| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 ^B<-.(F
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 QLJ \>
主要性能指标及技术指标 9<gW~
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~O}r<PQ
主信号通道： xrf|c
信号输入方式：单端交流输入 nt2b}u>*
输入量程：0.5mV-500mV So ziFI
信号频率范围:1KHz±5% hk?i0#7 W
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) xm{?h,U,
性误差: ≤0.1% &{Z+p(3Gj
零点时源： ≤0.2%/h nE]rPRU}[
参考信号通道： C?H~L
sX"L\v
信号输入方式：单端交流输入 .q 2r!B
输入幅度：20-700mV v?He]e'
频率范围:≥320。 $n<1D -0!r
[attachment=25842]
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