| sbisna |
2009-08-29 10:15 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， yO\ .d p
yf7p,_E/
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， E(]39B"i
m,YBk<Bx
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 '/l<\b/E
4 #?Sxs
1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 \\w<.\Yh
o~< ith$A*
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 ~jcdnm]
fCC^hB]'
2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. #Bu W
FfEP@$
1.多层厚度（1Å 到 250 microns） [ _kis
2.折射率n v+\&8)W=
3.吸收系数k `^_c &y K
4.双折射率 #6okd* ^
5.能隙（Eg） >#pZ`oPEAv
6.表面粗糙度和损伤 P _e9>t@
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） E}-Y!,v^
8.薄膜温度特性 )?d(7d-l
9.晶元曲率和薄膜耐压性 3+: F2sjt
J ZH~ {
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 |azdFf6A:[
!i4/#H
I(rZ (|^A
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： * I)F 5M
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 <rQ+ErDA
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com >~+qU&'2
网址：http://www.emdeccn.com v?6g.
[;?
|
|