| sbisna |
2009-08-29 10:15 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， s"coQ!e1.
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， Xm|ib%no
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 AF$\WWr B
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1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 $P nLG]X
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 OKAkl
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2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. :u/mTZDi
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1.多层厚度（1Å 到 250 microns） =9$mbn
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2.折射率n [ zh"x#AyI
3.吸收系数k mU@xc N
4.双折射率 Q["t eo]DQ
5.能隙（Eg） Qx t@ V
6.表面粗糙度和损伤 v{y{ sA
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） 8r^ ~0nm
8.薄膜温度特性 %K1")s
9.晶元曲率和薄膜耐压性 m|F:b}0Hb
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 6(KmA-!b(O
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： *aRX \ TnN
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 Uu'dv#4 Iw
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com Gx 'TkU=
网址：http://www.emdeccn.com iM5vrz`n
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