| sbisna |
2009-08-29 10:15 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， dHf_&X 2A
Ik;~u8j1e
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， s( Kf%ZoE
Eto0>YyZ
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 'OBA nE<.
6prN, *k5
1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 Xb$)} n\9
g"# R>&P
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 1v`<Vb%"}T
f_D1zU^
2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. (X>r_4W$
JO+ h D4L
1.多层厚度（1Å 到 250 microns） -BQM i0
2.折射率n I \ vu?$w
3.吸收系数k z ;
:E~;
4.双折射率 Z?"Pkc.Ei
5.能隙（Eg） Uy_`=JZ
6.表面粗糙度和损伤 R8o9$&4_
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） q G=`'%,m
8.薄膜温度特性 xiA9X]F B
9.晶元曲率和薄膜耐压性 ih ,8'D4
P>4(+s
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 0 qJ(3N
Sw'DS
2!]':(8mR
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： F P
mLost
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 VEb}KFyP
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com AU-/-h=Mr
网址：http://www.emdeccn.com &)xo R 4!2
|
|