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2009-09-01 09:06 |
中科院上海光机所第一届光学检测讲习班
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 *%#Sa~iPo
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中国光学学会光学测试专业委员会 YR? ujN
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开课时间： 2008年10月（具体日期待定） 课时安排：5天 .:U`4 ->E
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报名地点：中科院上海光学精密机械研究所（上海市嘉定区清河路390号） ~B2,edkM
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学 费：人民币2502元，9月1日前交费优惠价：2302元（需提供交费凭证）； 4]P5k6 nV
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学生凭有效证件2302元，9月1日前交费优惠价：2002元。 d7
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汇款帐户：银行：中国工商银行上海市嘉定支行 ulAOQGZ
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户名：中国科学院上海光学精密机械研究所 zcrM3`Zh
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帐号：1001 7008 0902 6400 195 [WXa]d5Y
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报名方式：7月1日起接受报名 v&]k8 Hc-
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培训证书：由中科院人事局，上海光机所，中国光学学会光学测试专委会，中国激光杂志社联合盖章 ~B 704i
mFa%d8Y
联系方式：高福海 021- 69918011 training@siom.ac.cn {S6:LsFfm
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QQ:905667687 传真：021-69918098 +WTO_J7
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详情请登陆：中国光学期刊网 www.opticsjournal.net gT&s &0_7
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1、 培训内容 %={[ e`,
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l 常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面等）、光学系统检测理论基础； "WfVZBWG$
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l 光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； n8RE
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l 光学检测市场发展前沿动态； @GyxOc@6
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l 干涉检测； >&Ios<67g
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l 常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； \96aHOk<
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l 光学与光子学元件与系统技术要求的国际标准/光学元件表面缺陷及微观轮廓的检测 t M DJ,rT
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l 光学玻璃检测；（新增内容） yg o4.
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2、 培训老师 fP>~ @^
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l 苏大图（北京理工大学）（1天） TO5#iiM)
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l 陈明仪（上海大学）（1天） Ucqn 3&
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l 高志山（南京理工大学）（0.5天） G4jyi&]
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l 徐文东（中科院上海光机所）（0.5天） [~Vj(H=KwI
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l 沈卫星（中科院上海光机所）（1天） /!A?>#O&.
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l 徐德衍（中科院上海光机所）（0.5天） y 3Qb2l
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l 李锡善（中科院上海光机所）（0.5天） 2AdO
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3、 培训对象 I3^ }$#>
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l 光电检测专业研究生； vhE^jS<Tg
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l 光电公司从事光学检测、光学加工的研发人员； f =T-4Of
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l 承担军工、航天、兵器、通信领域的研究所人员； 4T??8J-J
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l 光学检测生产领域的检验人员； d9Uv/VGp
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4、 培训教材 # <o=W#[
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l 《光学测试技术》（苏大图主编）； qx f8f
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l 《光学车间检验》（马拉卡拉主编）； ] rS:# LK
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l SPIE测量文集； _L%
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l 《现行光学元件检测与国际标准》（徐德衍主编）（2009年8-9月出版）； 12 o6KVV^x
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l 其他内容讲义形式； ep)O|_=
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5、 培训效果 Xx?~%o6
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l 掌握专业要点，快速进入光学检测领域； &B?*|M`)k
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l 注重行业应用，增加实际操控经验； 9,cMb )=0
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l 扩展研发视野，提升职业核心竞争力； 1)t* l;.
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l 名师现场答疑，解决生产研发中难题； a&!K5(
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l 打造一流平台，营造结识同行良机； :-tMH02c
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l 颁发权威证书，增加求职就业砝码。 HAm AmEc,
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培训专家介绍 @
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苏大图 ,B1~6y\b
，北京理工大学教授。1957年毕业于北京工业学院（现北京理工大学）光学仪器专业，同年留校从事光学测量的教学与科研工作。曾编写并正式出版国内第一本光学测量教材，培养了国内第一位以光学测量为研究方向的博士。曾任《光学学报》编委，国防计量测试技术委员会委员，中国光学学会光学测试专业委员会副主任。1992年享受政府特殊津贴，1995年被评为“全国优秀教师”。 !X4m6gRaP
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陈明仪，上海大学教授，博士生导师，长期从事“工程检测中光学方法”的教学与科研工作。曾任上海市十届人大代表,第九届全国政协委员。曾是上海科大上海市重点学科—精密仪器及机械学科的带头人。1981-1983年美国访问学者,进修光学信息处理.1987-1988年访美，从事全息光学元件HOE合作研究。已发表论文90余篇，近三分之二为国际三大检索系统SCI,EI,ISTP所检索。内容涵及干涉度量技术、激光全息与散斑度量技术、三维面型测量技术及仪器设计等领域。 o@[oI\Vr!
