| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 {InD/l'v6n
5U!yc7eBI/
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 zF-R$_]av
主要性能指标及技术指标
VwKo)zH
lI"~*"c`
主信号通道： EFqYEDXW
信号输入方式：单端交流输入 @G&2Tbj[`
输入量程：0.5mV-500mV 4ZAnq{nR4
信号频率范围:1KHz±5% > q !:*
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) 44p?x8(z*
性误差: ≤0.1% V^[B=|56
零点时源： ≤0.2%/h aI'MVKwMk
参考信号通道： e [
9
9\J.AAk~/
信号输入方式：单端交流输入 f+xhS,iDR
输入幅度：20-700mV ( +w>hCI
频率范围:≥320。 ,N`cH \
[attachment=25842]
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