| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 M 7rIi\4K4
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 ;r.EC}>m
主要性能指标及技术指标 4ZwK pQ6
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主信号通道： Huc|6~X
信号输入方式：单端交流输入 (!3;X"l
输入量程：0.5mV-500mV `<U5z$^QTw
信号频率范围:1KHz±5% ]W/>L dv
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) Ird|C[la
性误差: ≤0.1% LBat:7aH>
零点时源： ≤0.2%/h y \D=Z
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参考信号通道： py
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0OnV0 SIL
信号输入方式：单端交流输入 )"| ||\Iv
输入幅度：20-700mV ^`XCT
频率范围:≥320。 d$G}iJ8$mp
[attachment=25842]
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