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| skype | 2008-04-14 21:04 |  
| 光学检查技术及仪器
随着电子技术的飞速发展,封装的小型化和组装的高密度化以及各种新型器件的不断涌现,对装联质量的要求也越来越高,于是对检查的方法和技术提出了更高的要求。 |cgui 8vSIf+
 为满足这一要求,新的检测技术不断出现。以下主要从光学检查方面说明光学技术在制程工艺上的应用。 ,F9nDF@)
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 1.光学放大镜 nZ	 
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 放大镜主要用于目检,大批快速的检查。 
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 利用目检和套板来检查墓碑、缺件、 多件、 假焊等问题,方便快速,成本也很低,是生产线使用最普遍的一种方法。 DpvrMI~I_
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 其次还可以用来观察一些肉眼无法看出的隐蔽性焊接故障。 <cj{Qk
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 2.显微镜 'SV7$,mK@
 如果同一个地点重复出现不良的现象,就需要对该地点做进一步的分析。 q.W>4 k
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 显微镜此时就发挥了它的强大功能,它的高倍放大效果可以帮助你看清元件或者PCB上产生的微小裂纹、偏差、异物、焊料球、焊锡表面呈凸球状、焊锡与SMD不相亲融等等缺陷。 s`;f2B/|
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 3.SPI锡膏检测仪 pW|u	P8#
 SMT工艺控制最重要环节之一:印锡。  6Hf,6>
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 印锡质量的检测,就要用锡膏检测仪来分析、反馈,然后调整印刷参数,提高印锡质量。 VaR/o#
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 4.AOI自动光学检查仪 7lA:)a_!]
 AOI检测分为两部分:光学部分和图像处理部分。 v("wKHWTI@
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 通过CCD照相的方式获得器件或PCB的图象,然后经过计算机的处理和分析比较来判断缺陷和故障,可以测量元件偏位、缺件、空焊、墓碑、反位、反白、短路、错件、损件、侧立等缺陷。 S
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 图像处理部分需要很强的软件支持,因为各种缺陷需要不同的计算方法用电脑进行计算和判断。 <]d
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 AOI可放置在印刷后、焊前、焊后不同位置,只能作对外观检测。其优点是检测速度快,编程时间较短,可以放到生产线中的不同位置,便于及时发现故障和缺陷,使生产、检测合二为一。可缩短发现故障和缺陷时间,及时找出故障和缺陷的成因。因此它是目前采用得比较多的一种检测手段。  s\3q!A?S3
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 5.AXI自动X射线检查仪 .F2:!h$
 AXI检测原理 XKU=oI0\j
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 AXI是近几年才兴起的一种新型测试技术。当组装好的线路板(PCBA)沿导轨进入机器内部后,位于线路板上方有一X-Ray发射管,其发射的X射线穿过线路板后被置于下方的探测器(一般为摄像机)接受,由于焊点中含有可以大量吸收X射线的铅,因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的X射线相比,照射在焊点上的X射线被大量吸收,而呈黑点产生良好图像,使得对焊点的分析变得相当直观,故简单的图像分析算法便可自动且可靠地检验焊点缺陷。 r>t1	_b+nu
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 AXI是近几年才兴起的一种新型测试技术。当组装好的线路板(PCBA)沿导轨进入机器内部后,位于线路板上方有一X-Ray发射管,其发射的X射线穿过线路板后被置于下方的探测器(一般为摄像机)接受,由于焊点中含有可以大量吸收X射线的铅,因此与穿过玻璃纤维、铜、硅等其它材料的X射线相比,照射在焊点上的X射线被大量吸收,而呈黑点产生良好图像,使得对焊点的分析变得相当直观,故简单的图像分析算法便可自动且可靠地检验焊点缺陷。
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