CIOE2013：深圳市华腾半导体设备有限公司HT-7900测试分选机

CIOE2013：深圳市华腾半导体设备有限公司HT-7900测试分选机 E*'O))  
高速：单颗LED测试周期≥120ms，其中测试时间≥35ms。 _R8-Hj E  
高品质：搭配日本原装测试仪，相关测试项目之GRR小于10%。 LXx3  
操作方便：PLC控制，全彩液晶触摸屏，高品质人机界面，中英文显示。 Su-+~` "  
易于维护：机械稳定，布局合理，出错报警自动提示 T$q]iSgu