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2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 .J&NM(qeZ 薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 ZZ] /9oiF% 网址:www.sci-soft.com ,HUs MCXQ $O%lYQY] SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. w^A8ZT0^7 A) 薄膜测量/测试 软件 DS=kSkW^&5 `5O<U~'d 一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) E@0wt^ Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 ^Ac0#oX]M 二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) JBeC\ \QX 三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 0 m";=:(w FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 ?9Fv0-g&n qVZ=:D{ B) 薄膜测量 仪器 8{4I6;e- U5dJ=G SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ eq(|%]a= `if* Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ j<8_SD =, Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b tN3Xn] Standard Spectral Range标准光谱范围F W=GNo9: Reflection反射测量, ;s9!ra:3 Transmission透射测量5wIBS\ !+U#^2Gz Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 0=t_a]+ Power Spectral Density功率谱密度测量a O JvEq@ Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y $ daI++v`
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] !xj >~7 Index of Refraction折射系数测量~c=]o% 4JU#3 Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F BL]!j#''KE Energy band gap能量带隙测量U4r[n e7]IEBbX2O Composition成分测量c*'nh) v:JFUn} Crystallinity晶状测量DTE; K~x G+Kh Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF "y_$!KY% Surface Roughness表面粗糙度测量L" azj<aaH etc. 等等 ?9mWMf%t x03G Jy5 Typical applications典型应用:P XL EA|# ]L}<Y9)t OLED有机发光二级管薄膜 \n`UkxZn+ Flat panel display平板显示器薄膜 hCQ{D|/ Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ?uk|x!Ko] Computer disks计算机磁盘薄膜 YjvqU /[3 Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 XO"!)q F Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 hYb!RRGn Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 m4>v S Laser mirrors激光镜薄膜Op)` q^(A6W Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 _ky!4^B Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC d!Y,i!l! etc. 等等 IL YS:c58= w2/%e$D!9 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: \< | |