| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 p~A6:"8s`=
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 [gkOwU =?
网址:www.sci-soft.com <V
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. H~1o^
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A) 薄膜测量/测试 软件 S%6 V(L|
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) ^1\[hyZ!
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 LLV1W0VO=P
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) K%@#a}kRb
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) T/Bx3VWL
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 S=zW
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B) 薄膜测量 仪器 Xw'Y
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ df R?O#JPU
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ 4_KRH1
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b X-']D_f|,
Standard Spectral Range标准光谱范围F ( L
8V)1N
Reflection反射测量, D> 6vI
Transmission透射测量5wIBS\ TjWMdoU$J
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 0 8W^
Power Spectral Density功率谱密度测量a Yw6d-5=:
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y s $?u'}G3
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] 0ZJN<AzbA
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% *USzzLq
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F N
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Energy band gap能量带隙测量U4r[n ,AuejMd
Composition成分测量c*'nh) q+1SU 6x'm
Crystallinity晶状测量DTE; JfVGs;_,
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF _OY<Hb3%M
Surface Roughness表面粗糙度测量L" Aw,#oG {N
etc. 等等 Dy|DQ> ?}
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Typical applications典型应用:P E>L_$J -A-
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OLED有机发光二级管薄膜 FX&)~)
Flat panel display平板显示器薄膜 * <l9 d
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 qYbPF|Y=Z
Computer disks计算机磁盘薄膜 J?[}h&otQ
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 c]3^2Ag,
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 f' &
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 rT!9{uK
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 8
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Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 0$I!\y\
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC D ]zpG
etc. 等等 />[~2d
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： 'k!V!wcD^y
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 qp`G 5bw
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