| opturn |
2009-06-10 10:34 |
光学薄膜设计软件Optilayer使用实例1：评估设计曲线
光学薄膜设计软件Optilayer使用实例：评估设计曲线 6"+/Imb-
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例:评估一四分之一波片的光谱特性: JZ# O"rF
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参数为：QWM@500, 12L 基底:GLASS(1.52)
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8K qrB!
层材料:MgF2(1.38),ZnS(2.3). J23Tst#s
|eD$eZ=m
Evaluation：新建工作目录：File_Problem，出现问题目录(Problem directory),输入目录名称，单击OK. 9qIdwDRY
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打开Datebase窗口并输入基底和层材料：Date_Design(Substrate或Layer Material都可) 出现Datebase窗口： D
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[attachment=18985] 5GD6%{\O
YE<_a;yh1
单击Substrate或Layer Material可分别输入基底和层材料，基底输入：单击NEW，输入基底名称， R"Q=U}?$
[attachment=18986] 21Z}Zj
I!IWmU6FN
单击OK,再在Re(n)栏输入基底折射率1.52, 再单击OK :r0?[#r?N,
[attachment=18987] l{ U-$}
S1 22.
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然后在Datebase窗口双击GLASS或单击选中GLASS再单击Load。即输入了基底GLASS，可于General Information窗口中查看。 lq2P10j @
[attachment=18988] =rBNEd
e1'<;;; L
同理，在Datebase窗口单击Layer Material，再输入层材料MGF2(1.38)和ZNS(2.3)。单击Design，再单击New输入设计名称，单击OK出现Design窗口，输入层数12，中心波长500： v-`RX;8
[attachment=18989] &A=>x
Fb#_(I[aj
单击OK，再Load该设计。Analysis_T&R&Phase，产生Evaluation图： 6?-v j2,
[attachment=18990] ?yKW^,q+
Xo[={2 _
在图上单击右键，选中Axis出现分析选项窗口 m jdZ ^
[attachment=18991] [a~|{~?8
H ]@M00C
可调节X和Y轴，单击Apply即生效。单击Plots ， 5a
moK 7
[attachment=18992] N*.JQvbnr
#R&D gt
在Char栏下把T改为R，单击Apply即可将图输出形式由透过改为反射。如图： iN\D`9 e
[attachment=18993] n[# ! Q`D
}eA2y($N
上图为垂直入射，我们同样可以显示有角度时的图形，Analysis_Options，再单击Plots（或在图形上单击右键再选中Plots）。 02Z># AE
[attachment=18994] TxZ ^zj
M7 R.? nk
单击Add，输入角度，颜色。单击Apply。如图： zcC X;N
[attachment=18995] Gi})*U]P|
mSSDV0Pfn
保存：Data_Save Design。
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