Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍

法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。

该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（400*300）
消色差功能
测量可重复性高
对振动不敏感
易于使用，Firewire IEEE1394接口
结构紧凑（可用笔记本电脑控制）

参数：上海瞬渺光电技术有限公司联系人：马忠华联系电话：021-34635258 15618996225 邮箱：saleschina@rayscience.com

;,&1 型号	P(r}<SM 采样数	W,n0'";') 感光尺寸（mm²）	:!EOg4%i 精度/动态范围	cE=v566 光谱范围	V/!8q`lYNJ 采样速率
pKSVT SID4	dQFx]p3L 120×160	WS0RvBvb 3.6×4.8	v4<x 4 10nm RMS/100μm	~#~Kxh 350-1100nm	,Gd8 < 60fps
J_mpI.^Bsf SID4UV-HR	_zO,VL 250×250	=l3*{ ?G 8.0×8.0	BT+ws@\|[ 10nm RMS/200μm	WYE[H9x1? 190-400nm	yz2NB?) 30fps
dDk<J;~jGJ SID4 NIR	/m*vY` 120×160	1<qq69x 3.6×4.8	3C8'@-U 15nm RMS/100μm	!-4pr[C 1500-1600nm	sOW-GWSE< 60fps
ODM<$Yo:d SID4-HR	'bg%9} 300×400	D`.CXFI+U 8.9×11.8	.Isg1qrC 10nm RMS/500μm	6q8qq/h) 400-1100nm	P>kS$U) 10fps
W"WvkW>- SID4 DWIR	,k@fXoW 72×96	]?Ru~N} 10.08×13.44	I#f<YbzD 75nm RMS	1}!f.cWV( 3-5μm&8-14μm	BZx#@356N 50fps
gzHjD-g-< SID4 BIO	$0K9OF9$ 300×400	te'<xfG 8.9×11.8	!=0N38wA 500μm	-]PW\}w1 350-1100nm	f.'o4HSj 10Hz

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