| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 ts9wSx~[+
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 tW/g0lC %
网址:www.sci-soft.com Fx|`0 LI+C
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. n\3#69VY
A) 薄膜测量/测试 软件 &T~X`{V]`
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) U||Ge Ed
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 ;o9ixmT<-o
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) ]%FAJ\
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) b^Re9 47{g
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 ?_i >Kx
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B) 薄膜测量 仪器 vg 1J N"S[
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ b5LToy:
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ KE@+I.x
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b [&P F ;)i
Standard Spectral Range标准光谱范围F U/^#nU.,
Reflection反射测量, 3ie
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Transmission透射测量5wIBS\ !Yv_V]u=
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY nqm=s nh
Power Spectral Density功率谱密度测量a .8u@/f%pV
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y X Fvl
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] kuD$]A
Q`&
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% "`V@?+3
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F 9`*Eeb>
Energy band gap能量带隙测量U4r[n [Hx(a.,d
Composition成分测量c*'nh) o+'|j#P
Crystallinity晶状测量DTE; wlJi_)!
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF !>n!Q*\(Ov
Surface Roughness表面粗糙度测量L" >&KH!: OX|
etc. 等等 ,MNv}w@
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Typical applications典型应用:P E|"SM A,
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OLED有机发光二级管薄膜 "TZY)\{L
Flat panel display平板显示器薄膜 CTRUr"
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 <1 l% |
Computer disks计算机磁盘薄膜 Hf?@<4
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 XGR2L
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Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 jRU: un4
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 `\62 iUN
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` W~;Jsd=f
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 t4_yp_
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC )|xu5.F
etc. 等等 ,<t.Iz%
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Fm 0d0j
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 AAlc %d/9
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