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aifash 2011-04-22 10:34

原厂认证系列~TracePro于杂散光分析与宏语言应用[北京6月]

TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 ]=5nC)|  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象,并在课程中引入基本的TracePro Macro 6PETIs  
Scheme Language,让您可以藉由撰写Macro Scheme 程序,轻松建立属于您的自动化杂散光分析程序。 :-x F=Y(;  
此训练课程通过Lambda Research Corp.原厂认证,全程采用一人一机、实机操作的方式进行,并会有资深工程师随堂提供及时的协助,帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。课程中除了介绍如何使用TracePro 完成杂散光分析之外,并授以如何使用TracePro 所提供的宏程序语言完成自动化杂散光分析。本课程全程采用小班教学,互动性佳,轻松学习,同时为您解决使用仿真软件时所遭遇到困难。课程内容精彩丰富,并教材多取自实际案例,相信透过深入浅出的教学方式,必定能让您完全掌握杂散光分析的技巧并且使其自动化进行分析。 =;(wBj  
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时间
内容
09:00~16:00 X( m&  
1.           简介使用 TracePro®分析系统杂散光 psb$rbu7[  
2.           Point Source Transmittance (PST) 分析 ;\yVwur  
3.           杂散光系统之测试光源设定 ]ee%=+'  
4.           使用重点取样(Importance Sampling)加速杂散光分析 ^cO^3=  
5.           自动重点取样(Auto Importance Sampling) rYI9?q  
6.           TracePro®之各项分析工具与其参数设定 '2+Rb7V  
7.           TracePro® 光学材料特性之仿真原理与应用 ADoxma@  
8.           TracePro®杂散光辅助分析工具 kFPZ$8e  
9.           杂散光路径分析工具(Ray Path Sorting Tool) Fyu CYg \p  
10.       简介 TracePro® Macro Language q.L0rY!  
11.       基础 Scheme 语法介绍 <<>?`7N  
12.       使用 TracePro® 宏指令,撰写自动化程序 bqmOfGM  
13.       撰写自动化杂散光分析程序 8NLTq|sW  
14.       蒙特卡罗光线追迹之原理与极限蒙特卡罗光线追迹之原理与极限 V9 <!pMj  
建议对象:已熟悉TracePro 基础操作之相关从业人员 f]F]wg\_f  
招生名额:10人(请自带notebook) uVJ;1H!  
费用:美国原厂课程,两天价值3,500美元(机票加课程费用) q7-Eu4w  
现在,您只需付RMB 3,500 (维护期内客户享有8折优惠) ,课后发给TracePro培训zhenhshu及TracePro POLO衫 yw'b^D/  
日期:2011年6月27日~6月28日(星期一~二) K9Dxb  
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讲师介绍 &f1dCL%z7  
现任Lambda Research Corporation台湾分公司资深开发工程师 p;av63 i  
专长光学设计与优化算法 |ToCRM  
时间:20110627~0628(星期~) 09:00~16:00 "7_6iB&@<  
地点:北京 \N1 G5W  
主办:APIC爱尔发上海分公司‧Lambda Research公司 F5Tah{  
报名:请于 620传真或e-mail报名表并完成汇款,座位有限,额满为止 .%>UA|[~:  
电话:021-64052328  曹小姐  传真 : 021-64052327  e-mail:candy@apic.com.cn W.h6g8|wx  
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报名表请连结下载
huangshan 2011-04-25 11:18
%证*书  也成敏感词了?
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