首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 光电资讯及信息发布 -> 光学元件 镜头精密测量  MTF PSF EE [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

water-li 2009-04-10 00:14

光学元件 镜头精密测量  MTF PSF EE

光学精密测量产品概述 ~b|`'kU  
!HJ$UG/\  
光傲公司的光学测评产品线主要包括光学元件、光学系统的精密测量以及光电装备、系统的综合性能评价 'XUKN/.  
|J~eLh[d  
光学元件及系统精密测量 N9rBW   
92'wkS  
光傲公司代理的SpotOptics公司波前传感器是基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理。 SpotOptics是波前传感仪器的领先厂商,在波前传感的应用上技术领先,产品线齐全,针对多种应用领域提供完整的解决方案。在光学元件表面测量应用上,无论是只有几个毫米的DVD读写镜片,还是直径数米的天文望远镜,都可以得到理想的测试结果。SpotOptics的第一套波前测试系统即应用在意大利3.5m直径的伽利略( Galileo ) 天文望远镜测试项目上。1992年, 位于德国慕尼黑的欧洲南部天文观测台(European Southern Observatory )就使用了SpotOptics 提供的波前测试系统。因此我们在该领域不仅历史悠久,而且享誉业界。 sfVf@0g  
`:G%   
除了天文观测应用的Puntino系列产品外,SpotOptics还针对许多特殊行业应用设计、开发了针对性的基于波前探测技术的测试系统: <_./SC  
VNtPKtx\  
Laserino系列, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理,特别应用激光光束、光斑品质测量 6R29$D|HFO  
Lentino,  基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理,特别用于非球面透镜(aspherical lenses) 、相机镜头测试 j` /&r*zNq  
Sfera,  基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理, 特别用于手机摄像头镜头测试 ^R$'eG 4L?  
SpotOptics 波前测试仪器的一般特点 V=:_d,  
:b,^J&~/)1  
提供完整的解决方案,具有完整、独立的硬件系统,自带校正光源,多种测试附件可选 Zzl,gy70  
精心设计优化Lenslet Array,使系统的动态范围和取样数量之间达到最佳平衡 +/+P\O  
对试验条件宽松,对震动不敏感,几乎不受影响 ^5t  
测试过程简单,仪器调整、光学调整+测量,几分钟就 {hO`6mr&t  
分析软件 Sensoft 应用广泛、功能强大,显示内容丰富,操作界面简单 t%r :4,  
41 vL"P K  
可测试的光学元件和系统                                                                可测试评价的项目 AP\ofLmq  
透镜、非球面透镜                                                                      光学失常、像差测试 2~;&g?T6  
相机、手机摄像等镜头测试                                                              波前或表面重建 ]> Y/r-!  
棱镜                                                                                  光学元件透过率测试 1[;@AE2Y  
球面、非球面、平面镜                                                                  平面度测试 =qvZpB7ZZ  
各种滤光片                                                                            楔角测试 yO>V/5`  
隐形眼镜、眼科镜片                                                                    复杂光学系统对准 dy>|c j  
复杂光学系统                                                                          准直 r++i=SQax  
平视显示系统(HUD)                                                                  焦长测试 h.whjiCFa  
研磨板                                                                                MTF (调制传递函数) mi2o1"Jd$`  
晶圆(wafer)                                                                                                                                                    PSF                                                                                                                                                 (a6?s{(  
激光 Ok%}|/ P4  
NgB 7?]vu  
华南区销售代表李建峰 ^`qPs/b  
MAIL:water-li@light-all.com .]}N55M  
Mobile:13802252615 T_OF7?  
All For Light---光傲科技股份有限公司 [ev-^[  
上海市徐汇区宜山路515号环线广场1号楼12层F座 P l{QOR  
Tel:+86-21-51029613 64827985 Fax:+86-21-64827995
查看本帖完整版本: [-- 光学元件 镜头精密测量  MTF PSF EE --] [-- top --]

Copyright © 2005-2024 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计