| sbisna |
2009-02-23 14:04 |
代理SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品
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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 :ot^bAyt|
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， GI
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 Nj^:8]D)0
1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 *%#Sa~iPo
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 {~y,.[G a
2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. 6`JY:~V"
1.多层厚度（1Å 到 250 microns） ER'zjI>t@
2.折射率n >%?kp[
3.吸收系数k
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4.双折射率 ih[! v"bv
5.能隙（Eg） ^F? }MY >
6.表面粗糙度和损伤 Ig{
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7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） |}0 7tUq
8.薄膜温度特性 &$V&gAN
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Pf/_lBtL
技术参数 _=Eb:n+X
1. 厚度测试范围: 1Å to 250 microns 5Kw$QJ/
2. 重复性： ± 0°（△） @}oY6cW;B*
3. 折射率精度： ± 2*10-5 Xk]:]pl4W
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） t~0!K;nn
5. 入射角: 0°（70°可选） m,X8Cy|vQ
6. 测试速度： 小于 15 s ~#SLb=K
7. 光斑直径： 小于 50 nm G p.XTz#=
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 ~B 704i
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Gkr?M^@K
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 5IJm_oy
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com 0hB9D{`,{
SCI 网址：http://www.sci-soft.com >DSD1i+N
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