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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         .M([n-  
8[L]w^  
,&iZ*6=X?0  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 s7"5NU-  
g[ O6WZ!F_  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 {VT**o  
特点: i<-a-Z+^  
高分辨率(400*300) ;X%8I$Ba,  
消色差功能 "9O8#i<Nr  
测量可重复性高 P0ZY;/e5h  
对振动不敏感 1BOv|xPjZ  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 N?><%fra  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) =i:,")W7=  
a Juv{  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
6!Uk c'r  
型号
0;tu}]jnN  
采样数
<|1Khygv  
感光尺寸(mm&sup2;)
NuR3]Ja\0  
精度/动态范围
L!0}&i;u~5  
光谱范围
YYF.0G}  
采样速率
BDT"wy8  
SID4
iH>IV0 <  
120×160
~ugH2jiB  
3.6×4.8
?e2G{0V  
10nm RMS/100μm
Sv t%*j  
350-1100nm
k%?qN,Cl  
60fps
pMV?vH  
SID4UV-HR
79Ur1-]/  
250×250
[7h/ 2La#  
8.0×8.0
iiv`ji  
10nm RMS/200μm
4P}d/w?'KL  
190-400nm
b]g#mQ  
30fps
&/8B (0<  
SID4 NIR
JQ9+kZ  
120×160
8u7QF4 Id  
3.6×4.8
g5lK&-yu]  
15nm RMS/100μm
?D['>Rzu  
1500-1600nm
o]@'R<F(u  
60fps
Qq3>Xv <  
SID4-HR
?^WX] SAl  
300×400
6f)7*j~  
8.9×11.8
)WsR 8tk  
10nm RMS/500μm
#@m6ag.  
400-1100nm
IAMtMO^L  
10fps
G6pR?K+  
SID4 DWIR
iz3Hoj  
72×96
 GjyTM  
10.08×13.44
't+'rG6x  
75nm RMS
7ea%mg\  
3-5μm&8-14μm
py$i{v%  
50fps
~(]'ah,  
SID4 BIO
<jqL4!<  
300×400
'#lc?Y(pJ2  
8.9×11.8
S^{tRPF%d  
500μm
V$bq|r  
350-1100nm
8=u88?Bh  
10Hz
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