| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 {'eF;! !Dy
u}IQ)Ma
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 7
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主要性能指标及技术指标 @k,}>Tk
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G# W6
主信号通道： F6 c1YI[
信号输入方式：单端交流输入 O_ /|Wx
输入量程：0.5mV-500mV cu$i8$?t
信号频率范围:1KHz±5% ` z!?!"=
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) j+>&~
性误差: ≤0.1% AwO'%+Bv
零点时源： ≤0.2%/h ?>o|H-R~5Z
参考信号通道： kv'gs+,e
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信号输入方式：单端交流输入 Wc- 8j2 M
输入幅度：20-700mV Stxrgmu
频率范围:≥320。
66s h r
[attachment=25842]
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