| sbisna |
2010-03-21 19:43 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， &oA p[]
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， eX+FtN
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 H-*"%SJ
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 3\=iB&Gf|
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 )2U#<v^
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. "8bxb
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1.多层厚度（1? 到 250 microns） c:a5pd7T
2.折射率n Es c*+}ck
3.吸收系数k jq4'=L$4
4.双折射率 Is8 7
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5.能隙（Eg） ~7N>tj B
6.表面粗糙度和损伤 D^ E+#a 1
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） l c<&f
8.薄膜温度特性 LPg1 G+e
9.晶元曲率和薄膜耐压性 jslfq@5v
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 wU\ 3"!^h
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： a S7[s6
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 " <GDO L
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com . ] S{T
网址：http://www.emdeccn.com
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