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infotek 2026-08-18 11:04

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 M*qE)dZjS  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 n{<}<SVY  
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1. 案例 LxGD=b  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 -`{W~yz  
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1. 系统构建模块 MZX)znO  
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2. 组件连接器 Rc{R^5B  
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几何光学仿真 $z*"@  
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以光线追迹 fap]`P~#L  
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1. 结果:光线追迹 YaSBIq{z  
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快速物理光学仿真 rjWtioZEa  
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以场追迹  XD8 I.q  
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1. NA=1.4时的光栅成像 hp/pm6  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 @$^4Av-  
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3. NA=0.5时的光栅成像 &}Wi@;G]2  
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文件信息 s#aj5_G  
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