| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 +_`7G^U?%
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 Fcx&hj1gQ
主要性能指标及技术指标 -/4P3SG/
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主信号通道： x38 QD;MT
信号输入方式：单端交流输入 ni<(K
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输入量程：0.5mV-500mV <%^&2UMg
信号频率范围:1KHz±5% Zfw,7am/
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) Om<a <q
性误差: ≤0.1% f^e)O$N9]
零点时源： ≤0.2%/h V+\Wb[zDJ
参考信号通道： TvM~y \s
"tZe>> I
信号输入方式：单端交流输入 t-AmX ) $
输入幅度：20-700mV K}y
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频率范围:≥320。 AX INThJ
[attachment=25842]
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