| chenenlin |
2020-10-25 15:53 |
V11.4.585 Wz=ZhE9g 核心 lFc3 5 :^l*_v{ xl# j_d, 已修复以下问题: v7&$(HJ>]L S G43} U$Ew,v< ^e&,<+qY 如果材料没有用于内部传输的条目,则使用该材料打开设计将始终尝试打开设计的存档。 ef!I |.FW Ln`c DZSM 未从设计文件中加载错误参数 1$Eiv8xd i>!f|< 多次单击"反向工程"中的"调整"按钮将启动对相同数据的多次调整。现在一次只执行一个调整。 U(J?Q W@UHqHr:\ 当设计具有厚层时,冻结活动图不起作用 78 UT]<Q;K n`^</0 误差计算没有正确设置用于事件介质或基材的活性材料。 $f)Y
!<bC aP"i_!\.aa 无法在参数 > 性能中输入图层编号 *YtITyDS3> \OY2| 在从外部来源导入设计期间,改进了外部设计中材料与数据库中材料的匹配。 nG8]c9\Q# :+-s7'!4 运行表 FEdyh?$ q=[0`--cd $1?YVA7 以下问题已修复: 9cj=CuE 8eLNKgc sZB$+~.:} W?6RUyMC$T 芯片上的上一层并不总是正确选择。 VF[]E0=u6 x&;{4F Nw Ay56@_d2 ,l@hhaLm? V11.4.584 d}WAP m 核心 -2Ub'*qK @Z |cUHo qbT].,?!U 以下问题已修复: .WtaU IHB{US1G 5gEUE {S | @ mZ]`p 验证站点密钥后,不会立即更新选项。 Ad`;O+/; w>m/c1 V11.4.583 t`Hwq 核心 p\!+j@H: cFuvi^n\ =o5hD, >e 以下问题已修复: T=>&`aZH zIm$S/Qe* 5HJ6[.HO ?=
ulfGrY 目标生成器中没有回反射导数。 e`C'5`d] "lUw{3 V11.4.582 ? ZN8Ku 核心 ,AM6E63 w"aD"}3 \y<n{"a 以下问题已修复: VT-&"Jn 0iHK1Pt} O'j;"l~H| r$0"Y-a 当仅为斜角图选择p 极化且选择了事件角度标签时,该标注不会显示在绘图上。此外,如果选择了表,则 s 极化列为空。 u2BVQ<SA ~+4OG 0 V11.4.581 o&X!75^G> 核心 !".@Wg$ [kn`~hI i12iB+q 以下问题已修复: ;O.U-s ]Nm_<%lT B"8^5#t4s 'n.ATV, Optimac 参数对话框中未显示图层的最大数。 FIW*Nr ~>+}(%<, V11.4.580 Grkj@Q* 核心 A;{8\e yyBfLPXZ 4Tq%V|5"& 以下问题已修复: }`*]&I[P GyT{p#l 9jJ&QACn
9 ?h)U|J?G 在 Stack 中,在某些情况下,第二个垂直轴图例中的射点角度未正确显示。 Y[*z6gP( +#n[55d V11.4.579 g.&&=T 核心 8th G- C8aYg > \KBXS} 添加了尝试替代路径到简单,Optimac合成和针合成。大多数优化方法在从起点移动到改进的解决方案时选择单个路径。对于更困难的问题,这可能不是最好的途径。尝试"备用路径"会导致优化器根据下一次迭代中的潜在结果选择不同的路径。由于优化器不知道将走哪条路径,因此必须考虑每个可能路径的下一次迭代。这会导致运行时增加,因为必须执行更多的功绩图计算,因此该技术将导致迭代速度的减慢。要使用"尝试备用路径",请检查"简单"或"Optimac"或"针"合成的参数窗体中的选项。 fMhMB |W. J]Uki*s uVIs5IZzIi =|am=Q?Q 边缘过滤器工具已经增强,现在它找到了更广泛的材料设计。 y%3Yr?] +vJ[k 2d xS*f{5Hr8 {3`9A7bG 基底n,k & T 工具已经增强,因此现在也可以接受抑制二表面反射的单面反射测量。 1*(^<x+n J[]YG+r 8n1Sy7K!; H|Q)Tp Lk 各种绘图参数现在可以指定多个值。其中包括:事件角度、计算波长、温度偏移、带宽和锥角。使用不是以下之一的分隔符指定多个角度:数字、+、-、E、e、周期、逗号。例如,如果在入射角度框中输入"0/15/30",则选择绘图时,将绘制三个角度的曲线。表仅使用列表中的第一个角度。 Rs5G5W@"A !QP~#a%
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