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2005-08-12 16:36 |
干涉量测技术应用与设备产品说明会——北京——免费
详情请点击http://www.infotek.com.cn/2004_even/20050822/20050822.html 1Gt/Tq$_b 主办单位 讯技光电科技(上海)有限公司 EM7+VO( 日期 2005年9月13日 13:00-17:00 共计4小时 J$4wL
F3 地点 上海 JGC=(; |9"p|6G?B 课程大纲 !3mA0-!+ 13:00~16:00 浅谈干涉条纹分析量测软件-Intelliwave及应用案例介绍(Raymond) tt%MoQ) 16:00~16:10 中场休息 48|s$K ^ 16:10~17:00 干涉仪介绍(光峰科技 刘信炷经理) {X2`&<i6 ze_{=Cv&Y 讲师介绍 KbL V'%D Raymond Castonguay 在1996年成立了Engineering Synthesis Design Inc这家公司 , 提供干涉量测方面的产品, 主要着重在光学、纤维光学和自动化产业。他拥有 15 年光学产业经验并拥有五个在散光技术上的专利奖项。Raymond Castonguay是 IntelliWave干涉测量分析软件的首要开发者,IntelliWave这套软件可与多种不同类型的干涉仪器搭配 . 他曾经服务于Breault Research Organization 担任研发项目经理 10年, 主要研究领域含括干涉量测、机器自动化和散光量测产品。Raymond Castonguay在亚利桑那大学光学科学中心取得航空工程学士学位,他受过的训练包括光学整合、电子学、机器自动化和软件控制。 nA|.t[v M
:3u@06a nd;fy$<J\ 刘信烓 hlu:=<B 光峰科技资深经理(2001-2003) pA{ 5V9 光群雷射资深经理(1996-2001) ;})5:\h 美国 CIMCOR 公司VP (1991-1996) "#v=IJy&r 美国纽约理工学院光电中心资深研究所员 (1985-1991) JKer//ng4 美国纽约卅立大学石溪分校?机硕博士(1979, 1985) ^8 ' sib
交通大学电子物理系学士 (1976) k5kdCC0FCk 主要研究: $^&ig 1. 光学干涉仪: Fizeau, Shearing yCJ Fo 2. 非光学表面对象三度空间量测 iv phlw ^:9$@+a 讯技光电电话021-54071828
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