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2009-07-24 13:55 |
世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro sQW$P9s
c R`=IYnoOA 重要特色介紹: QC>I<j&`! #r 1
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J[6qj a AYO(;3 HCQv"i}- TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 pfg"6P f
; |[ TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 `< y[V `(aU_r= )Y~q6D K TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 d%9I*Qo0, x@.iDP@( /6F 1=O(c> 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 BieII$\P%P !_<. 6ja `ZN@L<I6 u]E% R& -------------------------------------------------------------------------------- G%ycAm 0]8+rWp|Nz TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: `]]gD EPG{ ]Ke|wRQD &.kg8|s{ 顯示器產業: 5:|5NX[.b 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 v Xio1hu 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 7x9YA$IE 3. 可進行增亮膜的光場分析。 UE7P =B 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 EBzg<-?o 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 e^~t52] $qQ6u! (#c5Q& | |