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2008-11-14 23:43 |
扫描电子显微镜基础知识分享
一、 扫描电子显微镜的工作原理 `5Y*)
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U.Jaai: 扫描电镜(Scanning Electron Microscope)是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。试样为块状或粉末颗 粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。其中二次电子是最主要 的成像信号。由电子枪发射的能量为 5 ~ 35keV 的电子,以其交 叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度 和束斑直径的微细电子束,在扫描线圈驱动下,于试样表面按一定时间、空间顺 序作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作用,产生二次电子发射(以及其它物 理信号),二次电子发射量随试样表面形貌而变化。二次电子信号被探测器收集 转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的 显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。 <h#*wy:o2 [attachment=15211] FV^jCseZ Q#g`D,:o%~ 二、扫描电镜具有以下的特点 KFrsXf +CSpL2@ (1) 可以观察直径为0 ~ 30mm的大块试样(在半导体工业可以观察更大直径),制样方法简单。 F6\{gQ<E (2) 场深大、三百倍于光学显微镜,适用于粗糙表面和断口的分析观察;图像富有立体感、真实感、易于识别和解释。 aXe&c^AR (3) 放大倍数变化范围大,一般为 15 ~ 200000 倍,对于多相、多组成的非均匀材料便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。 Dz }i-tw+ (4) 具有相当高的分辨率,一般为 3.5 ~ 6nm。 &=@{`2& (5) 可以通过电子学方法有效地控制和改善图像的质量,如通过调制可改善图像反差的宽容度,使图像各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图像选择器,可在荧光屏上同时观察不同放大倍数的图像或不同形式的图像。 &_L@hsm (6) 可进行多种功能的分析。与 X 射线谱仪配接,可在观察形貌的同时进行微区成分分析;配有光学显微镜和单色仪等附件时,可观察阴极荧光图像和进行阴极荧光光谱分析等。 !Tnjha* (7) 可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验,观察在不同环境条件下的相变及形态变化等。 &da=hc,>% "to!&@I|
4 三、扫描电镜的主要结构 qDdO-fPev [> HKRVy 1.电子光学系统:电子枪;聚光镜(第一、第二聚光镜和物镜);物镜光阑。 m.<_WXH 2.扫描系统:扫描信号发生器;扫描放大控制器;扫描偏转线圈。 5H3o?x 3.信号探测放大系统:探测二次电子、背散射电子等电子信号。 65LtCQ} 4.图象显示和记录系统:早期SEM采用显象管、照相机等。数字式SEM采用电脑系统进行图象显示和记录管理。 3%POTAw% 5.真空系统:真空度高于 10 -4 Torr 。常用:机械真空泵、扩散泵、涡轮分子泵 p(F@lL- 6.电源系统:高压发生装置、高压油箱。 j,YrM?Xdo E+L7[ 四、扫描电镜主要指标 !JCs'?A
$ f:uBhM 1.放大倍数 M=L/l tJ(xeb OUulG16kK 2.分辨率(本领) I\)`,w bDl:,7; 影响分辨本领的主要因素:入射电子束斑的大小,成像信号(二次电子、背散射电子等)。 "tyRnUP 3BMz{ny= 3.扫描电镜的场深 b**vUt\ MzvhE0ab 扫描电镜的场深是指电子束在试样上扫描时,可获得清晰图像的深度范围。当一束微细的电子束照射在表面粗糙的试样上时,由于电子束有一定发散度,除了焦平面处,电子束将展宽,场深与放大倍数及孔径光阑有关。 ?mH=3
:~ UQ0!tFx 五、试样制备 mb*Yw6q s< | |