| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 5FJ<y"<6
y!SElKj
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 Y!LcS48X
主要性能指标及技术指标 QvK-3w;=
vMsb@@O\ \
主信号通道： :, $:@
信号输入方式：单端交流输入 cn$E?&-
输入量程：0.5mV-500mV 1!"0fZh9U
信号频率范围:1KHz±5% {I|iUfy
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) LL+R OX^M
性误差: ≤0.1% EKsL0;FV
零点时源： ≤0.2%/h UdmYS3zs
参考信号通道： oagxTFh8~
LB_y lfg
信号输入方式：单端交流输入 ve2GRTO^aC
输入幅度：20-700mV HTK 79
+
频率范围:≥320。 ?b0 VB
[attachment=25842]
|
|