| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 %'=*utOxy
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 :x*)o+
网址:www.sci-soft.com :pqUUZ6x&
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. W-=6:y#A
A) 薄膜测量/测试 软件 56 3mz-
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) "tz u.V-
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 P2-&Im`+
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) g"evnp
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) " d_wu#fO)
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 >%j%Mj@8q|
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B) 薄膜测量 仪器 cQU;PH]
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ $')C &
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ *9aJZWf>V
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b
p+h$]CH
Standard Spectral Range标准光谱范围F g"! (@]L!@
Reflection反射测量, N T`S)P*?
Transmission透射测量5wIBS\ ~|V^IJZ22
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY j~ Aq-8R=
Power Spectral Density功率谱密度测量a 4+RR`I8$Ge
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y { qNP hi
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] +3)r
szb72
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% 2*|T)OA`m,
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F a#YK1n[!
Energy band gap能量带隙测量U4r[n Iux3f+ H
Composition成分测量c*'nh) ci~#G[_$S
Crystallinity晶状测量DTE; o|kykxcq
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF =&WIa#!=
Surface Roughness表面粗糙度测量L" zw/AZLS
etc. 等等 \CL8 ~
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Typical applications典型应用:P HZyA\FS
, QY$:f<
OLED有机发光二级管薄膜 gxv^=;2C
Flat panel display平板显示器薄膜 4 Z"}W!A
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 lB,1dw2(T
Computer disks计算机磁盘薄膜 $9)os7H7
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 fZG Y'o&5
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 C0wtMD:G
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 Yj/afn(Jt
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` gq7tSkH@
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 uE-(^u
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC d1<";b2Jt^
etc. 等等 YV
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