| sbisna |
2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， G;r-f63N
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， >(>Fx\z}
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 B1\@ n$
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 Sg$14B
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 V *2 =S
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. OG}auM4
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1.多层厚度（1? 到 250 microns） ) {=2td$=$
2.折射率n Nc4e,>$]&
3.吸收系数k - 26GOS_8z
4.双折射率 6OeRBD&
5.能隙（Eg） |cZKj|0>
6.表面粗糙度和损伤 7vBB <\
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） +;nADl+Q
8.薄膜温度特性 {UX[SAQ
9.晶元曲率和薄膜耐压性 etbB;!6
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 :{pJ
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Q=hf,/N
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 n[2[V*| mI
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com "+^d.13+]
网址：http://www.emdeccn.com
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