| sbisna |
2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, 8<z]rLQw?% x,kZ>^]&b 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, dV{N,;z R-xWZRl> 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 4]\f} 1PwqWg-\\ 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 gQpF(P uFd.2,XNP 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 3:q\]]]S hY5G=nbO* 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. )ESF)aKMiz jI`1>>N&1 1.多层厚度(1? 到 250 microns) g[P.lpi{U 2.折射率n WM8
Ce0E 3.吸收系数k & <{= 4.双折射率 _ZgIm3p0A 5.能隙(Eg) SG6@Rn*^ 6.表面粗糙度和损伤 !E\xn^ 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) !1MSuvWP 8.薄膜温度特性 y@&Cn 9.晶元曲率和薄膜耐压性 +-=o16*{ ! idL6 *%M 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 >eHSbQu/Bu !L3M\Q0 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: &"bcI7uGT 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 =ytB\e 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com 3q*y~5&I 网址:http://www.emdeccn.com
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