Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍

法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。

该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（400*300）
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）

参数：上海瞬渺光电技术有限公司联系人：马忠华联系电话：021-34635258 15618996225 邮箱：saleschina@rayscience.com

.S'fM]_# 型号	'#i]SU&* 采样数	^=Ct Aa2 感光尺寸（mm²）	XH:gQ9FD 精度/动态范围	FNm6/_u3 光谱范围	!8@rK$DB 采样速率
C$td{tM SID4	rKQASRF5* 120×160	&<V_[Wh" 3.6×4.8	,Q=)$ `% 10nm RMS/100μm	:n4:@L<%H 350-1100nm	@ZkAul0@ 60fps
-iDEh_pts SID4UV-HR	n*i'vtQ8 250×250	QYTTP6 Gz+ 8.0×8.0	q$?7 ~*M;x 10nm RMS/200μm	b;J0'o^G\| 190-400nm	*Qg5Z 30fps
y+"; SID4 NIR	TjUZv1(L 120×160	B>\|U-[A 3.6×4.8	!P~ PF:W~\| 15nm RMS/100μm	\|aS~"lImh 1500-1600nm	'y6!%k* 60fps
/LI~o~m1) SID4-HR	>1r[]&8 300×400	{Bq"$M!Y 8.9×11.8	F!)M<8jL&9 10nm RMS/500μm	wyrI8UY 400-1100nm	xZP>g 10fps
"37@Zt SID4 DWIR	Z<N&UFw7QJ 72×96	=(.mf 10.08×13.44	K=c=/`E 75nm RMS	d{2y/ 3-5μm&8-14μm	xxoHH#a 50fps
A3MZxu=':3 SID4 BIO	ii_\|)udz 300×400	O2q=gYX>\ 8.9×11.8	vLBee>$ 500μm	&Mhv XHI 350-1100nm	NMl ?Y uEv 10Hz

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