| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 rj=as>6B
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 ?Bu*%+
网址:www.sci-soft.com -Lq+FTezE
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. zH1 ; h
A) 薄膜测量/测试 软件 T_*i nPf
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) i 9ySD
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 'l'3&.{Yfk
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) ](JrEg$K
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) yY8zTWji_
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 89M'klZ
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B) 薄膜测量 仪器 z6` 0 Uv~
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ dXTD8 )&
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ ()aCE^C
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b 7T/BzXr,B
Standard Spectral Range标准光谱范围F $#rkvG_w
Reflection反射测量, w+6P x #
Transmission透射测量5wIBS\ KS*,'hvY
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY ?|ZbQz(bL
Power Spectral Density功率谱密度测量a uw3 vYYFX
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 1m5l((d
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 'HW l_M
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% 2Hd\>{*
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F =q VT
Energy band gap能量带隙测量U4r[n XZ%[;[
Composition成分测量c*'nh) LuySa2 ,
Crystallinity晶状测量DTE; kN/YnY*J<
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF $ W7}Igx#
Surface Roughness表面粗糙度测量L" 6 /<Hx@r (
etc. 等等 &5y
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Typical applications典型应用:P 1%_RXQVG
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OLED有机发光二级管薄膜 1@Jp3wW
Flat panel display平板显示器薄膜 =DdPwr 0Op
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 g|Lbe4?
Computer disks计算机磁盘薄膜 *6y Y>LW
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 Fv]6 a n.
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 {@2+oOuYfN
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 ]$ d ;P
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 'xta/@Sq
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 9\EW~OgTu
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC VzXVy ) d
etc. 等等 ?t%{2a<X
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： E_~e/y"-
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