| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 _8OSDW*D5t
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 "XKd#ncP
网址:www.sci-soft.com &MGM9
zm-]
3@mW/l>X
SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. 4z,n:>oH
A) 薄膜测量/测试 软件 v;IuB
%~qY\>
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) _Zbgma sb
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 'dcO- A:>
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) Med0O~T%
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ]r u
UX
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 3!u:*ibt
NV9H"fI
B) 薄膜测量 仪器 +<n8O~h
x$24Nc1a'
SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ \ >
X=pPkgW
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ CM+/.y T
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b rTM0[ 2N
Standard Spectral Range标准光谱范围F Xldz& &@
Reflection反射测量, {iVmae
Transmission透射测量5wIBS\ &y.6Hiy&
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY d ]Mj r2h
Power Spectral Density功率谱密度测量a SgY\h{{sP
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y a9TKp$LP`
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] aT PmW]w6
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% Iqb|.v LG
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F Z;J{&OJ3qM
Energy band gap能量带隙测量U4r[n "9!CsloWhz
Composition成分测量c*'nh) 0vcM+ }r w
Crystallinity晶状测量DTE; Oz s&YZ
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF TS;?>J-
Surface Roughness表面粗糙度测量L" jW_FaPW(p
etc. 等等 L@8C t
|%5nV=&\
Typical applications典型应用:P firiYL"=44
`i3fC&?C
OLED有机发光二级管薄膜 5gY9D!;:0D
Flat panel display平板显示器薄膜 VHTr;(]hk
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 'A9 U[|
Computer disks计算机磁盘薄膜 is}Y+^j.
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 = j
S
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 2?\L#=<F
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 C\;
$RH
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` N!^5<2z@eT
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 B;xGTl@8
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC ~[4zm$R^
etc. 等等 Ems0"e
"\1Q J
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Y!lc/[8
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 o:Q.XWa@MG
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com网址：http://www.ECCN.com
|
|