| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 !%,7*F(
7@fS2mu
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 A _zCSRF,
主要性能指标及技术指标 d#rr7O
!H\o Qv-I
主信号通道： y9 {7+]
信号输入方式：单端交流输入 pT]hPuC
输入量程：0.5mV-500mV _xaum
信号频率范围:1KHz±5% 'K ?h6?#
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) 0\tac/
性误差: ≤0.1% vn^O m-\
零点时源： ≤0.2%/h ?ZlXh51
参考信号通道： ;\m X=S|a
mrP48#Y+l
信号输入方式：单端交流输入 ltNC ti{Q
输入幅度：20-700mV JX=rL6Y@:;
频率范围:≥320。 gT+g@\u[
[attachment=25842]
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