water-li |
2009-04-10 00:14 |
光学元件 镜头精密测量 MTF PSF EE
光学精密测量产品概述 M+poB+K. d
yh<pX/$ 光傲公司的光学测评产品线主要包括光学元件、光学系统的精密测量以及光电装备、系统的综合性能评价 @vRwzc\ *0y{ ~@ 光学元件及系统精密测量 S8" f]5s dU]/$7 光傲公司代理的SpotOptics公司波前传感器是基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理。 SpotOptics是波前传感仪器的领先厂商,在波前传感的应用上技术领先,产品线齐全,针对多种应用领域提供完整的解决方案。在光学元件表面测量应用上,无论是只有几个毫米的DVD读写镜片,还是直径数米的天文望远镜,都可以得到理想的测试结果。SpotOptics的第一套波前测试系统即应用在意大利3.5m直径的伽利略( Galileo ) 天文望远镜测试项目上。1992年, 位于德国慕尼黑的欧洲南部天文观测台(European Southern Observatory )就使用了SpotOptics 提供的波前测试系统。因此我们在该领域不仅历史悠久,而且享誉业界。 l!?yu]Yon *%!M4& 除了天文观测应用的Puntino系列产品外,SpotOptics还针对许多特殊行业应用设计、开发了针对性的基于波前探测技术的测试系统: BLn_u,3 #y1Bx, Laserino系列, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理,特别应用激光光束、光斑品质测量 +ZA)/ Lentino, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理,特别用于非球面透镜(aspherical lenses) 、相机镜头测试 %2"J:0j Sfera, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理, 特别用于手机摄像头镜头测试 0{+.H_f` SpotOptics 波前测试仪器的一般特点 /=)L_ ^lj7( 提供完整的解决方案,具有完整、独立的硬件系统,自带校正光源,多种测试附件可选 B=n[)"5fBO 精心设计优化Lenslet Array,使系统的动态范围和取样数量之间达到最佳平衡
q0&$7GH4 对试验条件宽松,对震动不敏感,几乎不受影响 ])w[ 测试过程简单,仪器调整、光学调整+测量,几分钟就 <
Ek/8x 分析软件 Sensoft 应用广泛、功能强大,显示内容丰富,操作界面简单 W.I\J<=V y('k`>C 可测试的光学元件和系统 可测试评价的项目 h3!$r~T!a: 透镜、非球面透镜 光学失常、像差测试 =\};it{u 相机、手机摄像等镜头测试 波前或表面重建 ?9mkRd}c 棱镜 光学元件透过率测试 R)5n 8 球面、非球面、平面镜 平面度测试 ''H"^oS 各种滤光片 楔角测试 mchJmZ{A 隐形眼镜、眼科镜片 复杂光学系统对准 6C [E 复杂光学系统 准直 O
o8qyW 平视显示系统(HUD) 焦长测试 DyO$P#~? 研磨板 MTF (调制传递函数) CnISe^h 晶圆(wafer) PSF 9GU]l7C=z 激光 @1-F^G%p8 -!e7L>w 华南区销售代表李建峰 Vh|\ _~9 MAIL:water-li@light-all.com $}GTG'*. Mobile:13802252615 IiJZ5'{ All For Light---光傲科技股份有限公司 :E&g%'1 上海市徐汇区宜山路515号环线广场1号楼12层F座 N&,]^>^u Tel:+86-21-51029613 64827985 Fax:+86-21-64827995
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