| sbisna |
2010-03-21 19:43 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， JQb]mU%?
-;v:.
[o.
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， .*Z]0~ &|
@RC_Ie=#)
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 `fH6E8N
z K&`&("4C
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 t?s1@}G^
ci!c7 ,'c
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 y~\z_') <>
nm)F tX|A
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. l"+=z.l6;
tP\Utl-0
1.多层厚度（1? 到 250 microns） SF6n06UZu
2.折射率n !`u)&.t7
3.吸收系数k @M1U)JoQ
4.双折射率 Vrnx# j-U
5.能隙（Eg） 0wx`y$~R
6.表面粗糙度和损伤 \ZC7vM"h
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） o,29C7Ii
8.薄膜温度特性 0P|WoC X
9.晶元曲率和薄膜耐压性 milU,!7J
.e6 :/x~p*
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 ]'"$qm:
%bAv.' C
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： 51~:t[N|
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 q|~9%Pujg
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com /h_BF\VBs
网址：http://www.emdeccn.com
|
|