| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 5$%XvM
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 {n&Uf{
网址:www.sci-soft.com [1SMg$@<
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. :^#vxdIC?
A) 薄膜测量/测试 软件 e>AXXUEf
pawl|Z'Ez
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) Juu+vMn1
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 `eR 7H>I
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) O,'#C\
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 8{
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FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 {$33B'wk
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B) 薄膜测量 仪器 - {{[cT I
) ,` 8eQC
SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ `N'V#)Pi
|>+uw|LtZ
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ t7* #[x)a
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b 50$W0L$
Standard Spectral Range标准光谱范围F ?aWx(dVQ
Reflection反射测量, d :rGyA]
Transmission透射测量5wIBS\ p!DP`Ouc3\
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 2 hq\n<
Power Spectral Density功率谱密度测量a q.W> 4 k
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y q7_+}"i
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 7u|B ](FS
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% -c+]Wm"\
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F X{Zm9T
Energy band gap能量带隙测量U4r[n iKAusWj
Composition成分测量c*'nh) !MV@)
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Crystallinity晶状测量DTE; Fe!9y2Mg
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF Z h' &-c_J
Surface Roughness表面粗糙度测量L" uMd. j$$
etc. 等等 =;ICa~`C;
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Typical applications典型应用:P ;gB `YNL
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OLED有机发光二级管薄膜 Bp_wnd
Flat panel display平板显示器薄膜 Z
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Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 <]U1\~j
Computer disks计算机磁盘薄膜 tj5giQ3DG)
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 @ D[` Oj)
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 r*XLV{+4
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 (CE7j<j
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` G;1?<3
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 K{=PQ XSU
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC %l !xkCKA
etc. 等等 <]d
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Z :nbZHByh
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 Vw~\H Gs/~
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