| sbisna |
2009-02-23 14:04 |
代理SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品
~z:] rgX
G%I
.u
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 :(A&8<}-6
NA0nF8ek
美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， }<^mUG
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 Eiu/p&ct
1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 KA?}o^-F
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 gxl7j Y
2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. 0#WN2f, <:
1.多层厚度（1Å 到 250 microns） -FJ3;fP&
2.折射率n _{jC?rzb
3.吸收系数k ]AYP\\Xi
4.双折射率 1'o[9-
5.能隙（Eg） ;M.Q =#;E
6.表面粗糙度和损伤 t1w]L
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） o-@01_ j
8.薄膜温度特性 I B;yL/T
9.晶元曲率和薄膜耐压性 }[akj8U
技术参数 @*y4uI6&
1. 厚度测试范围: 1Å to 250 microns e6taQz@}
2. 重复性： ± 0°（△） v":q_w <k
3. 折射率精度： ± 2*10-5 :GIBB=D9
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） [\W&
5. 入射角: 0°（70°可选） %'1iT! g8
6. 测试速度： 小于 15 s N~,Ipf
7. 光斑直径： 小于 50 nm Rt?CE jy
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 (}39f
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： a>OYJe
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 )7
Mss/2T
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com vQ}ZfP
SCI 网址：http://www.sci-soft.com 7Vy_Cec1
|
|