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2005-08-12 16:34 |
干涉量测技术应用与设备产品说明会_北京_免费
详情请点击http://www.infotek.com.cn/2004_even/20050822/20050822.html UEeD Nl$^u 主办单位 讯技光电科技(上海)有限公司 =]r<xON%S 日期 2005年9月13日 13:00-17:00 共计4小时 ~9.0:Fm< 地点 上海 --SlxV/x ~m~<xtoc 课程大纲 h+o-h4X 13:00~16:00 浅谈干涉条纹分析量测软件-Intelliwave及应用案例介绍(Raymond) _~ m@ SI 16:00~16:10 中场休息 `9;:mR $ 16:10~17:00 干涉仪介绍(光峰科技 刘信炷经理) sdq8wn 2CX'J8Sy 讲师介绍 =n_r\z Raymond Castonguay 在1996年成立了Engineering Synthesis Design Inc这家公司 , 提供干涉量测方面的产品, 主要着重在光学、纤维光学和自动化产业。他拥有 15 年光学产业经验并拥有五个在散光技术上的专利奖项。Raymond Castonguay是 IntelliWave干涉测量分析软件的首要开发者,IntelliWave这套软件可与多种不同类型的干涉仪器搭配 . 他曾经服务于Breault Research Organization 担任研发项目经理 10年, 主要研究领域含括干涉量测、机器自动化和散光量测产品。Raymond Castonguay在亚利桑那大学光学科学中心取得航空工程学士学位,他受过的训练包括光学整合、电子学、机器自动化和软件控制。 t!MGSB~ @d imZsi1 ]qZs^kQ 刘信烓 uW*)B_c 光峰科技资深经理(2001-2003) 8^26g3 光群雷射资深经理(1996-2001) Yj+p^@{S2P 美国 CIMCOR 公司VP (1991-1996) :f?};t+ 美国纽约理工学院光电中心资深研究所员 (1985-1991) ml=tS, 美国纽约卅立大学石溪分校?机硕博士(1979, 1985)
^J,Zl`N 交通大学电子物理系学士 (1976) 0zD[mt 主要研究: *n$=2v^A 1. 光学干涉仪: Fizeau, Shearing '0z-duu 2. 非光学表面对象三度空间量测 w0n.Y-v4i [R$iX 讯技光电电话021-54071828
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