| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 yts@cd`$
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 ^s6}[LDW>@
网址:www.sci-soft.com
9u^M{ 6
( <YBvpt4>
SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. EB|
iW2'
A) 薄膜测量/测试 软件 U0t|i 'Hx
T% %
0W J
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ~Oa$rqu%m
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 BBM[Fy37!}
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) ]!ox2m_U
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) "MU-&**
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 qC g<g
- w*fS,O
B) 薄膜测量 仪器 D6A u)1y=&
[I=|"Ic~
SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ G<M0KU (
m^!:n$
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ U LqI]k(
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b :h5G|^
Standard Spectral Range标准光谱范围F "]# Ij6ml
Reflection反射测量, M^[;{p2uZ
Transmission透射测量5wIBS\ gu3iaM$W
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY
&nDXn|
Power Spectral Density功率谱密度测量a TKM^
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y q[ _qZ
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] Ly&+m+Gwu
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% k V+^1@"
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F }%p:Xv@X!
Energy band gap能量带隙测量U4r[n H.\`(`6
Composition成分测量c*'nh) @Wc5r#
Crystallinity晶状测量DTE; n1J u =C
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF : ~ pGHl
Surface Roughness表面粗糙度测量L" M2Jf-2
etc. 等等 ZA+dtEE=f9
Xd=KBB[r?
Typical applications典型应用:P 0K[]UU= P=
*mzi ?3
OLED有机发光二级管薄膜 <Cv(@A->
Flat panel display平板显示器薄膜 (oi:lC@h*
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 SK
lvZ
Computer disks计算机磁盘薄膜 4d`YZNvZW/
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 }9+;-*m/
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 >=[uLY[aK
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 (iX8YP$ %
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` Q]YB.n3
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 =..Bh8P71!
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC \P* _zd@%
etc. 等等 1ZI1+TDH
S3\NB3@qC&
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： zbmC ? 2$
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 "iA0 hA
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com网址：http://www.ECCN.com
|
|