| sbisna |
2009-06-22 18:38 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品 :I1bGa&I
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， d!,V"*S
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 F+9|D
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 >&p_G0-
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. pp/Cn4"w
1.多层厚度（1? 到 250 microns） D *heYh
2.折射率n w!%Bc]
3.吸收系数k F7a\Luae
4.双折射率 ! G,Ru~j5:
5.能隙（Eg） %]d^B |
6.表面粗糙度和损伤 }(ot IqE
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） d[jxU/.p;
8.薄膜温度特性 /SSl $
9.晶元曲率和薄膜耐压性 7(Z I]<
技术参数 9].!mpR
1. 厚度测试范围: 1? to 250 microns XVE(p3-
2. 重复性： ± 0°（△） $7,n8ddRy
3. 折射率精度： ± 2*10-5 |7%M:7 Q
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） 'Ko
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5. 入射角: 0°（70°可选） pM.>u/=X
6. 测试速度： 小于 15 s R /iB
7. 光斑直径： 小于 50 nm =f?| f
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 Z-Zox-I1}-
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： 9^>nZ6
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 9tq X77UK
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com yn"8Ma*
SCI 网址：http://www.sci-soft.com A03,X;S+
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