| sbisna |
2009-02-23 14:04 |
代理SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品
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EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 ( we)0AxF'
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， D A_ }pS"
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 ,4--3 MU
1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 p!>DA?vF
应用实例，目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 x@#aOf4<U
2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. e82xBLx R%
1.多层厚度（1Å 到 250 microns） buKSZ
2.折射率n MnTJFo"
3.吸收系数k &t:~e " 5<
4.双折射率 7A"v:e
5.能隙（Eg） ^?5Ha gA
6.表面粗糙度和损伤 ,{2= nb[
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） D=@bP B>
8.薄膜温度特性 s ZPyEIXie
9.晶元曲率和薄膜耐压性 F [KM0t!
技术参数 F4PW L|1
1. 厚度测试范围: 1Å to 250 microns (tvfF0~
2. 重复性： ± 0°（△） =A{s,UP
3. 折射率精度： ± 2*10-5 kX%vTl7F
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） P:%r3F
5. 入射角: 0°（70°可选） 8_/, `}9
6. 测试速度： 小于 15 s ek 1<9" y
7. 光斑直径： 小于 50 nm ` *",_RO;
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 BU.O[ ?@64
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： P,@/ap7J
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 MO@XbPZB
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com ^cCNQS }r
SCI 网址：http://www.sci-soft.com MO%+rf0~w
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