iI Dun Ih
主要贡献为：修正了干涉测长基本公式,提出”光学漂零”概念及全误差公式;发展了散斑照相和电子散斑归一化相关度量技术;提出了子孔径重迭扫描拼接原理（被誉为——子孔径干涉检测技术发展的第三个里程碑）,为解决大口径表面高精度测量和复杂面形的3-D测量提供了新方法与技术；曾为国家和地方的多项重点工程研制急需的关键设备，先后获国家计量局重大科技成果一等奖(1982),国家科技进步二等奖(1985),（均名列第四）；上海市科技进步一等奖(1994)和国家科技进步三等奖(1995)，（均列第一）。1986年被授于国家有突出贡献中青年专家称号,1995年被授于人民教师奖章和全国教育系统劳动模称号。 ows 3%
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1999.9 – 2005.6 参与筹建上海大学巴士汽车学院，并任第一任院长。该学院于2006年11月通过上海市示范性高等职业学院验收。同年被任命为名誉院长。 #<DS-^W!
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李锡善, 中科院上海光机所研究员。1961年毕业于山东大学物理系,享受国务院的政府特殊津贴.专长光学材料性能测量和光学测量仪器的研制工作.三十多年来先后研制了十多种实用新型光学测量仪器：其中LH-300型激光全息干涉仪荣获上海市科学进步一等奖；宽光谱光电折射仪、航空玻璃角偏差测量仪、光盘缺陷自动测量仪、圆弧风挡玻璃自动测量仪荣获中国科学院科学技术进步三等奖,自动V棱镜折射仪获国家发明专利和上海市科学技术进步三等奖。.在国内外刊物上发表学术论文五十余篇。 r !;wKO
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高志山，南京理工大学教授，博士。1989年~1992年在中国科学院长春光学精密机械研究所应用光学国家重点实验室师从翁志成研究员学习光学设计，并取得理学硕士学位，2000年取得南京理工大学光学工程博士学位。现任中国光学学会光学测试专业委员会副主任，兼秘书长，美国光学学会会员。2004年入选江苏省“青蓝工程”，2006年入选江苏省“333”工程。2007年荣获 “王大珩光学奖中青年科技奖”（是国内光学领域最高的荣誉称号，全国每两年一次，每次2名）。2008年访问德国肖特与斯图加特大学，开展学术交流。 &3f^]n!@
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徐文东，中科院上海光机所研究员，博士生导师。本科毕业于北京理工大学，专业为光学检测与像质鉴定，硕士、博士学位均在上海光机所取得，主要研制光学测试装置，并从事光学设计工作。工作至今，先后主持过十多项国家、中科院和上海市的与测试有关的研究课题和十多项横向开发课题，并完成了大量的光学系统设计和镜头设计工作。在国内外学术刊物上发表论文近六十篇，申请发明专利五十多项，培养博士、硕士研究生十多名。2006年获政府特殊津贴。 0y`r.)G
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徐德衍，中科院上海光机所研究员。原任中国光学学会光学测试专业委员会副主任，中国光学学会咨询部高级技术顾问等职。四十年多来，主要从事光学与激光领域中精密光学制造与检测、像质评价、激光计量学以及激光与光学仪器、光学工程中的相关技术。曾负责神光Ⅰ与神光Ⅱ工程的质量保证和光学检测工作，以及神光Ⅲ的部分光学检测工作。发表论文报告100多篇，批准发明专利3项，专著一本“剪切干涉仪及其应用”，主编“现行光学元件检测与国际标准”一书（2009年8-9月出版），译书一本“光学系统的研究与检验”。 gMs B1 |
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沈卫星，中科院上海光机所高级工程师。1992年至今在中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室从事神光Ⅰ、Ⅱ装置相关的器件运行、激光参数测量及光学元件检验工作。从事光学检验工作逾十五年，现任上海光学精密机械研究所高功率激光物理联合实验室光学元件检验组组长。 R!rj :f!>
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《光学测试技术》(苏大图)主要内容 ?T)M z
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第一章 基本光学测量技术 {ObU J3
第一节 光学测量中的对准与调焦技术 F^CR$L& K
第二节 光学测试装置的基本部件及其组合 H;MyT Vl
第三节 焦距和顶焦距的测量 W>(w&k]%B
第四节 分辨率测量 ;r} yeI Sf
第二章 光学系统的光度和色度性能测量 D"CU J?
