wcjun |
2010-04-13 23:20 |
光学检测中的词汇
Terminology for Chapter1 "%2xR[NF ?wpB` Aberration 像差 =TvzS%U }1 vT) Wavefront 波面, 波前 3B0lb"e 2LY=DL7 Wavefront aberration 波像差 v{x{=M] rd|uz4d Geometrical aberration 几何像差 ;)0w:Zn/[ `:{B(+6 Optical path difference or OPD 光程差 9<CG s3\ _cDF{E+; Diffraction-limited system 衍射受限系统 3+7^uR$/I4 k5d\w@G"~ Gaussian image point 高斯像点 N^?9ZO ^>4o$} Airy disc 爱利斑 }_.:+H!@ wYsZM/lw Sphere 球面 JHn*->m 4R+.N Asphere 非球面 <pLT'Y= X+8B!F Mirror 反射镜 jZfx Jm
Fnx`Ri Lens 透镜 ^W83ByP m@Ev~~; Entrance pupil 入瞳 /Wk9-uH }71LLzG`/ Exit pupil 出瞳 VU|dV\> {C*\O)Gep Aperture 孔径 DsD zkwJE 1,y&d}GW Relative aperture 相对孔径 -PB[-CX yTM{|D]$( Aperture stop 孔径光栏 FXKF\1`(H ~o3Hdd_#}N Field stop 视场光栏 _K2?YY(#> d4[(8}
x$/ Focal length 焦距 [}mA`5 "GT4s?6O Defocus 离焦 qf'm=efRyu =x#FbvV Tilt 倾斜 )+I.|5g 46jh-4)< Spherical aberration 球差 n
?[/ufl -XoP ia2 Coma 慧差 }SyxPXs Die-@z|Y Astigmatism 像散 W><Zn=G4)b w [>;a.$ Field curvature 视场弯曲 qgt[ ~i* JD>d\z2QC Distortion 畸变 2pHR_mrb s,VXc/ Zernike polynomial 泽尼克多项式 qKS;x@ D,l,`jv* Strehl ratio 斯特列尔比 < O*6T%; v'2[[u{7* #1'\.v #PvB/3 Huw\&E AZ |yX Terminology for Chapter4 and Chapter5 n#Dv2 E=6 Phase shifting Interferometry 相移干涉术 Zx }&c |Q 2Tav;LKX Phase unwrapping 相展开 :!&;p f}c\_}( Phase Model 2p 模2p 6Sj6i^" -a Gcf]6 PZT driver 压电陶瓷驱动器 }S-DB#6 FX<b:# Polarization 偏振 _GQz!YA @*N)i?> Wave plate 波片 u),Qa=Wp 1xJ
TWWj- CCD camera CCD相机 Ey{%XR+*; 23(=Xp3;> Frame grabber 图像帧采卡 gCd`pi
8 |xr%6 [Ff Phase calibration error 相移标定误差 yj6@7@l>A ?{"mP 'dD Detector non-linearity 探测器非线性 _STB$cZ ExSe=4q# Air turbulence 空气扰动 m%+IPZ2m uNbH\qd= Mechanical vibration 机械震动 eg"Gjp-4= y@bcYOh3 Background noise 背景噪声 xynw8;Y, 3Rg}+[b
Stray light 杂光 t HD '+'CbWgY Quantization error 量化误差 s}&bJ"!Z m^%|ZTrwN7 Source stability 光源稳定性 h 6G/O`: T`/IO.2 Moire Pattern 莫尔条纹 WzW-pV] O/%< }3Sq Intensity transmission 强度透过率 ~cAZB9Fa !2CL1j0( Holography 全息 G |*(8r() qVjWV$j Computer Generated Hologram(CGH) 计算全息图 |6:=}dE#[ MJ<Jb ,D1 Grating 光栅 }y%`)lz~ ; Q0?\]2eet9 Diffraction order 衍射级次 S,fCV~Cio? $VG*q Strain measurement 应变测量 |XYEn7^r {C`GW}s{4 Displacement measurement 形变测量 =M 6[URZ TG48%L Surface contouring 表面轮廓术 D8{D[fJ; U8#xgz@ Fringe projection 条纹投影 5 /",<1 e[u?_h -!RtH |P J;t 7&Zpe 05Fz@31~ Terminology for Chapter 2 VO3pm6r5 Interferometry 干涉术 JuRH>` Zt
