| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 J0IKI,X.
'Q E8
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 c_qox
主要性能指标及技术指标 *x8~}/[T(F
q,fp
DNo
主信号通道： `S((F|Ty=;
信号输入方式：单端交流输入 9q?knMt
输入量程：0.5mV-500mV 2Di~}* 9&
信号频率范围:1KHz±5% AIOGa<^
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) YTTy6*\,_
性误差: ≤0.1% s>G6/TTH6
零点时源： ≤0.2%/h g=D]=& H
参考信号通道： "-S!^h/v
"#wAGlH6>
信号输入方式：单端交流输入 ek)rsxf1A
输入幅度：20-700mV GTh GV"
频率范围:≥320。 Q 3ZGN1aX<
[attachment=25842]
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