| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 z<OfSS_]R
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 $ Gs|Z$(
网址:www.sci-soft.com En{<
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. Vc!'=&*
A) 薄膜测量/测试 软件 qnJs,"sn
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) $f AZ^
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 (05a 9
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) l,ic-Y1
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) ?U3~rro!
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 R c
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B) 薄膜测量 仪器 KZ 4G"
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ jqQG n"!
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ .#LvvAeh
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b n!h952"
Standard Spectral Range标准光谱范围F 4^7* R
Reflection反射测量, ZY*_x)h+#7
Transmission透射测量5wIBS\ AZv a
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY G8lTIs4u;
Power Spectral Density功率谱密度测量a FL[w\&fp
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y B pp(5
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 8TCbEPS@Q
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% >6:UWvV 1
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F z-m:l;
Energy band gap能量带隙测量U4r[n 7ZFd;-
Composition成分测量c*'nh) LfMN 'Cb
Crystallinity晶状测量DTE; ?i$MinK
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF ; ! B>b)%
Surface Roughness表面粗糙度测量L" ntn ~=oL
etc. 等等 y$+_9VzYB
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Typical applications典型应用:P "@ L|Z6U(
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OLED有机发光二级管薄膜 Qn \=P*j
Flat panel display平板显示器薄膜 9>ML ;$T&
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 +T HBPEq
Computer disks计算机磁盘薄膜 ;-VXp80J
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 & sgzSX
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 _ uZVlu@
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 a 1~ @m[
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` gM& 4Ur
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 lh- zE5 ;
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC }@vf=jm>
etc. 等等 @wh-.M D
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： KNSMx<G P
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 (S8hr,%n
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