| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 r A~f68h|
Gwd38
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 \|=6<ZY:
主要性能指标及技术指标 +,e#uuj$p
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主信号通道： Af 3 |l
信号输入方式：单端交流输入 omE- c
输入量程：0.5mV-500mV $ XjijD9R
信号频率范围:1KHz±5% 'ZbWr*bo
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) 3 h7RQ:lUi
性误差: ≤0.1% b RAD_
零点时源： ≤0.2%/h W!{RJWe
参考信号通道： )Q 2I YCj{
"i0>>@NR'
信号输入方式：单端交流输入 Pn,I^Ej .
输入幅度：20-700mV &8$v~
频率范围:≥320。 #O ka7.yz
[attachment=25842]
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