第一节 积分球和CIE标准照明体 TTGWOC
第二节 光学系统透射比的测量 y I } >
第三节 光学系统杂光系数的测量 3z% W5[E)
第四节 色度学的基本知识 jI%glO'2
第五节 测色仪器 rE%H NPO
第六节 光学系统的色度性能测量 -tA_"q'^
第三章 光学测量用的精密测角度 =wlPm5
第一节 光学测量的用精密侧角仪 9qvl9,*g
第二节 测角技术的应用 ;KgDVq5
第四章 准直与自准直技术 _R}yZ=di
第一节 激光束准直与准直技术 (0["|h32,
第二节 自淮直法测量平面光学零件光学平行度 ` <u2 N
第三节 自准直法测量曲率半径和焦距 $r )NL
第四节 自准直法测量非球面面形 Of>2 m<
第五章 干涉测量 kS4YxtvB
第一节 干涉测量基础 }$b!/<7FD
第二节 泰曼干涉测量和菲索干涉测量 5 zz">-Q !
第三节 错位干涉测量 1Gy
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第四节 移相干涉测量 8^6 7,I-c
第五节 外差干涉测量 a SMoee@!
第六章 偏振光分析法测量 &WZ&Tt/)/
第一节 偏振光分析法基本原理 .' NTy
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第二节 光学玻璃应力双折射测量 <R? S
第三节 光学薄薄膜厚度和折射率测量 #gVWLm<
第四节 偏振移相涉术与偏振外差干涉术 7^C&2k 5G
第七章 现代莫尔测量技术 :eIQF7-
第一节 概述 gv){&=9/
第二节 莫尔条纹的形成原理 { E0\mZ2
第三节 光栅调制测形法 Y
h53Z"a
第四节 莫尔偏折术 5\}E4y
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《现行光学元件检测与国际标准》主要内容 ueEf>0
Lngf,Of.e
第一章 概论光学元件的现代发展对光学检测的需求 qWJHb Dd
第二章 计量的基本概念与误差理论的基本知识 MT6" b
第三章 光学元件检测基础 R '8 S)'l
第四章 光学元件面形偏差的检测 M 5$JB nN
第五章 平板及棱镜角偏差的测量 5fRr d;
第六章 光学透镜半径、厚度及中心偏的测量 *4%%^*g.I
第七章 光学元件表面缺陷与表面粗糙度的检测技术 jig3M N
第八章 光学元件与系统性能评价与光学测试 z[@i=avPG
第九章 光学元件技术与检测要求的国际标准（ISO10110）的基本内容 @^/aS;B$>
第十章 实验实习技术 xQl}~G]!
附录 Z5
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I ： 光学检测中某些常用的术语、公式、经验、常数与提示等 O[\mPFu5
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Ⅱ：某些通用干涉系统干涉图形比例因子及测量参数的差异 qWf[X'
(\o4 c0UzK
Ⅲ： 数字波面干涉检测中术语、定义及其与3/A（B/C）的关系汇总 ]E)\>Jb
bGkLa/?S
Ⅳ： 关于ISO/TR 14999-1/-2/-3的内容目录
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