| sbisna |
2009-04-27 12:36 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 X &6p_Lo
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， ?t+Kp 9@aZ
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 q8.K-"f(Q
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 ,P< n\(DQ
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 7!`, P
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. /AP@Bhm
1.多层厚度（1? 到 250 microns） A|8(3PiP
2.折射率n RI"A'/56
3.吸收系数k (&FSoe/!['
4.双折射率 y!Q&;xO+!
5.能隙（Eg） C_Y^ <
6.表面粗糙度和损伤 |[?"$g9v
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） D`LcL|nmH
8.薄膜温度特性 <w.W[a k
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Qsc%qt-l
技术参数 5 d S5,
1. 厚度测试范围: 1? to 250 microns A5zT^!`[
2. 重复性： ± 0°（△） Dm[4`p@IY\
3. 折射率精度： ± 2*10-5 A\_cGM 2
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） RUmJ=i'4/
5. 入射角: 0°（70°可选） v*1UNXU\
6. 测试速度： 小于 15 s a="Z]JGk
7. 光斑直径： 小于 50 nm v3Y/D1jd"
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 / PAxPZf_
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Dg4 ?,{c9W
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 &'UY V>
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com Q9Wa@gi|
SCI 网址：http://www.sci-soft.com SqTO~zGC
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