| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 ")W5`9
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 So#> x5dL
主要性能指标及技术指标 IZxr;\dq6
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主信号通道： i6E ~]&~.v
信号输入方式：单端交流输入 1xsB@D
输入量程：0.5mV-500mV |PLWF[+t8
信号频率范围:1KHz±5% $X rX(l5
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) tSaD =# v
性误差: ≤0.1% 44UN*_qG
零点时源： ≤0.2%/h !GoHCe[10
参考信号通道： J8DKia|h(
N\ zUQ
J
信号输入方式：单端交流输入 ='HLA-uT
输入幅度：20-700mV Ewo6Q){X
频率范围:≥320。 M =GF@C;b
[attachment=25842]
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