| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 R pj{!Ia
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 TV/ EC#48
主要性能指标及技术指标 2_TFc2d
K1p. {
主信号通道： Z7k ku :9
信号输入方式：单端交流输入
spWo{
输入量程：0.5mV-500mV UYzNaw4/x
信号频率范围:1KHz±5% w17CZa
6
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) GE=Pa Yz
性误差: ≤0.1% [E K@f,iM
零点时源： ≤0.2%/h wM}A WmH
参考信号通道： Q'YakEv >=
[rz5tfMp
信号输入方式：单端交流输入 @S 0mNA
输入幅度：20-700mV H%0WD_
频率范围:≥320。 m=a^t
[attachment=25842]
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