| sbisna |
2010-03-21 19:43 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, :w7?]y6~S <)"2rxX&5 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, b{
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qNm~ M[e^Z}w.V 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 4~hP25q )r(e\_n 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 F3x*dq2 pi/&WMZ< 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 3@1$y`SN &
sXMB 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. o<5+v^mt# lQ4$d{m` 1.多层厚度(1? 到 250 microns) *g4Uo{ 2.折射率n Bm6tf}8 3.吸收系数k X G5"u 4.双折射率 {5+ 39=( 5.能隙(Eg) XRP+0=0 6.表面粗糙度和损伤 T^ #1T$ 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) j|b$b,rF\ 8.薄膜温度特性 _P%PjFQ)
9.晶元曲率和薄膜耐压性 ;R3o$ZlY 0;%\L :,O 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 PH?<)Wj9i QHtN_Q_F 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: Vq^b_^ 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 i6O'UzD@T 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com v2YU2-X[ 网址:http://www.emdeccn.com
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