Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍

法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。

该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（400*300）
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）

参数：上海瞬渺光电技术有限公司联系人：马忠华联系电话：021-34635258 15618996225 邮箱：saleschina@rayscience.com

^ZCD ~P_= 型号	GLODVcjf 采样数	fN2lLn9/u 感光尺寸（mm²）	4I[P> 精度/动态范围	$:^td/p J 光谱范围	8FhdN 采样速率
2Khv>#l SID4	!<h)w#>en 120×160	ugBCBr 3.6×4.8	!'I8:v&D 10nm RMS/100μm	}QmqoCAE~m 350-1100nm	GA.8@3 60fps
1 -b_~DF SID4UV-HR	`GLx#=Q 250×250	eJX#@`K 8.0×8.0	SS2%qv 10nm RMS/200μm	@}ZVtrz 190-400nm	D m9sL! 30fps
!`r$"}g SID4 NIR	e}W)LPR! 120×160	k;W XB\|k 3.6×4.8	5-A\9UC*@ 15nm RMS/100μm	'hf8ZEW9' 1500-1600nm	D/' dTrR 60fps
E(\|>Ddv B& SID4-HR	t`QENXA} 300×400	P'rb%W 8.9×11.8	>-c8q]()ly 10nm RMS/500μm	K> e7pu 400-1100nm	!_(Tqyg& 10fps
:E?V. SID4 DWIR	\|f##5fB 72×96	?h2}#wg 10.08×13.44	&m vSiyKX 75nm RMS	,z?':TZ 3-5μm&8-14μm	bPMhfK2 % 50fps
[00m/fT6 SID4 BIO	D)Dr__x 300×400	MO]&bHH7; 8.9×11.8	i mM_H;-X 500μm	tnIX:6 350-1100nm	{>;R?TG]$ 10Hz

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