| sbisna |
2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， k\76`!B
= Ed0vw
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者，
B\54e Tn
G!T_X*^q2U
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 h0.2^vM)R
!i>d04u`%
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 {gz-w|7
'fjouO
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 r'(*#
p>N8g#G
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. b(_f{R7PY
*^oL$_Y
1.多层厚度（1? 到 250 microns） @}\i`H1s
2.折射率n !8e;3W
3.吸收系数k ^UCH+C yl
4.双折射率 g@2KnzD
5.能隙（Eg） S4U}u l
6.表面粗糙度和损伤 ?}e ^-//*i
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） JIiS/]KQ
8.薄膜温度特性 xx@[ecW
9.晶元曲率和薄膜耐压性 + 7 0x0z2
5OCt Q4u
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 j iejs*
D7r&z ?
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： t"s$Y B>}
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 >PzZt8e
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com I&U.5wf
网址：http://www.emdeccn.com
|
|