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2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, N;ed_! k3::5& 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, ;^nN!KDjR p9k'.H^:_ 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 ~G.'pyW 4(>|f_$ 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 _NQMi4 V( s(W]>Ib 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 9|v3lGK( Su99A. w 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. Vo^
i7 rf_(pp) 1.多层厚度(1? 到 250 microns) iIFM 5CT 2.折射率n ?|LR@M!S7 3.吸收系数k T9.3 4.双折射率 ehB (? 5.能隙(Eg) [%'yHb~< 6.表面粗糙度和损伤 $d2mcwh\ 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) 4Cs
|F7R 8.薄膜温度特性 @&(0]kZ6 9.晶元曲率和薄膜耐压性 v7x%V%K
,83%18b 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 1sgI,5liUs Nv!If$d 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: tQ=P.14>: 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 NuZiLtC 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com ^ Q]I)U 网址:http://www.emdeccn.com
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