xiong0515 |
2011-06-09 17:13 |
杂散光分析时遇到runtime error 和软件崩溃问题
RT 对一个相对复杂的系统(用TracePro4.16的expert版,包含双折射晶体、自定义光栅、还有较多的螺纹)杂散光分析时,用的simulation模式,可是还是出现如下问题 ,|<2wn#q 首先是runtime error ba^B$$?B o PV<=wc^ [attachment=34148] s{4|eYR }_vE
lBh6$ 另外还有 0,1:l3iu1M oJA%t-&%R [attachment=34149] <Wn={1Ts" E LZCrh6* [attachment=34150] FctqE/>}I B"ZW.jMaI 请问此问题何解啊何解???头疼啊,已经用simulation模式了,光线阈值又不能设太低,要不然像面根本就没有杂散光光线,重点采样也初步设了点, )7l+\t 这个,是不是软件版本问题啊,感觉这个版本有点不稳定…… 可是又找不到更高的可用版本,求推荐版本啊 4C\>JGZvq 这里还有一个重要的问题是光栅的问题……这个比较复杂,这里也说不清楚……额,我怎么这么多问题,头都大了,希望各位帮忙啦,谢谢各位神奇的斑竹啦
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