| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 UF#!6"C@
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 Bps%>P~.
网址:www.sci-soft.com C)EP;5k'!\
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. $Vq5U9-
A) 薄膜测量/测试 软件 vB_3lAJt@
K3[+L`pz
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ;..z)OP_
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 2J&~b 8 :
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) &|#[.ti1
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 2*z~ 'i
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 Xi[]8o
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B) 薄膜测量 仪器 fPUr O
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ A`f"<W-m
Fw\Z[nh
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ cVL|kYVWT
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b QDQ"Sc06
Standard Spectral Range标准光谱范围F {eaR,d~X
Reflection反射测量, f/#I d]B
Transmission透射测量5wIBS\ ?1JY6v]h4
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY NOXP}M
Power Spectral Density功率谱密度测量a DMG~56cTO,
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y ' !7>*<
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 208 ^Yu
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% U,EoCAm>
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F S1U0sP @o
Energy band gap能量带隙测量U4r[n Nb&j?./
Composition成分测量c*'nh) @`4T6eL5
Crystallinity晶状测量DTE; S7f.^8
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF m.Zy$SDj(
Surface Roughness表面粗糙度测量L" _90D 4kGU
etc. 等等 Y|fD)zG_
K!&W} _@l
Typical applications典型应用:P lTMY|{9
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OLED有机发光二级管薄膜 .s*N 1
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Flat panel display平板显示器薄膜 j}ob7O&U'w
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 WK`o3ayH-
Computer disks计算机磁盘薄膜 VGeTX 4h
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 KQNQ<OE 4
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 AF{uF na
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 )4=86>XJT
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` Qq`S=:}~x
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 :kR> wX
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC iv~R4;;)
etc. 等等 IRm}?hHf
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： //2O#Fg{/
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 cj>UxU][eS
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