Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍

法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。

该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（400*300）
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）

参数：上海瞬渺光电技术有限公司联系人：马忠华联系电话：021-34635258 15618996225 邮箱：saleschina@rayscience.com

@$'pMg 型号	:HwdXhA6 采样数	>239SyC-, 感光尺寸（mm²）	E AZX 精度/动态范围	`( w"{8laB 光谱范围	V )1.)XC 采样速率
dfKGO$}V SID4	\KzJNCOT 120×160	Q J-\|zS.W 3.6×4.8	/\|<SD.: 10nm RMS/100μm	`*BV@ 350-1100nm	T\g+w\N 60fps
@0]WMI9B"B SID4UV-HR	~KYzEqy 250×250	W]bgWKd 8.0×8.0	nO!&;E& 10nm RMS/200μm	"j8)l4} 190-400nm	9x\|`XAB 30fps
C*3St`2@9 SID4 NIR	Em^~OM3U$q 120×160	^m&I^\ 3.6×4.8	~LZrhwVj$ 15nm RMS/100μm	>TY;l3ew 1500-1600nm	MIn_?r 60fps
MfHOn YV SID4-HR	!\|UX4 300×400	{Dk!<w I) 8.9×11.8	s\pukpf@ 10nm RMS/500μm	{\CWoFht> 400-1100nm	4(LLRzzW 10fps
yCav;ZS_ SID4 DWIR	T!ZjgCY} 72×96	x\(# 10.08×13.44	rq4g~e!S 75nm RMS	)#cZ& O 3-5μm&8-14μm	W/hzo*o'g 50fps
{sGEopd8]q SID4 BIO	aHmg!s}& 300×400	)E*f30 8.9×11.8	6]~/`6Dub 500μm	{+=hYB\|& 350-1100nm	E;{RNf\| 10Hz

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