| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 k+D32]b@
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 equ|v~@ y
网址:www.sci-soft.com QqF&l MH
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. ? ;q
A) 薄膜测量/测试 软件 h 2Kx
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) z~ Ec *
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 +nLsiC{&
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) ?E6*Ef
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ;|.~'' :
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 WNE=|z#|
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B) 薄膜测量 仪器 CH`_4UAX%
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ ^")SU(`
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ 7aV(tMz d
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b dxz.%a@PW
Standard Spectral Range标准光谱范围F eM>f #M
Reflection反射测量, tB,1+I=
Transmission透射测量5wIBS\ N~Kl{" >`
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY qaj~q(j~ C
Power Spectral Density功率谱密度测量a G"xa"hGF
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y vv 9=g*"j
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] \nX5 $[
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% ?6m6 4{M
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F ]O\m(of
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Energy band gap能量带隙测量U4r[n Fq-A vU
Composition成分测量c*'nh) ne~=^IRB
Crystallinity晶状测量DTE; #RyX}t X,
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF jTDaW8@L
Surface Roughness表面粗糙度测量L" _xHEA2e!
etc. 等等 nw)yK%`;M
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Typical applications典型应用:P ~boTh
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OLED有机发光二级管薄膜 oX;D|8 f
Flat panel display平板显示器薄膜 4ox[,
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 %GY U$aA
Computer disks计算机磁盘薄膜 |k3^
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Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 :*/'W5iM
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 (b]r_|'
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 7Zf
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Laser mirrors激光镜薄膜Op)` j$he5^GC
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 FA+'E
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC zx(=ArCRr
etc. 等等 Hp@nxtKxW
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： u=U. +\f5
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