
公司主页: morningtech.cn bx>i6 R2  
morningtech 2014-12-18 22:08
公司网页 morningtech.cn 有说明书下载,<产品中心>|<资料下载> r7I B{}>-  
morningtech 2015-01-01 10:21
2014成果显赫,2015再创佳绩。 VXIQw' Cq  
上海膜林科技有限公司致力于真空镀膜行业膜厚过程控制,推出的晶控仪XDM-3K、MXC-3K操作简单,精度高,稳定性高。 (X}@^]lpa  
详情请参考morningtech.cn。 (1){A8=?o  
yinhe2008 2015-01-10 14:36
不错,适合初学者
morningtech 2015-01-12 08:25
yinhe2008:不错,适合初学者 (2015-01-10 14:36)  X?df cS*!n  
Z> 74.r  
0Nr\2|  
使用上适合初学者,流程符合光学镀膜工艺,容易理解。 h<3p8eB  
中文触摸屏,所见即所得,直观,操作简单,认识几个字就可以,对操作人员的要求非常低。非常适合最广大镀膜者的需求。 $qm~c[x%  
} uQ${]&D  
实质中,还含有很多在其他品牌中不曾有过的高级光学镀膜工艺,也非常适合高校及研究所等高端使用。 3g'+0tEl  
QIAR  
morningtech 2015-01-23 08:43
结果是做出来的。
inkfly 2015-01-31 09:55
操作非常简单,好用。 s4,(26y  
morningtech 2015-03-09 08:31
2015.09.02~09.05 深圳光博会.深圳会展中心 0I zZKRw  
PDC]wZd/  
上海膜林科技有限公司  预定展位 7F43 ,")F[%v  
(cs~@  
morningtech 2015-03-25 18:50
上海膜林科技有限公司 POGw`:)A  
推出的 MXC-3k , 可支持 144个膜系( 16层/膜系) 或 72个膜系(48层/膜系) =_QkH!vI  
石英晶体膜厚控制仪 )zJ=PF  
morningtech 2015-04-13 17:41
上海膜林科技有限公司 系列晶控仪 }O*WV1  
性能优异,质量可靠。 :s*>W$Wp4  
也欢迎将您在晶控中遇到的 问题 与我们 沟通。
morningtech 2015-04-24 08:26
上海膜林科技 morningtech.cn 特别推出 适合高校研究所 研究级别应用的 晶控仪。欢迎高校研究所申请试用。
morningtech 2015-05-05 21:42
也非常适合 增透膜,高反膜 kxo.v|)8  
操作简单
morningtech 2015-05-07 17:36
也非常适合 增透膜,高反膜 V^En8  
操作简单
morningtech 2015-05-22 18:05
接组委会通知,为响应《国务院关于中国人民抗日战争暨世界反法西斯战争胜利70周年纪念日调休放假的通知》, O5-;I,)H  
2015年 深圳光博会 展期调整 为 2015.08.31~09.02. e &3#2_  
上海膜林科技有限公司,一流的光学镀膜膜厚过程控制仪器提供商,与您相约展位  7F43 。
yuliang518 2015-05-23 06:25
给个赞
morningtech 2015-06-02 08:37
yuliang518:给个赞 (2015-05-23 06:25)  %#9P?COs&W  
xjrlc9  
好东西也得要宣传啊.
morningtech 2015-06-29 23:21
morningtech:晶控仪频率自检,方便实用. kjX7- ZPY  
配合晶振片阻力损害检查, 对晶控系统可以实现实时方便的在线监测.故障快速定位. (2014-11-03 10:14)  zn^v!:[  
~#t*pOC5BR  
半年多的事实证明,去年开发的频率自检功能结合 XDM-3K 或 MXC-3K晶控仪阻力损耗(发明专利已授权)功能,对晶振故障的快速定位真的非常有帮助。
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