-1h{7 Interferometer 干涉仪 8rZ!ia! -b&{+= ^c Disturbance 扰动 @r(Z%j7 l@j.hTO< Irradiance 光强 I:&/`K4,x, R9We/FhOY Amplitude division 振幅分割 kB:Uu}(=N NE8 jC7 Wavefront division 波面分割 2N#$X'8 ?rVy2! Fringes 条纹 x} /,yaWZ {yAL+} Fringes of equal thickness 等厚条纹 Xy ,lA4IP yfQ5:X Fringes of equal inclination 等倾条纹 E"iUq <Tw>|cFT Mutual coherence function 互相干函数 c'6g*%2k Self coherence function 自相干函数 MvLs%GE% ] H~4 Temporal coherence 时间相干性 DDT_kK; i!2TH~zl Spatial coherence 空间相干性 E9\vA*a %t=kdc0=_ Fringe visibility 条纹可见度 [97:4. <P ,~eX(r Beam splitter 分光板 VLsxdwHgb _!;Me
)C Refraction inhomogeneity 折射率不均匀性 k NqS8R| _8fr6tO+ Fizeau interferometer 菲索干涉仪 CHd9l]Rbe X5fmz%VK@ Twyman-Green interferometer 泰曼-格林干涉仪 *,C(\!b
!? -\ZcOXpMx= Mach-Zehnder interferometer 马克-赞德干涉仪 7qO a
;^T #&<)! YY5 Lateral shear interferometer 横向剪切干涉仪 cEW0;\$
vr#+0:| Radial shear interferometer 径向剪切干涉仪 e+v({^k q/3ziVd7p Fringe center tracing 条纹中心跟踪 a)Q!'$"'
<99M@ cF Data reduction 数据提取 j.~!dh$mg 6K
cD&S/ Polynomial fitting 多项式拟合 jdKOb `.x$7!zLC Absolute testing 绝对检测
{^CT}\=> ^
&E}r{? Figure error 面形误差 Y3kA?p0 &uP~rEJl+ Alignment error 对准误差 U~{du;\ { pu85'DV Autocollimation 自准直 =U[3PC-N@ WPZ?*Sx Stray light 杂光 5vo.[^ty rG?>ltxB Illumination 照明 A,su;Qh }nt*
[:% Optical path compensating 光路补偿 d@w~[b {NpM.; ['z[ 3X9b2RY*L/ Terminology for Chapter 6 I8oo~2Qw 8eA+d5k\. aKU*j9A?;Z Asphere 非球面 01!s"wjf -(#I3h;I Conics 二次曲面 xI,2LGO Z\[N!Zt| Radius of curvature 曲率半径 f}guv~K =4GSg1Biy Vertex 顶点 '
|-JWH W\1i,ew> Paraboloid 抛物面 (F7(^.MG Hyperboloid 双曲面 /iG*)6*^k Lb LiB*D#s Oblate ellipsoid 扁椭球 dEBcfya XdH\OJ Prolate ellipsoid 长椭球 NM)k/?fA ]weoTn: Null test 零位检验 tx?dIy; (&$VxuJ+6y Autocollimation 自准直仪 B^).BQ rD>*j~_+P Stigmatic null test 无象差点检测 G0E121`h *<1r3! Null compensator 零位补偿器 EpQ8a[<-3 &.TTJsKG h Zone plate 波带版 12Y P%K4[c W~ Alignment 对准 Spt?>sm fdONP>K[E Manufacturing error 制造误差
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