| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 6Cd% @Q2cr
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 j ^'op|l
网址:www.sci-soft.com ;OynkZ s)
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. yYM_
A) 薄膜测量/测试 软件 r^|AiYI)
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ^+20e3 ~Y
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 ^ %pM$3ov
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) 4tv}V:EO
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) <"Cacf g
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 V"{+cPBO)
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B) 薄膜测量 仪器 NWq>Z!x`
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ ee| i
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ sHSD`mYq
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b {2Jn#&Z29
Standard Spectral Range标准光谱范围F >uN)O -
Reflection反射测量, #A '|O\RGP
Transmission透射测量5wIBS\ Ow\dk^\-G8
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY & 58+-j zW
Power Spectral Density功率谱密度测量a SuU_psF
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y l SzLR~=Au
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] }t ^N|I
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% M{ mdh\
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F ~ : \QC
Energy band gap能量带隙测量U4r[n VaIFE~>E&
Composition成分测量c*'nh) c{dge/2yb
Crystallinity晶状测量DTE; ?4 fXCb]7
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF D+ )R_
Surface Roughness表面粗糙度测量L" B8'e,9
etc. 等等 8 ;C_@
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Typical applications典型应用:P oS/cS)N20
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OLED有机发光二级管薄膜 [o0Z; }fU
Flat panel display平板显示器薄膜 P~5[.6gW
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ,r-l^I3<
Computer disks计算机磁盘薄膜 ymxYE#q
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 [8o!X)
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 5D32d1A
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 Rt [zZv
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` lStYfO:<'v
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 cCoa3U/
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC $]Vvu{
etc. 等等 Gs% cod
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： pS3TD"p
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