| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 @Zfg]L{Lr
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 P7;q^jlB
主要性能指标及技术指标 $QaEU="Z
r z5@ E
主信号通道： A2I\T, Z
信号输入方式：单端交流输入 .zvv k
输入量程：0.5mV-500mV *)Pb-c
信号频率范围:1KHz±5% cEEn R 1
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) UX)QdT45Mh
性误差: ≤0.1% +A2}@k
零点时源： ≤0.2%/h K#dG'/M|Pb
参考信号通道： py9`q7 F
HVNX"`]"
信号输入方式：单端交流输入 +(oExp(!
输入幅度：20-700mV @EUvx
频率范围:≥320。 QX+&[G!DZH
[attachment=25842]
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