cyqdesign |
2011-08-21 00:49 |
智能光控膜厚监控仪研发成功
近日,成都中科唯实公司通过自主设计,完成光学膜厚智能测控仪研发任务。 Htl6Mr*{ %!%3jo0t 传统的光学镀膜采用极值法膜厚监控方式,正确判定极值点是镀膜操作人员的重要操作技术,它决定着每一炉镀膜的质量。镀膜过程中镀膜操作人员必须全神贯注地注视着膜厚监控仪显示膜厚相对值的变化,以正确判定这一层的厚度是否达到。由于一个光学元件的镀膜层数往往有数层到数十层之多,所以对一个镀膜人员来说劳动强度相当大,稍不留意就会出废品。长久以来,科技人员一直在寻找各种方法克服这种现象。 < | |