xiong0515 |
2011-06-09 17:13 |
杂散光分析时遇到runtime error 和软件崩溃问题
RT 对一个相对复杂的系统(用TracePro4.16的expert版,包含双折射晶体、自定义光栅、还有较多的螺纹)杂散光分析时,用的simulation模式,可是还是出现如下问题 ^`un'5Vk 首先是runtime error DPi_O{W> 720PjQ [attachment=34148] A-:O`RK "KcA 另外还有
+)JpUqHa ~l;[@jsw F [attachment=34149] r0p w_j d%l{V6 [attachment=34150] dJ"iEb|4 %$%&m1Y 请问此问题何解啊何解???头疼啊,已经用simulation模式了,光线阈值又不能设太低,要不然像面根本就没有杂散光光线,重点采样也初步设了点, h -iJlm 这个,是不是软件版本问题啊,感觉这个版本有点不稳定…… 可是又找不到更高的可用版本,求推荐版本啊 {vAE:W.s 这里还有一个重要的问题是光栅的问题……这个比较复杂,这里也说不清楚……额,我怎么这么多问题,头都大了,希望各位帮忙啦,谢谢各位神奇的斑竹啦
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