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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         B^zg#x#8  
*14:^neoI  
)8}k.t>'s  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 @]}/vsI m  
fz|_c*&64  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 \ISg6v{/  
特点: O&;d82IA{  
高分辨率(400*300) ; qbK[3.  
消色差功能 AS~!YR  
测量可重复性高 h&d"|<  
对振动不敏感 C0Fd<|[  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 s?->2gxhx  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) +|pYu<OY  
,g*3u  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
n4 N6]W\5  
型号
]>k8v6*=  
采样数
?@FqlWz,  
感光尺寸(mm&sup2;)
ohJDu{V  
精度/动态范围
y x#ub-A8  
光谱范围
$9X?LGUz  
采样速率
g=qaq  
SID4
EowzEGq!a5  
120×160
#;@I.  
3.6×4.8
h>cjRH?e  
10nm RMS/100μm
|F<iu2\  
350-1100nm
/z`tI  
60fps
KQ81Oxu*C  
SID4UV-HR
d^!3&y&  
250×250
w{*V8S3h9  
8.0×8.0
3#]IIj`\  
10nm RMS/200μm
sN?Rx}  
190-400nm
~[og\QZX  
30fps
aE3eYl9u  
SID4 NIR
e00 }YWf%  
120×160
(RG "2I3  
3.6×4.8
-m>3@"q  
15nm RMS/100μm
\awkt!Wa  
1500-1600nm
!io1~GpKS  
60fps
; 8eGf'  
SID4-HR
41+WIa L  
300×400
}oSgx  
8.9×11.8
g&EK^q  
10nm RMS/500μm
3k(tv U+eC  
400-1100nm
AcXVfk z  
10fps
>b5 ;I1o=y  
SID4 DWIR
PN<Vqt W  
72×96
y^nT G  
10.08×13.44
uWFyI"  
75nm RMS
:2 :VMIa  
3-5μm&8-14μm
f5un7,m  
50fps
aot2F60J,  
SID4 BIO
5VQ-D`kE+  
300×400
S+- $Ih`[  
8.9×11.8
WQiRbbX  
500μm
pYr+n9)^  
350-1100nm
r%ebC   
10Hz
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