| sbisna |
2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, 67d p)X .8Gmy07 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, ]39A1&af} 9h'klaE( 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 eX9H/&g 3,{tGNl| 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 *M()z.N =]F15:%Zq 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 Js!V,={iX ceGo:Aa<) 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. u6BLhyS 6IC/~Woghx 1.多层厚度(1? 到 250 microns) L51uC ,QF 2.折射率n ]0)=0pc]E 3.吸收系数k H He~OxWg 4.双折射率 )6Qk|gIu( 5.能隙(Eg) Y7
`i~K; 6.表面粗糙度和损伤 ~<w9a] 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) 7eekTh, ? 8.薄膜温度特性 (eJYv:
^ 9.晶元曲率和薄膜耐压性 @~`2Lo/ qlfYX8edZ 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 =o+))R4 $@:z4S(
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: Ga}&% 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 c`h/x>fa 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com tL~?)2uEN 网址:http://www.emdeccn.com
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