| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 - 0R5g3^*/
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 07P/A^Mkx
网址:www.sci-soft.com PzMJ^H{
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. p.A_,iE
A) 薄膜测量/测试 软件 Vzn0 ;
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) xQ+UZc
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 9~n`6;R
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) WK)hj{k
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) Q,9"/@:c,
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 -d1 YG[1|
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B) 薄膜测量 仪器 :tBIo7
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ Y3=5J\d!a
H=RzY -\a%
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ u1a0w
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b iO 9.SF0:
Standard Spectral Range标准光谱范围F zisf8x7^W
Reflection反射测量, c%+/TO
Transmission透射测量5wIBS\ xvw @'|
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 1yC_/Va1
Power Spectral Density功率谱密度测量a 55q!2>Jh.
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y Heh.C D)Q
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] =z^ 2KH
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% #{K}o}
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F ,.DTJ7H+
Energy band gap能量带隙测量U4r[n i^T@jg+K
Composition成分测量c*'nh) \kWL:uU
Crystallinity晶状测量DTE; K)b@,/ 5
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF \A7{kI
Surface Roughness表面粗糙度测量L" |ecK~+
etc. 等等 @n2Dt d
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Typical applications典型应用:P A.tXAOM(VW
~&HP }Q$#f
OLED有机发光二级管薄膜 mxD]`F
Flat panel display平板显示器薄膜 [x{z}rYH
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 YYNh|
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Computer disks计算机磁盘薄膜 )|3BS`
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 wnUuoX(
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 <<'%2q5
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 abM B-
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` +pUG6.j%
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 ]#k=VKdV
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC Z9wKjxu+
etc. 等等 9K!kU 6Gh
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： xVxN
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电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 s>J\h
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