| sbisna |
2010-03-21 19:43 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, J}Z_.:JO(w =J[[>H'<d 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, HLyFyv\ |<+|Du1 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 c|;|%"Mk i1_>>49* 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 <>5:u <*6y`X 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 J9$]]\52s. 65`'Upu 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. Gad2EEZ%0 f)s_e 1.多层厚度(1? 到 250 microns) ^1FZ`2u; 2.折射率n >I66R; 3.吸收系数k $=QGua V 4.双折射率 i&s=!` 5.能隙(Eg) ^6NABXL 6.表面粗糙度和损伤 lh(+X-}D 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) p TV@nP 8.薄膜温度特性 OSh mrz28 9.晶元曲率和薄膜耐压性 NE>JtTF< HV.|Eh_7 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 )hZ}$P1 z1@sEfk> 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: .X=M! 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 B|
0s4E 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com ~C*6V{Tj 网址:http://www.emdeccn.com
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