aifash |
2012-07-23 14:25 |
2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程
TracePro于杂散光分析快速上手培训课程 \?aOExG
I 9c#L{in TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 .0rJIO TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象,并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme u!sSgx= Language,帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 /M5=tW#e ]%b0[7[ 课程主要针对光学设计从业人员,在课程结束后,能达到以下三方面的效果:能使用软件正确有效的设定模型的光学性质,计算和分析结果,对模型进行优化分析设计。 A)= X?x 课程内容精彩丰富,相信透过深入浅出的教学方式,让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领! !$g(& s9^"wN YQ ;tZ}i4Ud ^v()iF
! 报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 l%v hV& 2b vYF;<r 请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn
|
|