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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                          S=o1k  
DhwFD8tT  
<QyJJQM  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 :! h1S`wS  
y[s* %yP3l  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 .}>DEpc:n  
特点: W~J>Srt  
高分辨率(400*300) <4{,u1!t  
消色差功能 j~eYq  
测量可重复性高 jcWv&u|  
对振动不敏感 $Xf gY1S  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 ESl-k2  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) ,3t('SE  
y^#jM  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
L)5YX-?  
型号
8]N  
采样数
8v},&rhPQq  
感光尺寸(mm&sup2;)
YI=03}I  
精度/动态范围
8Q&hhmOnz  
光谱范围
Y7yh0r_  
采样速率
)2|'`  
SID4
`[<j5(T  
120×160
5h9`lS2  
3.6×4.8
Lzzf`jN]  
10nm RMS/100μm
u.t(78N  
350-1100nm
"(6]K}k@  
60fps
z:hY{/-  
SID4UV-HR
x:`]uOp  
250×250
%C_RBd  
8.0×8.0
Vj7(6'Hg  
10nm RMS/200μm
+)C?v&N  
190-400nm
;O*y$|+PA  
30fps
X&1R6 O  
SID4 NIR
}xx[=t=nUf  
120×160
#<X+)B6t  
3.6×4.8
T-)Ur/qp  
15nm RMS/100μm
$6~D 2K  
1500-1600nm
]VifDFL}  
60fps
n{dl- P  
SID4-HR
;Ocih<4k  
300×400
B{wx"mK  
8.9×11.8
bDa(@QJ-  
10nm RMS/500μm
j$h.V#1z  
400-1100nm
aVI/x5p~  
10fps
>yC1X|d~t  
SID4 DWIR
d`D<PT(\  
72×96
7q>WO  
10.08×13.44
nYJ)M AG@  
75nm RMS
DGl_SMJb  
3-5μm&8-14μm
kw8?:: <  
50fps
Xqt3 p6  
SID4 BIO
SomA`y+ERn  
300×400
6Y^UC2TBs  
8.9×11.8
_RT3Fk  
500μm
Pa%;[hbn  
350-1100nm
C%LRb{|d  
10Hz
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