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infotek 2026-08-18 11:04

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 !N'HL-oT  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 ;9$71E  
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1. 案例 cK.z&y0]  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 ?/|KM8  
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1. 系统构建模块 h0a|R4J  
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2. 组件连接器 LY;Fjb yU  
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几何光学仿真 fLS].b]1N  
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以光线追迹 o3YW(%cYR  
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1. 结果:光线追迹 e2^TQv2(=e  
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快速物理光学仿真 7YFEyX10d  
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以场追迹 l"-Z#[  
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1. NA=1.4时的光栅成像 Z+=M_{`{  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 h0$Y;=YA  
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3. NA=0.5时的光栅成像 ALj~e#{;z  
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文件信息 u'nQC*iJb  
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