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2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, LTnbBh*mc ic?(`6N8 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, m/ngPeZ }n?D#Pk, 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 >ToI$~84 rVDOco+w 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 -n6e;p] F|?}r3{aJ 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 ~f?brQ? <l$ vnq 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. w,;ox2 O2oF\E_6 1.多层厚度(1? 到 250 microns) O5A]{W 2.折射率n !.w|+-JKO 3.吸收系数k G3.\x_;k 4.双折射率 G-Zn-I 5.能隙(Eg) agnEYdM_ 6.表面粗糙度和损伤 Nq[-.}Z6 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) _ IlRZ} f 8.薄膜温度特性 4 }*V=>z 9.晶元曲率和薄膜耐压性 -hZw.eChQa !r9~K^EI 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 fs8C ^Ik>~ Fuo.8 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: -5,+gakSk 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 [.nkNda5)v 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com j`_tb
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