| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 W
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薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 i 2E7$[
网址:www.sci-soft.com 8EA?'~"
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. Po3W+; @
A) 薄膜测量/测试 软件 r MlNp?{_
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) WTx;,TNG
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 ":ycyN@g
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) J)o%83//
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 1,,-R *x
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 QZo l( 2~Y
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B) 薄膜测量 仪器 1wt]J!hgV
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ "?SnA +)
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ jC%I]#!n
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b D5x^O2
Standard Spectral Range标准光谱范围F 6s;x@g]
Reflection反射测量, HFOp4
Transmission透射测量5wIBS\ V5+a[ ` ]
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY
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Power Spectral Density功率谱密度测量a Hw?
J1#1IE
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 0ZN/-2c A#
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] -5K/ cK
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% b%(0AL
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F yr?\YKV)I
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 3B +Rx;>h
Composition成分测量c*'nh) )<d8y Lb
Crystallinity晶状测量DTE; *O~D lf
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF _ 17"T0
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ^_uzr}LE`
etc. 等等 dq2v[? *R
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Typical applications典型应用:P V]2Q92
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OLED有机发光二级管薄膜 ~$B ,K]
Flat panel display平板显示器薄膜 y06 2/$*$
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 PLD! BD
Computer disks计算机磁盘薄膜 rYl37.QE
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 DWAU8>c+
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 6x 0>E^~
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 j^gF~ Wz^
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 0^=S:~G
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 ?k#% AM
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC #p]O n87>
etc. 等等 hY!G>d{J
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： DQSv'!KFO
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