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2012-07-23 14:25 |
2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程
TracePro于杂散光分析快速上手培训课程 ZXXJ!9-&+J }R%*J TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 3Pp+>{2_? TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象,并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme brG!TJ Language,帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 zF|c3ap %gj7KF 课程主要针对光学设计从业人员,在课程结束后,能达到以下三方面的效果:能使用软件正确有效的设定模型的光学性质,计算和分析结果,对模型进行优化分析设计。 E~VV19Bv]/ 课程内容精彩丰富,相信透过深入浅出的教学方式,让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领! /qMiv7m~Q ] ^?w0A `&'{R<cL ^q#[oO 报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 JYmYX- l)~U8 请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn
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