| sbisna |
2009-08-29 10:15 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品,
(]_ 1 Pa(^}n| 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, M@h|bN b:=TB0Fx?n 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 -DxL 0:E qs|mj}? 1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 $\b$}wy* x2@U.r"zo 应用实例,目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 %cCs?ic wpN k+; 2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. /V=24\1Ky ?aC'.jH+ 1.多层厚度(1Å 到 250 microns) 6`!Fv- 2.折射率n |nbf' 3.吸收系数k qZ]pq2G 4.双折射率 1h>yu3O 5.能隙(Eg) .udv"?!z 6.表面粗糙度和损伤 Q
s.pGi0W 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) "+\ lws 8.薄膜温度特性 SaC d0. h 9.晶元曲率和薄膜耐压性 q ud\K+ Bt1p'g(V| 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 #BJG9DFP4` wtmB+:I eFBeJZuE| 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: \(VTt|}By$ 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 uMut=ja(U 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com `
L> 网址:http://www.emdeccn.com klQC2drS
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