| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 Q(Y,p`>
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 h2*&>Mc
主要性能指标及技术指标 '.v^seU
ZOsn,nF
主信号通道： sm S0Rk
信号输入方式：单端交流输入 U6 R4UK
输入量程：0.5mV-500mV SuuS!U+i>
信号频率范围:1KHz±5% hS/'b$#
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) 73<yrBxp
性误差: ≤0.1% x/^zNO\1
零点时源： ≤0.2%/h S, >n'r[
参考信号通道： y=`(`|YW}`
SZ){1Hu
信号输入方式：单端交流输入 +Enff0 =+
输入幅度：20-700mV &1Iy9&y
频率范围:≥320。 H!=BjU1Pmg
[attachment=25842]
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