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2012-07-23 14:25 |
2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程
TracePro于杂散光分析快速上手培训课程 @~%r5pz6 `b^Ru+(dM TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 !7kG!)40 TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象,并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme #*KNPh Language,帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 8p: j&F @w?P7P<O` 课程主要针对光学设计从业人员,在课程结束后,能达到以下三方面的效果:能使用软件正确有效的设定模型的光学性质,计算和分析结果,对模型进行优化分析设计。 @0F3$ 课程内容精彩丰富,相信透过深入浅出的教学方式,让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领! ;LMJd@ 2Tagr1L * iF]n2g: 28UU60 报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 i*@<y/&' * /:x sI 请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn
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