| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 FlLk.+!t
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 wvEdZGO8!
主要性能指标及技术指标 CGZ3-OW@E
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主信号通道： P?`a{sl.
信号输入方式：单端交流输入 =zwn3L8 fL
输入量程：0.5mV-500mV 3c[TPD_:
信号频率范围:1KHz±5% bR83N
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) ^" UZ.@sq'
性误差: ≤0.1% lD1m <AC
零点时源： ≤0.2%/h ks(BS k4
参考信号通道： EpH\;25u
u'"]{.K>fb
信号输入方式：单端交流输入 2fMKS
输入幅度：20-700mV r[KX "U-
频率范围:≥320。 B5 /"2i
[attachment=25842]
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